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Ge-Se의 스위칭 특성 향상을 위한 Sb-doping에 관한 연구 (Electrolyte Mechanizm Study of Amorphous Ge-Se Materials for Memory Application)

  • 남기현;정홍배
    • 한국전기전자재료학회:학술대회논문집
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    • 한국전기전자재료학회 2009년도 하계학술대회 논문집
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    • pp.69-69
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    • 2009
  • In other to progress better crystallization transition and long phase-transformation data of phase-change memory (PRAM), we investigated about the effect of Sb doping and Ag ions percolating into Ge-Se-Te phase-change material. Doped Sb concentrations was determined each of 10 wt%, 20 wt% and 30 wt%. As the Sb-doping concentration was increased, the resistivity decreased and the crystallization temperature increased. Ionization of Ag was progressed by DPSS laser (532 nm) for 1 hour. The resistivity was more decreased and the crystallization temperature was more increased in case of adding Ag layer under Sh-(Ge-Se-Te) thin film. At the every condition of thin films included Ag layer more stable states were indicated compare with just Sh-doped Ge-Se-Te thin films.

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신뢰성 데이터 수집 및 분석을 위한 SPR/SCR 관리 시스템의 설계 및 구현 (The Dessing and Implementation of the SPR/SCR Management System for Reliability Data Collection and Analysis)

  • 이창희;한판암
    • 한국정보처리학회논문지
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    • 제4권2호
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    • pp.409-429
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    • 1997
  • 소프트웨어를 개발하고 운영하는 동안 직면하는 문제들은 소프트웨어나 하드웨어 또는 운영의 결함에 기인한다. 이들의 다양성 문제, 문제들을 조정하고 체계적으로 원인을 규명하기 위한 문제 발생의 규명 및 수정 작업을 중심적으로 관리하는 시스템이 요구 되고 있다.본 논문에서는 소프트웨어 개발 수명 주기(Softwate Development Life Cycle :SDIC)에서 획득할 수 있는 결함 데이터(Fault Data) 프로세스 데이터(Precess Data) 프로덕트 데이터(Preduct Data)를 수집하고 분석하기 위한 소프트웨어 문제 보고서 (Software Change Report:SCR)를 처리하는 SPR/SCR 관리시스를 개발하고 적용하였다. SPR/SCR 관리 시스템의 목적은 4가지가 있다. 첫째로 모든 소프트웨어 결함들을 문서 화하고, 수정하며 무시않는다. 둘째로 SPR의 타당성에 대해 평가된다. 셋째로 SPR의 진행 상태를 개발자 또는 사용자에게 피드백한다., 넷째로 소프트웨어 품질과 신뢰성을 예측하고 측정하기 위한 기본 자료를 제공한다. 이들 목표는 SRE/SCR 관리시스템의 적용에 의해 충족시킬 수 있다. 또한 소프트웨어 신뢰성의 달성 비욜, 테스트의 종료기준, 릴 리 즈 시기의 예측, 효율적인 개발 관리에 반영될 수 있다.

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