ZnS doped borosilicate glass for nonlinear optical application was prepared by melting and precipitation process. The optical band gap of the precipitated ZnS particles ranged from 3.83 to 3.96 eV compared with the bulk ZnS energy gap of 3.53 eV. This result was interpreted in terms of a quantum confinement effect due to small crystal size. ZnS partilcle size estimated by effective mass approximation ranged from about 39 to 83 $\AA$ It increased wtih the increase of heat tratment time and temperature.
Journal of the Microelectronics and Packaging Society
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v.12
no.1
s.34
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pp.73-76
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2005
To widen the band gap of ZnO, we have investigated $Zn_{1-x}Mg_xO(ZMO)$ thin films prepared by pulsed laser deposition on c-plane sapphire substrates at $500^{\circ}C$. From X-ray diffraction patterns, ZMO films show only the (0002) and (0004) diffraction peaks. It means that the flints have the wurtzite structure. Segregation of ZnO and MgO phases is found in the films with x=0.59. All the samples are highly transparent in the visible region and have a sharp absorption edge in the UV region. The shift of absorption edge to higher energy is observed in the films with higher Mg composition. The excitonic nature of the films is clearly appeared in the spectra for all alloy compositions. The optical band-gap ($E_g$) of ZMO films is obtained from the ${\alpha}^2$ vs Photon energy plot assuming ${\alpha}^2\;\propto$ (hv - $E_g$), where u is the absorption coefficient and hv is the photon energy. The value of $E_g$ increases up to 3.72 eV for the films with x=0.35. It is important to adjust Mg composition control for controlling the band-gap of ZMO films.
[ $CuInS_2$ ] filims were appeared from 0.84 to 1.27 of Cu/In composition ratio and sulfur composition ratios of $CuInS_2$ thin films fabricated, Also when Cu/In composition ratio was 1.03, $CuInS_2$ thin film with chalcopyrite structure had the highest XRD peak (112). And lattice constant (a) of and grain size of the film tin s ambient were appeared a little larger than those in only Vacuum The films in S ambient were p-type with resistive of around $10^{-1}{\Omega}cm$ and optical energy band gaps of the films in S ambient were appeared a little larger than those in only Vacuum. Analysis of the optical energy band gap of $CuInS_2$ thin films a value of 1.53eV.
Metal-doped $TiO_2$ thin films were prepared on soda-lime-silica glass substrates by using a spin coating-pyrolysis process. As-deposited films were prefired at $500^{\circ}C$ or 10 min in air. Five-coated films were finally annealed at $600^{\circ}C$ for 30 min in air. High resolution X-ray diffraction, field emission scanning electron microscope and UV spectrophotometer were used to analyze film's property. The largest red shift in optical energy gap is obtained in the Fe-doped $TiO_2$ film.
Journal of the Korean Institute of Telematics and Electronics D
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v.34D
no.5
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pp.22-31
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1997
We have measured the optical properties, thickness, and energy band gap of the P $b_{1-x}$/100/L $a_{x}$100/ $Ti_{1-}$0.25x/100/ $O_{3}$ (PLT(x)) thin film prepared by the sol-gel method with varying the La concentration, x, fyom 15 nto 33 mol%. We have obtained the values from the tranmission spectrum and employed the envelope method in anayzing the spectrum. We have also performed the simulation of the transmission spectrum on the PC (personal computer) to verify the accuracy of the values 15 to 33mol%, the refractive index (at .lambda.=632.8nm) increases from 2.39 to 2.44. The extinction coefficient does not depend on the la concentration but mainly on te wavelength, and has the values between 0.2 and 0.5 at the wavelength shorter than 330nm and between 0.001 and 0.008 at the wavelength longer than 700nm. The energy band gap of the PLT (x) thin film has been obtained on the assumption of the direct band-to-band transition. It decreases from 3.28 to 3.17eV as the La concentration increases from 15 to 33 mol%. The thickness of the PLT(x) thin film has been also obtained in high accuracy by the envelope method..
Kim, D.T.;Park, K.H.;Hyun, S.C.;Bang, T.H.;Kim, N.O.;Kim, H.G.
Proceedings of the Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers Conference
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2006.05a
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pp.27-30
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2006
In this paper, the undoped and Co-doped $Zn_4SnSe_6$ single crystals grown by the chemical transporting reaction(CTR) method using iodine as a transporting agent are investigated. For the crystal growth, the temperature gradient of the CTR furnace was kept at $680^{\circ}C$ for the source zone and at $780^{\circ}C$ for the growth zone for 7days. It was found from the analysis of x-ray diffraction that the $Zn_4SnSe_6$ and $Zn_4SnSe_6Co^{2+}$ compounds have a monoclinic structure. The direct optical energy band gap of the $Zn_4SnSe_6$ and $Zn_4SnSe_6Co^{2+}$ single crystals at 300K were found to be 2.146eV and 2.042eV.
Hussain, Muzammil;Mazhar, Muhammad;Rauf, Muhammad Khawar;Ebihara, Masahiro;Hussain, Tajammal
Bulletin of the Korean Chemical Society
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v.30
no.1
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pp.92-96
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2009
A new precursor [$Zr(acac)_{3}(H_{2}O)_{2}$] was synthesized by Sonochemical technique and used to deposit thin $ZrO_{2}$ film on quartz and ceramic substrate via ultrasonic aerosol assisted chemical vapour deposition (UAACVD) at 300 ${^{\circ}C}$ in oxygen environment followed by annealing of the sample for 2-3 minutes at 500 ${^{\circ}C}$ in nitrogen ambient. The molecular structure of the precursor determined by single crystal X-ray analysis revealed that the molecules are linked through intermolecular hydrogen bonds forming pseudo six and eight membered rings. DSC and TGA/FTIR techniques were used to determine thermal behavior and decomposition temperature of the precursor and nature of evolved gas products. The optical measurement of annealed $ZrO_{2}$ film with tetragonal phase shows optical energy band gap of 5.01 eV. The particle size, morphology, surface structure and composition of deposited films were investigated by XRD, SEM and EDX.
Proceedings of the Korean Vacuum Society Conference
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2011.08a
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pp.225-225
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2011
The dielectric and optical properties of GaInZnO (GIZO), HfInZnO (HIZO) and InZnO (IZO) thin films on glass by RF magnetron sputtering method were investiged using reflection electron energy loss spectroscopy (REELS). The band gap was estimated from the onset values of REELS spectra. The band gaps of GIZO, HIZO and IZO thin films are 3.1 eV, 3.5 eV and 3.0 eV, respectively, Hf and Ga incorporated into IZO results in an increase in the energy band gap of IZO by 0.5 eV and 0.1 eV. The dielectric functions were determined by comparing the effective cross section determined from experimental REELS with a rigorous model calculation based on the dielectric response theory, using available software package, good agreement between the experimental and fitting results gives confidence in the accuracy of the determined dielectric function. The main peak of Energy Loss Function (ELF) obtained from IZO shows at 18.42 eV, which shifted to 19.43 eV and 18.15 eV for GIZO and HIZO respectively, because indicates the corporation of cation Ga and Hf in the composition. The optical properties represented by the dielectric function e, the refractive index n, the extinction coefficient k, and the transmission coefficient, T of HIZO and IZO thin films were determined from a quantitative analysis of REELS. The transmission coefficient was increased to 93% and decreased to 87% in the visible region with the incorporation of Hf and Ga in the IZO compound.
Proceedings of the Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers Conference
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2003.05c
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pp.154-157
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2003
$TiO_2$ thin films were fabricated by RF magnetron sputtering system at by controlling deposition times, ratios of $Ar:O_2$ partial presser ratio and substrate conditions. And the surface, cross-section morphology, microstructure, and composition ratio of the films were analyzed by FE-SEM, TEM and XPS. Besides, the optical absorption and transmittance of the $TiO_2$ films were measured by a UV-VIS-NIR Spectrophotometer, and photocatalytic properties were studied by G${\cdot}$C Analyzer & Data Analysis system. As the result, when $TiO_2$ thin film was made at deposition time of 120[min] and $Ar:O_2$ ratio of 60:40, the best structural and optical properties among many thin films could be accepted. The best results of properties were as follows: thickness; 360~370[nm), grain size; 40[nm], gap between two peak binding energy; $5.8{\pm}0.05[eV]$ ($2_{p3/2}$ peak and $2_{p1/2}$ peak of Ti was show at $458.3{\pm}0.05[eV]$ and $464.1{\pm}0.05[eV]$ respectively), binding energy; $530{\pm}0.05[eV]$, optical energy band gap; 3.4[eV].
A method for evaluating bulk sensitive structural characteristics of unpurified, as-purified, and acid treated single walled carbon nanotubes (SWNTs) was described in the present study. The optical spectra of SWNT solutions were well resolved after prolonged sonication and they were correlated to the diameter and the distribution of nanotubes. The acid-treated SWNTs were similar to as-purified SWNTs in terms of catalyst residue, radial breathing mode (RBM) in the Raman spectra, and the first band gap energy of semiconducting tubes in the optical spectra. The solution phase optical spectra were more sensitive to changes in the small diameter and metallic tubes after the acid treatment than were the RBM spectra.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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