오존수를 이용한 실리콘 웨이퍼 연마 후 지용성 왁스 및 오염입자 제거의 영향 (Effect of Organic wax residues and particles removal by DIO3 (ozonated DI water) after Silicon Wafer batch Polishing Process)
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- 한국전기전자재료학회:학술대회논문집
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- 한국전기전자재료학회 2007년도 하계학술대회 논문집 Vol.8
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- pp.558-559
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- 2007