The interference of water vapor on the chemical ionization (CI) of hydroxyl radicals (OH) by sulfur hexafluoride ion ($SF_6{^-}$) was investigated using a flow tube system coupled to a high-pressure CI mass spectrometer. Water vapor, which is required to study heterogeneous reactions of OH under real tropospheric conditions, transforms the reagent ion $SF_6{^-}$ into $SF_4O^-$ and $F^-(HF)_n$, resulting in a substantial loss in CI sensitivity. Therefore, under humid conditions, peaks corresponding to OH are drastically diminished, while those corresponding to OH-water complex ions ($[OH(H_2O)_n]^-$) are enhanced. $[OH(H_2O)_3]^-$ was observed as the major OH species. The obsercation of $[OH(H_2O)_n]^-$ by isolating humid conditions to the CI region and preliminary ab initio calculations suggested that $[OH(H_2O)_n]^-$ ions were produced from reactions between OH ions ($OH^-$) and water molecules. An additional helium buffer flow introduced into the CI region reduced loss of the reagent ion and resulted in a partial recovery of OH peak intensities under humid conditions.
Collision-induced dissociation (CID) and higher-energy collisional dissociation (HCD) are the widely used fragmentation technique in mass spectrometry-based proteomics studies. Understanding the fragmentation pattern from the tandem mass spectra using statistical methods helps to implement efficient spectrum analysis algorithms. The study characterizes the frequency of occurrence of multi-charged fragment ions and their neutral loss events of doubly and triply charged peptides in the CID and HCD spectrum. The dependency of the length of the fragment ion on the occurrence of multi-charged fragment ion is characterized here. Study shows that the singly charged fragment ions are generally dominated in the doubly charged peptide spectrum. However, as the length of the product ion increases, the frequency of occurrence of charge 2 fragment ions increases. The y- ions have more tendencies to generate charge 2 fragment ions than b- ions, both in CID and HCD spectrum. The frequency of occurrence of charge 2 fragment ion peaks is prominent upon the dissociation of the triply charged peptides. For triply charged peptides, product ion of higher length occurred in multiple charge states in CID spectrum. The neutral loss peaks mostly exist in charge 2 states in the triply charged peptide spectrum. The b-ions peaks are observed in much less frequency than y-ions in HCD spectrum as the length of the fragment increases. Isotopic peaks are occurred in charge 2 state both in doubly and triply charged peptide's HCD spectrum.
The potential energy surfaces (PESs) for the primary and secondary dissociations of the phenylarsane molecular ion (1a) were determined from the quantum chemical calculations using the G3(MP2)//B3LYP method. Several pathways for the loss of $H{\cdot}$ were determined and occurred though rearrangements as well as through direct bond cleavages. The kinetic analysis based on the PES for the primary dissociation showed that the loss of $H_2$ was more favored than the loss of $H{\cdot}$, but the $H{\cdot}$. loss competed with the $H_2$ loss at high energies. The bicyclic isomer, 7-arsa-norcaradiene radical cation, was formed through the 1,2 shift of an $\alpha$-H of 1a and played an important role as an intermediate for the further rearrangements in the loss of $H{\cdot}$ and the losses of $As{\cdot}$ and AsH. The reaction pathways for the formation of the major products in the secondary dissociations of $[M-H]^+$ and $[M-H_2]^{+\cdot}$. were examined. The theoretical prediction explained the previous experimental results for the dissociation at high energies but not the dissociation at low energies.
Kim, Guang-Hoon;Choi, Young-Wook;Lee, Hong-Sik;Rim, Geun-Hie;Nikiforov, S.A.
The Transactions of the Korean Institute of Electrical Engineers C
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v.50
no.8
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pp.401-408
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2001
The information of the ion composition in plasma applications is required to characterize a plasma. A better understanding of ion species composition ratio and its spacial distribution, etc. is thus necessary in plasma-related processes, such as thin film deposition, plasma-based ion implantation, semiconductor processing, and so on. In this research, a compact ion mass analyzer that is based on magnetic sector analyzer was developed and its operational characteristics were studied in nitrogen plasma.
The bilayer film of Ag/a-S $e_{75.G}$$e_{25}$ and the monolayer film of a-S $e_{75.G}$$e_{25}$ act as a negative-type and a positive-type resist in focused ion beam lithography, respectively. Using a model which takes into account the ion stopping power, the ion projected range, the ion concentration implanted into resists and the ion transmission coefficient, etc., the ion resist parameters are calculated for a broad range of ion energies and implanted doses. Ion sources of A $r^{+}$, S $i^{++}$ and G $a^{+}$ are used to expose resists. As the calculated results, the energy loss per unit distance by Ga'$^{+}$ ion is about 10$^{3}$[keV/.mu.M] and nearly constant for all energy range. Especially, the projected range and struggling for 80[keV] G $a^{+}$ ion energy are 0.0425[.mu.m] and 0.020[.mu.m], , respectively and the resist thickness of a-S $e_{75}$ G $e_{25}$ to minimize the ion penetration rate into a substrate is 0.118[.mu.m].u.m]..u.m].
The NBI (Neutral BGeam Injection) System for the Korea Superconducting Tokamak Advanced Research (KSTAR) is composed of ion sources, neutralizers, bending magnets, ion dumps, and calorimeter. The vacuum chamber, in which all of the beam line components are enclosed, is composed of differential pumping system for the effective transfer of the neutral beams. The needed pumping speeds of each of the divided vacuum chamber and the optimized gas flow rate ot the neutralizer were calculated with the help of the particle balance equations. The minimum gas flow rate to the ion sources for producing needed beam current (120kV, 65A, 78MW), the pressure distributions in the vacuum chamber for minimizing re-ionization loss, and the beam loss rate on the beam line components were used as the input in the calculation. Also the scenario for short pulse operation was determined by analysing the time dependent equations. It showed that beam extraction during less than 0.5 sec could be made only with TMP.
Journal of the Korean institute of surface engineering
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v.27
no.1
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pp.36-44
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1994
The TiN films were deposited on the stainless substrates using arc vapor ion deposition process to in-vestigated the wear resistance. Pin-on-disc tests were performed to measure the volume wear loss of TiN films. The substrate bias voltages and nitrogen flow rates were selected as the deposition parameters of TiN films. It was found that the wear resistance of TiN films was enhanced with increasing bias voltages(0~-300 V) and nitrogen flow rates(220~380 SCCM). The volume wear loss TiN films were about 9.5~2.1$\times$$10^{-3}mm^3$ and 3.5~2.2$\times$$10^{-3}mm^3$ with bias voltages and nitrogen flow rates, respectively.
Arc ion plating (AIP), laser cladding, and nitriding are methods that can prevent mold damage or repair and create cracks and breakages on the die surface. The dissolution and soldering behavior of coated SKD61 by using arc ion plating, laser cladding, and nitriding was investigated. The structure of the coating was investigated as a function of deposition conditions by X-ray diffraction and the crystallographic orientation was determined using the texture factor. The TiAlN film deposited with AIP showed excellent corrosion resistance in the molten aluminum alloy at 680℃. In this paper, we have detailed the corrosion and mass loss phenomena associated with these steel-cast metal interactions.
Glasses of Na2O-Al2O3-SiO2 system were prepared and ion-exchange characteristics change of properties and bactericidal effects by Na+↔Ag+ ion exchange were studied. Parent glasses with three compositions of varying Na2O in the 20~30 wt% were ion-exchanged in the molten salt of 2 mol% AgNO3+98 mol% NaNO3 at 320~36$0^{\circ}C$ for 15~16min. Amount of ion exchange and penetration depth of Ag+ ion increased with Na2O content in the parent glass ion exchange temperature and time. After ion exchange densities and Vickers hardness of the glasses increased and the glasses showed yellow-brown color and as amount of ion exchange increased the color turned deep because partial reduction and agglomeration of Ag+ into Ag0 results in absorption of visible light. After ion exchange chemical durability of the glass to wter was enhanced compara-bly that weight loss and change of surface of the glass were not found for the leaching test in 5$0^{\circ}C$ K.I water for 240hrs. Bactericidal effect of ion exchanged glass on Staphylococcus aureus and E. coli was determined by microorganism test and bactericidal effect increased with amount of ion exchange and incubation time.
Ion pumps continue to be a staple in ultra-high vacuum (UHV) applications. Since their adoption as a primary UHV pump in the 1960's, it has been known that a variety of particles can emanate from within the ion pump and cause undesirable effects on current measurements and optics components. Historically the solution has been baffling and shielding which results in longer conductance paths to the ion pump. Those solutions can work, but require a larger pump and more vacuum plumbing to compensate for conductance losses. The first step was to fully understand the nature of the particles and their charges. Once those were characterized options for emissions reduction were evaluated. It was determined that an efficient design of shielding near the source of the particle generation site was the most cost effective solution. With a slight modification to the chamber of a small ion pump, internal shielding was developed that reduced the emissions by a factor of up to 1000 times.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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