A Study on the Outlier Improvement Method Using Cost Function

비용 함수를 이용한 오 정합 개선 기법에 관한 연구

  • Paik, Yaeung-Min (Department of Electronic Materials Eng, Kwangwoon University) ;
  • Choi, Hyun-Jun (Department of Electronic Materials Eng, Kwangwoon University) ;
  • Seo, Young-Ho (Department of Electronic Materials Eng, Kwangwoon University) ;
  • Kim, Dong-Wook (Department of Electronic Materials Eng, Kwangwoon University)
  • 백영민 (광운대학교 전자재료공학과) ;
  • 최현준 (광운대학교 전자재료공학과) ;
  • 서영호 (광운대학교 전자재료공학과) ;
  • 김동욱 (광운대학교 전자재료공학과)
  • Published : 2009.11.14

Abstract

본 논문에서는 변이지도의 정확도 향상을 위하여, 비용 함수를 이용한 교차 일치성 검사 기법을 제안하고, 다양한 조건의 실험을 통하여 제안한 알고리듬이 효율적임을 보였다. 좌우 변이정보를 이용하는 교차 일치성 검사로 오정합을 검출하는 방법을 시도해왔다. 하지만 이러한 방법은 물체의 경계에서 발생하는 오정합을 찾기가 어렵다. 본 논문에서는 최종 변이의 신뢰도 향상을 위해 교차 일치성 검사의 정확도를 높이는 방법을 제안하였다. 일반적으로 영역 기반 스테레오정합 방법은 물체의 경계에서 정확도 높지 못하다. 이러한 문제점을 해결하기 위해 정합창의 크기를 늘리거나 특징 점을 이용한 적응적 가변 정합창을 적용하는 방법을 시도하였다. 하지만, 여전히 기존 교차 일치성 검사를 통한 오정합 검출은 부정확하다. 이러한 영역의 비용 함수 값들을 비교한 결과 첫 번째와 두 번째 값의 차이가 적거나 크게 나타난다. 제안한 방법은 기존 방법에 비해 오정합 검출 능력을 향상 시킨다. 제안한 방법의 결과를 확인하기 위해 스테레오 비전에서 많이 사용되는 영상을 적용하고 분석하였다. 또한, 기존 교차 일치성 검사 방법과 제안한 방법의 객관적으로 비교하기 위해 전체 영역에 대한 오차율 (error ratio)과 교차 일치성 검사로 유효하다고 판단된 변이 값 중 실제 변이 값과 일치하지 않은 변이값의 오차율을 비교하였다. 실험 결과 기존 방법에 비해 제안한 방법이 1~5%정도 낮은 오차율을 보였다

Keywords