Multilayer mirrors have widely been used for monochromatization of X-ray with high reflection efficiency. The reflected X-ray energy or wavelength is determined by the d-spacing of a multilayer mirror and the incidence angle. The reflectivity critically depends on the number of bilayers and surface roughness on each interface. The multilayer mirror has a structure of alternative deposition of high and low Z-elements on the substrate. Each interface should be considered in the calculation of reflectivity. In this paper, we examine the degradation of reflectivity by the inter-diffusion combined with surface roughness on each interface for a W/Si multilayer mirror. In the depth-graded W/Si multilayer mirror, the FWHMs for angle and energy were larger than them of the uniform multilayer mirror. Inter-diffusion considerable gave rise to the degradation of reflectivity. To obtain measured reflectivity closed to the expected reflectivity, the inter-diffusion on W-Si and Si-W interfaces should be considered.
Proceedings of the Korean Vacuum Society Conference
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1999.07a
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pp.140-140
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1999
Ti/Ni multilayered films (MLF) are ideal for neutron optics particularly in neutron guides and focusing devices. This system also possesses the tendency of amorphization through a solid-state reaction (SSR). This behaviors are closely related to the electronic structures and both magneto-optical (MO) and optical properties of metals depend strongly on their electron energy structures. Mutual inter-diffusion of the Tin and Ni atoms in the MLF caused by a low temperature annealing should decrease the thickness of pure Ni, as well as change the chemical and atomic order in the reactive zone. The application of the MO spectroscopy to the study of SSR in the MLF allows us to obtain an additional information on the changes in the atomic and chemical orders in the interface region. The optical one has no restriction on the magnetic state of the constituent sublayers. Therefore, the changes in magnetic, MO and optical properties of the Ti/Ni MLF due to SSR can be expected. To the best of our knowledge, the MO and optical spectroscopies were not used for this purpose. SSR has been studied in the series of the Ti/Ni MLFs with bilayer periods of 0.65-22.2nm and constant ratio of the Ti to Ni sublayers thickness by using MO and optical spectroscopies as well as an x-ray diffraction. The experimental MO and optical spectra are compared with the computer-simulated spectra, assuming various interface models. The relative changes in the x-ray diffraction spectra and MO properties of the Ti/Ni MLF caused by annealing are bigger for the multilayers with "thick" sublayers, or the SSR with the formation of amorphous alloy takes place mainly in the Ti/Ni multilayers with "thick" sublayers, while in the nominal threshold thickness of the Ni-sublayer for the observation of the equatorial Kerr effect in the as-deposited and annealed Ti/Ni MLFs of about 3.0 and 4.5nm thick is explained by the formation of amorphous alloy during the deposition or the formation of the nonmagnetic alloyed regions between pure components as a result of the SSR. For the case of Ti/Ni MLF the MO approach is more sensitive for the determination of the thickness of the reacted zone, while x-ray diffraction is more useful for structural analyses.structural analyses.
Zinc sulfide is a ll-VI compound with a large direct band gap in the near-UV region and a promising material for blur-light emitting diode and laser diode. It was identified that the structure had zinc blonde structure through the analysis of X-ray diffraction patterns. It's lattice constant was measured to be $a_o=5.411{\AA}$. The optical absorption, photocurrent, and photoluminescence spectra were measured to investigate the optical properties of zinc sulfide single crystal. The optical energy band gap measured at room temperature was 3.61eV The energy band gap of zinc sulfide annealed in zinc vapor at $800^{\circ}C$ was lower 0.1eV than that of as-grown zinc sulfide through the analysis of the photocurrent spectra. The photoluminescence spectra were measured ranging from 30K to 293K for the two cases of as-grown and annealed zinc sulfide. As-grown ZnS single crystal had peaks at 350nm, 392nm, 465nm, and annealed zinc sulfide had peaks at 349nm.
Kim, Young-Ki;Yoon, Young-Deuk;Yoon, Chong-Yul;Kim, Jung-Soo;Kim, Woon-Kyung;Song, Moon-Ho
Journal of the Institute of Electronics Engineers of Korea SP
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v.37
no.1
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pp.27-36
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2000
As a potential approach for non-destructive testing of concrete structures, we evaluate the time-of-flight (TOF) ultrasound tomography technique In conventional X ray tomography, the reconstructed Image corresponds to the internal attenuation coefficient However, in TOF ultrasound tomography, the reconstructed Image is proportional to the retractive index of the medium Because refractive effects are minimal for X-rays, conventional reconstruction techniques are applied to reconstruct the Image in X-ray tomography However, since ultrasound travels in curved path, due to the spatial variations in the refractive index of the medium, the path must be known to correctly reconstruct the Image. Algorithm for determining the ultrasound path is developed from a Geometrical Optics point view and the image reconstruction algorithm, since the paths are curved It requires the algebraic approach, namely the ART or the SIRT Here, the difference between the computed and the measured TOP data is used as a basis, for the iteration process First the initial image is reconstructed assuming straight paths. It then updates the path based on the recently reconstructed image This process of reconstruction and path determination repeats until convergence The proposed algorithm is evaluated by computer simulations, and in addition is applied to a real concrete structure.
Journal of the Korean Society of Manufacturing Process Engineers
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v.19
no.6
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pp.96-101
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2020
In this paper, we present the results of our research to perform 3D laser scanning functions by adding a focusing lens to a conventional 2D laser scanner. For the optical design, the ray-tracing technique was used along with a total of four lenses as the variable incident focusing lens, the collimating lens, and the F-Theta lens. As design variables, the curvature of the incident focusing lens (Lens #1) was assumed to be us, l mm and sumed mm, and the incident angles were set at 0cidenus, l. In addition, the distance between the focusing lens and the collimating lens was set to vary from 5 mm to 15 mm. When the incident focal length was varied from 5 mm to 15 mm, the exit focal length was calculated to vary from 67.5 mm to 56.8 mm for the lens with R = 100 mm and from 108.5 mm to 99.0 mm for the lens with R = 150 mm. When the incident angle was 0°, the focal aberration was only slightly observable at 10㎛ in both the x- and y-direction. At 7.5° was the focal aberration of approximately 20~50㎛ was measured at 20㎛. To investigate the chromatic aberration of the designed optical device, the distortion of the focus was observed when the 550 nm beam was simulated on lens designed for a 980 nm wavelength.
An investigation of the effects of CaO on microstructure and properties of SiC materials for spectacle lens cutting was described. Four materials with different composition have been fabricated by hot-pressing at $1,880^{\circ}C$ for 4h using CaO. SEM analysis and XRD of the surface of samples were carried out. Typical fracture toughness of materials for spectacle lens cutting was $5.4MPa{\cdot}m^{1/2}$. Also, The hardness of materials for spectacle lens cutting was relatively dependent on the density.
Thin film ethanol sensors made from ${\alpha}-Fe_2O_3$ decorated with multiwall carbon nanotubes(MWCNTs) were manufactured by the electron beam deposition method. The morphology of the decorated ${\alpha}-Fe_2O_3$/MWCNTs (25:1 weight ratios) nanocomposite powder was investigated using the scanning electron microscopy and X-ray diffraction techniques. The thickness of thin films has been determined from ellipsometric measurements. The response of manufactured sensors was investigated at different temperatures of the sensor work body and concentration of gas vapors. Good response of prepared sensors to ethanol vapors already at work body temperature of $150^{\circ}C$ was shown.
Transparent and conductive AZO films were deposited on the glass by using radio frequency (RF) magnetron sputtering with intense electron radiation, simultaneously. After deposition, the effect of electron radiation energy on the optical and electrical properties of AZO was investigated. In XRD measurements, the films irradiated with intense electron beam show the larger grain size than that of the films prepared without electron radiation. Sheet resistance was also dependent on the electron radiation energy, while the optical transmittance in visible wavelength region was not affected seriously by electron radiation. X-.ray diffraction, UV-Vis spectrophotometer and four point probes were used to observe the crystallization, optical transmittance and sheet resistance, respectively.
The SiC-TiC composites materials for glasses lens cutting were fabricated by hot-pressing and annealing. The amount of TiC was 0, 10, 20, 30wt% in the mixture of ${\beta}-SiC$. The microstructure of materials for glasses lens cutting was very dependent on the TiC amount. The introduction of larger amount of TiC improved fracture toughness, optical microscope and XRD analysis of the surface of samples were carried out. An in situ-toughened microstructure, consisted of distributed elongated SiC, matrix like TiC grains was developed by using ${\beta}-SiC$. Typical hardness and fracture toughness of materials for spectacle lens cutting were 14.9 GPa and $5.7MPa{\cdot}m^{1/2}$, respectively.
A design of unit magnification 2-mirror system with high resolution is presented. It is for soft X-ray(wavelength of 13 nm) projection imaging and suitable for preparation of high density semiconductor chip. In general, a holosymmetric system with unit magnification has the advantage that both coma and distortion are completely eliminated. In our holosymmetric 2-mirror system, spherical aberration is addtionally removed by using two identical paraboloidal mirror surfaces and field curvature aberration is also corrected by balancing Petzval sum and astigmatism which depends on the distance between two mirrors, so that the system is a aplanatic flat-field paraboloidal 2-mirror holosymmetric system. This 2-mirror system is small in size, and has a simple configuration with rotational symmetry about optical axis, and has also small central obscuration. Residual finite aberrations, spot diagrams, and diffraction-based MTF's are analyzed for the check of performances as soft X-ray lithography projection system. As a result, the image sizes for the resolutions of$0.25\mum$and $0.18\mum$are 4.0 mm, 2.5 mm respectively, and depths of focus for those are $2.5\mum$, $2.4\mum$respectively. This system should be useful in the fabrication of 256 Mega DRAM or 1 Giga DRAM. DRAM.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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