Accuracy Improvement and Systematic Bias Analysis of Scanning White Light Interferometry for Free-form Surfaces Measurements (자유 곡면 형상 측정을 위한 백색광 주사 간섭계의 정확도 향상 및 시스템 오차 분석)
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- Journal of the Korean Society for Precision Engineering
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- v.31 no.7
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- pp.605-613
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- 2014