• 한국정보전자통신기술학회논문지
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• 제13권2호
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• pp.169-175
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• 2020

본 논문은 SET에 노출된 전자기기는 불규칙한 작동 및 출력 오류를 나타낼 수 있으므로 집적회로에서 SET 상황에 대해서 연구하였다. 폴디드 캐스코드 비교기에서 지수정류파(iexp)을 이용하여 SET 환경을 설정하였다. 비교기가 SET에 의해 어떤 영향이 있는지에 대해 실험하였다. SET현상을 발생시키지 않은 폴디드 비교기에서는 전파 지연은 0.26㎲, 이득은 0.649으로 측정되었다. SET현상을 발생시킨 폴디드 비교기에서 출력단과 가까운 MOSFET는 민감하게 측정되었으며 전파 지연은 0.36~0.37㎲,이득은 0.649로 계산되었다. 중간에 위치한 MOSFET는 0.28~0.30㎲, 이득은 0.649로 계산되었다. 폴디드 비교기에서 출력단과 가장 멀리 떨어져 있는 MOSFET는 전파지연이 0.25~0.26㎲, 이득은 0.649로 계산되었다. SET 환경에서, 폴디드 비교기에서 출력부분에 가까이 있는 MOSFET는 민감하였다. 그리고 출력부분과 멀리 떨어져 있는 MOSFET에서는 SET를 입력하지 않은 정상적인 폴디드 비교기와 같은 결과를 얻었다.

• 한국정보전자통신기술학회논문지
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• 제13권4호
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• pp.277-282
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• 2020

본 연구는 전자장비가 여러 환경에 노출되어 장비 작동에 영향을 받을 수 있으므로 해소할 수 있는 방법을 찾고자 본 연구를 시작하였다. 텔레스코픽 캐스코드 비교기에 지수정류파(iexp)을 SET(Single Event Transient) 환경으로 설정하여 어떤 영향이 있는지에 대해 실험하였다. 본 논문에서 SET 상황을 설정하지 않은 텔레스코픽 캐스코드 비교기에서는 전파 지연은 0.46㎲, 이득은 0.713으로 측정되었다. SET 상황을 입력한 텔레스코픽 캐스코드 비교기에서 FET T0(M6)는 11㎲ ~ 15㎲에서 큰 스파이크를 나타난 것으로 측정되었다. FET T1(M5)는 10㎲ ~ 16㎲에서 출력 신호가 단락되었다. FET T2(M3)는 단락된 출력신호를 나타냈으며 FET T3(M4)는 큰 스파이크 파형 형태로 출력파형이 측정되었다. FET T4(M1)와 FET T5(M2)는 스파이크 신호가 출력되었다. 그리고 모든 FET에서 전파지연은 0.45㎲~0.54㎲로 변화되었다. 결론적으로 SET 상황에서 텔레스코픽 캐스코드 비교기에 있는 FET소자는 많은 영향을 받는 것으로 측정되었다.