Efficient Test Data Compression Method

효율적인 테스트 데이터 압축 방법

This pape presents the efficient test data compression method considering test power dissipation in scan test of IP core. There are many researches about test data compression using scan slice selective encoding except power dissipation. We present the new algorithm that assigns the don't care value to be a minimal hamming distance between adjacent slices. Experimental results show that the power dissipation is reduced.

본 논문에서는 IP 코어(core)의 스캔 테스트(scan test)에 있어서 테스트 전력소모를 고려한 효율적인 테스트 데이터 압축방법을 제안한다. 스캔 슬라이스(Scan slice)의 선택적 부호화를 이용한 테스트 데이터 압축에 대한 연구는 많이 진행되어 왔으나 전력소모를 고려하진 않았다. 스캔 슬라이스의 don't care에 값을 할당할 때, 이웃한 슬라이스와 해밍거리가 최소화 되도록 값을 할당하여 스위칭 전력소모가 최소가 되도록 하였다. 테스트 회로에 적용하여 알고리즘을 검증하였다.