• 제목/요약/키워드: multi-dopants

검색결과 6건 처리시간 0.027초

Spin-On Dopants를 이용한 결정질 실리콘 태양전지의 n+ 에미터 형성에 관한 연구 (Investigation of n+ Emitter Formation Using Spin-On Dopants for Crystalline Si Solar Cells)

  • 조경연;이지훈;최준영;이수홍
    • 한국전기전자재료학회:학술대회논문집
    • /
    • 한국전기전자재료학회 2007년도 추계학술대회 논문집
    • /
    • pp.68-69
    • /
    • 2007
  • To make cost-effective solar cells, We have to use low cost material or make short process time or high temperature process. In solar cells, formation of emitter is basic and important technique according to build-up P-N junction. Diffusion process using spin-on dopants has all of this advantage. In this paper, We investigated n+ emitter formation spin-on dopants to apply crystalline silicon solar cells. We known variation of sheet resistance according to variation of temperature and single-crystalline and multi-crystalline silicon wafer using Honeywell P-8545 phosphorus spin-on dopants. We obtain uniformity of sheet resistance within 3~5% changing RPM of spin coater.

  • PDF

Conduction properties of phosphorescent emitting layers and their application to optimizing white OLEDs

  • Baek, Heume-Il;Noh, Seung-Uk;Lee, Hyun-Koo;Suman, C.K.;Lee, Chang-Hee
    • 한국정보디스플레이학회:학술대회논문집
    • /
    • 한국정보디스플레이학회 2009년도 9th International Meeting on Information Display
    • /
    • pp.1055-1055
    • /
    • 2009
  • The mobility of charge carriers has been investigated in the pristine and phosphorescent materials doped host materials using time-of-flight photoconductivity technique. The field and temperature dependences of the mobility were analyzed with the Gaussian disorder model. Based on these results, we optimized white organic light emitting diodes (WOLEDs) consisting of multi-emitting layers doped with phosphorescent and fluorescent dopants. Especially, we studied the effect of each emitter position and an interlayer on the device characteristics of WOLEDs.

  • PDF

입사광의 크기 조절을 통한 경사굴절률 플라스틱 광섬유의 수치구경 측정기법 (Measurement of Numerical Aperture of Graded-index Plastic Optical Fiber by Using a Variable Aperture)

  • 김대규;김보람;이병학;박승한
    • 한국광학회지
    • /
    • 제22권1호
    • /
    • pp.5-9
    • /
    • 2011
  • 다중모드 경사굴절률 플라스틱 광섬유는 경사굴절률을 생성하기 위하여 첨가하는 미세입자, 불균일한 경사굴절률의 분포, 다른 모드 사이의 광학적인 간섭 등으로 인하여 스펙클 잡음이 크기 때문에, 광섬유 출력 단에서 방사되는 기하학적 광 세기 분포를 분석하여 측정하는 기존의 일반적인 수치구경 측정 방법으로는 수치구경 측정이 매우 어려운 문제점이 있다. 따라서 본 논문에서는 이와 같은 다중모드 경사굴절률 플라스틱 광섬유의 수치구경 측정을 위하여 입사 단에서 입사 광의 크기를 조절하여 수치구경을 구하는 새로운 방법을 제안하고, 이를 이용하여 플라스틱 광섬유의 수치구경을 측정하였다. 측정 결과, 기존의 방법으로 측정한 플라스틱 광섬유의 수치구경 값과 비교적 잘 일치함을 확인할 수 있었으며, 제안한 기법이 출력 단에서 방사되는 광세기 분포의 모호함을 배제할 수 있고 입력광의 입사 조건 및 광섬유 결합 효율을 최적화할 수 있는 장점이 있음을 알 수 있었다.

UMG(Upgraded Metallurgical Grade) 규소 이용한 다결정 잉곳의 불순물 편석 예측 (Estimation of the impurity segregation in the multi-crystalline silicon ingot grown with UMG (Upgraded Metallurgical Grade) silicon)

  • 정광필;김영관
    • 한국결정성장학회지
    • /
    • 제18권5호
    • /
    • pp.195-199
    • /
    • 2008
  • 반도체용 규소 원료는 11 N급의 고순도이나 가격이 고가이고 또한 생산이 제한되어서 폭발적인 태양전지의 수요를 따르지 못하고 있어 저급(5$\sim$6 N)의 UMG(Upgraded Metallurgical Grade)를 사용하자 하는 노력이 진행 중이다. 이 5$\sim$6 N급에서는 dopant 원소인 붕소(B)외 인(P)의 농도가 1 ppm 이상 존재한다. 이들 원료를 사용하여서 결정 성장을 하였을 경우에 존재하는 여러 불순물들의 편석계수(segregation coefficient)를 활용하여 화학적, 전기적 성질을 예상 하여본 결과 결정성장 초기에는 붕소(B)의 농도가 인(P) 보다 높아 p영역이 발생하고 후반부에는 인의 농도가 붕소 보다 높아 n 형 기판이 생성됨을 보았다. 또한 응고속도를 조절하여 여러 불순물을 제거하고자 히는 노력은 편식계수가 적은 금속 일소들의 제거에는 효과적이나 편석계수가 큰 붕소와 인의 제거에는 효과가 크지 않음을 예상 할 수 있다.

FHD(Flame Hydrolysis Deposition)공정으로 제작된 SiO2 광도파막의 분광학적 분석 (Spectroscopical Analysis of SiO2 Optical Film Fabricated by FHD(Flame Hydrolysis Deposition))

  • 김윤제;신동욱
    • 한국세라믹학회지
    • /
    • 제39권9호
    • /
    • pp.896-901
    • /
    • 2002
  • FHD(Flame Hydrolysis Deposition)공정은 화염 형성에 관여하는 장비의 조건들과 그에 따른 다양한 공정인자에 의하여 박막의 조성이 결정되며, 증착된 막을 치밀화하는 첨가물의 증발로 인해 열처리공정에서 조성이 변화되므로 공정인자로부터 최종적인 광도파막의 조성을 예측하는 것은 매우 어렵다. 본 연구에서는 FHD 공정에서 첨가가스의 유량을 제어하여 박막의 조성 및 광학적 특성을 예측할 수 있는 공정 분석의 기초자료를 제공하기 위하여 FTIR(Fourier Transformation Infrared Spectroscopy)측정과 ICP-AES(Inductively Coupled Plasma-Atomic Emission Spectrometry)측정을 통해 실리카 막의 조성분석에 대한 연구를 수행하였다. FTIR 흡수 스펙트럼을 통해 실리카 막에 존재하는 Si-O, B-O band를 측정하고 정성적 농도변화를 관찰 하였고, ICP-AES를 통해 Boron의 농도를 정량적으로 측정하였다. 이 두 결과로부터 FTIR을 이용한 정량적 조성분석의 기초자료인 B-O band의 흡광계수를 구하였다.