Epitaxial Gd$_2O_3:Eu^{3+}$luminescent thin films have been grout on Si(III) substrates using ionized Cluster Beam Deposition (ICBD). After the film growing, they were implanted and post annealed to change the crystal structure. The initial growth stage was monitored by using in-situ Reflection High Energy Electron Diffraction (RHEED). The formed crystal structure was identified with X-ray diffraction (XRD) technique and Fourier transform infrared (FT-R) spectroscopy. The electronic states variations were investigated by Near Edge X-ray Absorption Fine Structure (NEXAFS). Photoluminescence (PL), Cathodoluminescence (CL). and Vacuum ultraviolet (VUV) spectrum were used for examining the optical properties. We report the optical property changes depending on crystal structure and the electronic states.
Web openings of large beams provide space for wiring, piping, and duct work to provide for proper drainage, pipes and duct must be slightly sloped with the attendant result that all web openings can not be centered on the centroidal axes of the beams. Test specimens are made for opening-depth to beam-depth ratio of 0.5 and for eccentricities of the opening center line of 10% from middepth of the beam because of the proximity of the opening edge to the flange. In this paper, available test results and theories relating to the strength of composite beams having eccentric rectangular openings are surveyed and experiments were carried out to examine the structural behaviors. In all the tests in this paper good agreement is demonstrated with maximum loads measured in tests, and observed failure modes Furthermore, compared with analytical values and experimental values of interaction diagram between moment and shear capacity were safed as it is scattered with outer part of the analytical values.
Proceedings of the Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers Conference
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2009.11a
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pp.172-172
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2009
In this study, we presented comparative discrimination methods to identify various line and planar defects observed in nonpolar a-GaN epilayers on r-sapphire substrates. Unlike the case of conventional c-GaN, which is dominated by perfect threading dislocations, systematic identification of undistinguishable defects using transmission electron microscopy (TEM) is necessary to suppress the propagation of defects in nonpolar GaN epilayers. Cross-sectional TEM images near the [0001] zone axis revealed that perfect mixed and pure screw type dislocations are visible, while pure edge, partial dislocations, and basal stacking faults (BSFs) are not discernible. In tilted cross-sectional TEM images along the [$1\bar{2}10$] zone axis, the dominant defects were BSFs and partial dislocations for the $g=10\bar{1}0$ and 0002 two-beam images, respectively. From plan view TEM images taken along the [$11\bar{2}0$] axis, it was found that the dominantpartial and perfect dislocations were Frank-Shockley with b=${\pm}1/6$<$20\bar{2}3$> and mixed type without an 1 component including b=${\pm}1/3$<$1\bar{2}10$> and ${\pm}1/3$<$\bar{2}110$>, respectively. Prismatic stacking faults were observed as inclined line contrast near the [0001] zone axis and were visible as band contrast in the two-beam images along the [$1\bar{2}10$] and [$11\bar{2}0$] zone axes.
The use of high-strength steels in construction of highrise and mega building structures can bring about many technological advantages from fabrication to erection. However, key design criteria such as local and lateral stability in current steel design specifications were developed based on tests of ordinary steels which have stress-strain characteristics very different from that of high strength steels. A series of tests on 800 MPa tensile strength steel (HSA800) members are summarized in this paper which were conducted to investigate the appropriateness of extrapolating current ordinary-steel based design criteria to high strength steels. 800 MPa I-shape beam specimens designed according to flange local buckling (FLB) criteria of the AISC Specification developed a sufficient strength for elastic design and a marginal rotation capacity for plastic design. It is shown that, without introducing distinct and significant yield plateau to the stress-strain property of high-strength steel, it is inherently difficult to achieve a high rotation capacity even if all the current stability limits are met. 800 MPa I-shape beam specimens with both low and high warping rigidity exhibited sufficient lateral torsional buckling (LTB) strength. HSA800 short-column specimens with various edge restraint exhibited sufficient local buckling strength under uniform compression and generally outperformed ordinary steel specimens. The experimental P-M strength was much higher than the AISC nominal P-M strength. The measured residual stresses indicated that the impact of residual stress on inelastic buckling of high-strength steel is less. Cyclic seismic test results showed that HSA800 members have the potential to be used as non-ductile members or members with limited ductility demand in seismic load resisting systems. Finally, recent applications of 800 MPa high strength steel to highrise and mega building structures in Korea are briefly presented.
Park, Dae-Seo;O, Beom-Hoan;Park, Se-Geun;Lee, El-Hang;Lee, Seung-Gol
Korean Journal of Optics and Photonics
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v.20
no.1
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pp.29-33
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2009
We propose a new measuring technique based on optical low-coherence reflectometry that enables us to determine the refractive index and the geometrical thickness of a transparent sample by one-time scanning only. By passing a collimated beam having a finite size through the edge of the sample, the refractive index and the geometrical thickness can be determined simultaneously from the comparison of interferograms generated by two kinds of reflected beams. In this study, a refractive index could be determined with the accuracy of $10^{-3}$, and its accuracy would be enhanced by using a more precise translator and a thicker sample.
This thesis was investigated on optical-and ion-induced characteristics in positive(a-$Se_{75}Ge_{25}$) and negative (Ag/a-$Se_{75}Ge_{25}$) resists for focused-ion-beam microlithogaphy. The a-$Se_{75}Ge_{25}$ inorganic thin film shows an increase in optical absorption after exposure to$\sim$$10^{16}$ dose(ions/$cm^{2}$) of Ga ions. The observed shift in the absorption edge toward longer wavelengths is consistent with that in films exposed to band-gap photons ($\sim$$10^{20}$ photons/$cm^{2}$). But, ion induced shift is twice as much as that in film exposed to optical radiation. This result may be related with microstructural rearrangements with in the short range of SeGe network. Due to changes in the short range order, the chemical bonding may be affected, which results in increased chemical dissolution in ion-induced film. Also, this resist exhibits good thermal stability because of its high Tg(~220$^{\circ}C$). The composition of deposited film measured by AES is consistent with that of bulk.
Proceedings of the Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers Conference
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1995.11a
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pp.224-227
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1995
The micro-patterning by a Bow energy FIB whish has been conventionally utilized far mask-repairing was investigated. Amorphous Se$\_$75/Gee$\_$25/ resist irradiated by 9[keV]-defocused Ga$\^$+/ ion beam(∼10$\^$15/[ions/$\textrm{cm}^2$]) resulted in increasing the optical absorption, which was also observed also in the film exposed by an optical dose of 4.5${\times}$10$\^$20/[photons/$\textrm{cm}^2$]. The ∼0.3[eV] edge shift for ion-irradiated film was about twice to that obtained for photo-exposed. These large shift could be estimated as due to an increase in disorder from the decrease in the sloop of the Urbach tail. For Ga$\^$+/ FIB irradiation with a relatively low energy, 30[keV] and above the amount of dose of 1.4${\times}$10$\^$16/[ions/$\textrm{cm}^2$], the irradiated region in a-Se$\_$75/Ge$\_$25/ resist was perfectly etched in acid solution for 10[sec], which is relatively a short development time. A contrast was about 2.5. In spite of the relatively low incident energy,∼0.225[$\mu\textrm{m}$] pattern was clearly obtained by the irradiation of a dose 6.5${\times}$10$\^$16/[ions/$\textrm{cm}^2$] and a scan diameter 0.2[$\mu\textrm{m}$], from which excellent results were expected fur incident energies above 50[keV] which was conventionally used in FIBL.
Chae, Sejung R.;Moon, Juhyuk;Yoon, Seyoon;Bae, Sungchul;Levitz, Pierre;Winarski, Robert;Monteiro, Paulo J.M.
International Journal of Concrete Structures and Materials
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v.7
no.2
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pp.95-110
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2013
We report various synchrotron radiation laboratory based techniques used to characterize cement based materials in nanometer scale. High resolution X-ray transmission imaging combined with a rotational axis allows for rendering of samples in three dimensions revealing volumetric details. Scanning transmission X-ray microscope combines high spatial resolution imaging with high spectral resolution of the incident beam to reveal X-ray absorption near edge structure variations in the material nanostructure. Microdiffraction scans the surface of a sample to map its high order reflection or crystallographic variations with a micron-sized incident beam. High pressure X-ray diffraction measures compressibility of pure phase materials. Unique results of studies using the above tools are discussed-a study of pores, connectivity, and morphology of a 2,000 year old concrete using nanotomography; detection of localized and varying silicate chain depolymerization in Al-substituted tobermorite, and quantification of monosulfate distribution in tricalcium aluminate hydration using scanning transmission X-ray microscopy; detection and mapping of hydration products in high volume fly ash paste using microdiffraction; and determination of mechanical properties of various AFm phases using high pressure X-ray diffraction.
We observed the absorptive optical bistability in the single layer amorphous $As_2S_3$ thin film which has an isolated electron pairs at roomtemperature, for the frist time, $Ar^+$ laser beam (λ=514.5 nm) was used as a light source and was focused by thin lens. The experiment was performed in cavityless system and the occurrence of optical bistability in this material could be explained by the temperature-dependent absorption coefficient of the sample. Also, this effect was explained by the reversible shift of the absorption edge in this material. The condition of optical bistability is determined by detuning value ($a_0L$) and this value was 0.12 when thikness of that sample was about 0.8 ${\mu}{\textrm}{m}$. The switching was observed clealy when light intensity is 150~180 mW and the swiching time was about $10^{-4}$ s.
A 16-views 3 dimensional imaging system is designed by spatially combinding two 8-views time multiplexed image channels. Each 8-views channel composed of 3 primary color CRTs and a dichroic beam splitter which combining the three CRTs as one channel. Each CRT displays 8-view images time sequentially. These images are projected to a holographic screen of a size 1$\times$0.8 $m^2$ through a projection optics. Characteristics of the three different configurations of projection optics are examined with the optics designing program "DEMOS" to select an optimized projection optics for the system. The configulation of the optimized projection optics is found like following; images from each channel combined by two-fold mirror are projected by a projection objective through a 16-strips LCD shutter. In this configuration, the shutter should be located at the entrance pupil of the objective, and the folded edge of the two-fold mirror should contact symmetrically to the center line of the shutter.e shutter.
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