Effect of Organic wax residues and particles removal by DIO3 (ozonated DI water) after Silicon Wafer batch Polishing Process (오존수를 이용한 실리콘 웨이퍼 연마 후 지용성 왁스 및 오염입자 제거의 영향)
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- Proceedings of the Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers Conference
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- 2007.06a
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- pp.558-559
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- 2007