The cleaning process to remove small particles, ions, and other polluted sources is one of the major parts in the recent semiconductor industry because it can cause fatal errors on the quality of the final products. According to the other reports, the major factors of bath's fluid motion are the cleaning method, nozzle, the geometry (of bath, guide and wafer), and the position (of guide and wafer). So to enhance cleaning efficiency in the bath, these factors must be controlled. The purpose of this study is to analyze and visualize fluid motion in the cleaning bath as basic data for designing the nozzle system and finding the process control parameters. For that, we used the general CFD code FLUENT.
High speed presses with high resolution in semiconductor lead frame manufacturing process are needed . But high speed operation accompanies mechanical vibration. therefore optimized kinematic structure to minimize vibration is required for a high speed press. And the growing competition in the industry asks a press with low cost, high speed, high resolution, and high pressing force, For this purpose a high speed press was modeled with 3D CAD solid modeling system and dynamic analysis were performed with CAE S/W for multibody dynamic analysis, Through these analyses a motor appropriate to a high speed press was selected and link structure for feeding system of the press was modified to reduce vibration. To perform this analysis working Model which is 2D kinematics and dynamic analysis software was used.
Recently, in the semiconductor industry, memory device market is focusing on producing ultra-thin wafers for high integration. In the wafer manufacturing process, wafers after backgrinding and CMP process must be picked up as individual dies and subjected to be peeled off from the dicing tape. However, ultra-thin dies are vulnerable to the possibility of breakage and failure in their thickness and size. This research studies the mechanism of peeling a die with a high-aspect ratio using a thermopneumatic method instead of a die ejector with physical pins. Setting compressed air and the temperature as main factors, we determine the success of the digester using thermopneumatic system and analyze the good die to find the possibility of making mass-production equipment.
Nowadays, economic growth of China has become an important issue. Due to the demographic position and the market size, China-Korea trade relationship has grown tremendously and significantly. The Chinese relationship with the Korean industry has considerably increased over the years. Various trade competitiveness indices such as TSI, MRCAI, and IITI have been applied to measure the competitive advantage and the complementary of market structure between these two countries. For this purpose, the dataset from the year 2000 to 2008 provided by KITA were used. The MRCAI result show that Korea has specialized in the product of semiconductor, communication equipment, precision machine, automobile, and nonferrous metal. The intra-industry trade level of Korean manufacturing industry is rising in line with the dominance of vertical intra-industry trade(VIIT) trend.
최근 방사선을 이용한 반도체 검사장비 산업의 증가로 이에 대한 기술 연구 수요 또한 증가하고 있다. 반도체 검사장비는 저에너지 엑스선으로 최저 40 keV에서 최고 120 keV의 에너지 영역을 사용하고 있지만, 국내에서는 저에너지 엑스선이 주는 방사선 손상 연구가 미흡한 상황이다. 따라서 본 연구는 저에너지 엑스선을 이용하여 반도체 소자의 한 종류인 BJT (bipolor junction transistor)가 받는 방사선 손상에 관한 것이다. BJT는 NXP반도체사의 BC817-25(NPN type)를 사용하였으며, 엑스선 발생장치를 사용하여 엑스선을 조사하였다. BJT의 방사선 손상 여부는 엑스선 조사 전과 후에 전류 이득을 10으로 고정하고, 콜렉터 전류에 따른 콜렉터-이미터 전압을 측정하여 변화 정도를 분석하여 확인하였다. 엑스선 발생장치의 관전압은 40 kVp, 60 kVp, 80 kVp, 100 kVp, 120 kVp 등 다섯 가지로, 조사 시간은 60초, 120초, 180초, 360초, 540초 등 다섯 가지로 변수를 두었다. 실험 결과 BJT에서 저에너지 엑스선 즉, 120 keV 이하의 엑스선을 조사하여도 방사선 손상이 발생하는 것을 확인하였고, 특히 80 kVp에서 가장 큰 방사선 손상이 발생되었다. 이는 ELDRS (enhanced low dose rate sensitivity) 현상이 80 kVp을 기준으로 발생되는 것으로 판단된다. 본 연구의 결과는 저에너지 엑스선을 이용한 반도체 검사장비의 효율적인 선량관리와 엑스선 여과기의 연구 및 개발에 기여할 것으로 기대한다.
In the semiconductor equipment industry, the SECS/GEM protocol has been recognized as the communication standard, but in our 300mm wafer aligner being developed, this capability has not been equipped yet. In this study, we present the realization of SECS-I, SECS-II and HSMS communication protocol between factory host computer and wafer aligner. Its validity is shown in actual test environment.
Recently, electronic equipments become smaller, more functional, and more complex than before. As these trends, MLC(multi-layer ceramic) circuit has been emerged to a promising technology in semiconductor inspection industry. Especially, multi-layer ceramic which is consisted of many fine-pitch multi-hole is used to produce a semiconductor inspection unit. The hole is processed by UV laser. But, working conditions are changed all the time. Therefore real time measurement of fine-pitch multi-hole is very important method for ensuring performance. In this paper we found the best method for illuminating and auto focusing. And, we verified our equipment.
There have been 3E problems of energy, economy and environment since the earth has its history. Especially, the energy and environment problems have been getting serious after the modern industry revolution. Therefore, the demand of gas as an eco-friendly energy source is getting increased. With the demand of gas, the installation and use of gas boiler is also increased, so human life injury by the waste gas(CO) of boiler goes on increasing every year. It is the content about a life of the exhaust tube which is used at Gas boiler in this paper. We explain also the course to apply the 6SC(6 Step Creativity) of practical TRIZ and evaluate the re solution.
This article contains the development of FPC bonder that used for repair or trial product. Nowadays, in FPO module process (including PDP) accept the thermo-compress bonding method when attach FPC(Flexible Printed Circuit Board), TCP(Tape Carrier Package) and COF(Chip on the FPC) by ACF(Anisotropic Conductive Film). This system consists of ACF attachment part, pre-bonding part, main bonding part, loading / unloading part. This composition is a stand-alone system, not an in-line system. Hereafter, this composition should be developing into in-line system in all area of FPD industry.
Linear motor can directly apply to the system needed linear mot ions without rotary mot ions. To control a high-speed and high-resolution, the development of the linear motors is recently required in the high-integrated and speed process industry. This paper presents vibration analyses as well as measurement standards of the newly developed linear motors through analyzing the vibration characteristics and thermal behaviors of the advanced products. Vibration experiments are conducted for identifying the hysteresis and vibration level during operation. They are also included in the modal test to analyze the vibration. Analytic data using Finite Element Method (FEM) are compared with the results of the modal. Loss of temperature generated the linear motor leads to a serious deformation within its parts. The thermal behaviors are very important factor in linear motor. The FEM and experiments make it possible to understand these characteristics.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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