An, Ba Ryong;Lee, Gun-Dae;Son, Dae Hee;Lee, Seung Ho;Park, Seong Soo
Applied Chemistry for Engineering
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v.24
no.6
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pp.611-615
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2013
Vanadium oxide ($VO_2$) and tungsten-doped vanadium oxide (W-$VO_2$) powder, well known as thermochromic materials, were prepared from vanadium pentoxide ($V_2O_5$) and oxalic acid dihydrate by hydrothermal and calcination process. The crystal structure and thermochromic property of samples were analyzed using FE-SEM, XRD, XPS, DSC, and UV-Vis-NIR spectroscopy. With increasing the doping amount of W, the phase transition temperature of W-$VO_2$ sample decreased from $70^{\circ}C$ to $42^{\circ}C$. When heating W-$VO_2$ sample above the phase transition temperature, the UV-Vis-NIR spectrum was not changed in the visible range and shifted towards a low transparency in the full name (NIR) region.
Proceedings of the Materials Research Society of Korea Conference
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2003.03a
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pp.131-131
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2003
Surface micromachined uncooled IR detector with the optimized VOx bolometric layer was fabricated based on sandwich structure of the V$_2$O$_{5}$V/V$_2$O$_{5}$. In order to improve the detectivity of the IR detector, we optimized a few factors in the viewpoint of bolometric material. Vanadium oxide thin film is a promising material for uncooled microbolometers due to its high temperature coefficient of resistance at room temperature. It is, however, very difficult to deposit vanadium oxide thin films having high temperature coefficient of resistance and low resistance because of process limits in microbolometer fabrication. In order to increase the responsivity and decrease noise, we increase TCR of bolometric material and decrease room temperature resistance based on the sandwich structure of the V$_2$O$_{5}$V/V$_2$O$_{5}$ by conventional sputter. By oxygen diffusion through low temperature annealing of V$_2$O$_{5}$V/V$_2$O$_{5}$ in oxygen ambient, various mixed phase vanadium oxide was formed and we obtained TCR in range of-1.2 ~-2.6%/$^{\circ}C$ at room temperature resistance of 5~100k$\Omega$.mega$.
Kim, Han-Ki;Seong, Tae-Yeon;Jeon, Eun-Jeong;Cho, Won-Il;Yoon, Young-Soo
Journal of the Korean Ceramic Society
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v.38
no.1
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pp.100-105
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2001
An all solid-state thin film battery (TFB) was fabricated by growing, undoped and Pt-doped vanadium oxide cathode film ( $V_2$$O_{5}$ ) on I $n_2$$O_3$: Sn coated glass, respectively. Room temperature charge-discharge measurements based on Li/Lipon/ $V_2$$O_{5}$ full-cell structure with a constant current clearly shows that the Pt-doped $V_2$$O_{5}$ cathode film is superior, in terms of cyclibility. X-ray diffraction (XRD) results indicate that the Pt doping process induces a more random amorphous structure than an undoped $V_2$$O_{5}$ film. In addition to its modified structure, the Pt-doped $V_2$$O_{5}$ film has a smoother surface than the undoped sample. Compared to an undoped $V_2$$O_{5}$ film, the Pt doped $V_2$$O_{5}$ cathode film has a higher electron conductivity. We hypothesize that the addition of Pt alters electrochemical performance in a manner of making more random amorphous structure and gives an excess electron by replacing the $V^{+5}$. Possible mechanisms are discussed for the observed Pt doping effect on structural and electrochemical properties of vanadium oxide cathode films, which are grown on I $n_2$$O_3$: Sn coated glass.
Kim, Kue-Ho;Bae, Ju-Won;Lee, Tae-Kuen;Ahn, Hyo-Jin
Korean Journal of Materials Research
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v.29
no.6
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pp.385-391
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2019
In the present study, vanadium oxide($V_2O_5$) films for electrochromic(EC) application are fabricated using sol-gel spin coating method. In order to optimize the EC performance of the $V_2O_5$ films, we adjust the amounts of polyvinylpyrrolidone(PVP) added to the solution at 0, 5, 10, and 15 wt%. Due to the effect of added PVP on the $V_2O_5$ films, the obtained films show increases of film thickness and crystallinity. Compared to other samples, optimum weight percent(10 wt%) of PVP led to superior EC performance with transmittance modulation(45.43 %), responding speeds(6.0 s at colored state and 6.2 s at bleached state), and coloration efficiency($29.8cm^2/C$). This performance improvement can be mainly attributed to the enhanced electrical conductivity and electrochemical activity due to the increased crystallinity and thickness of the $V_2O_5$ films. Therefore, $V_2O_5$ films fabricated with optimized amount of PVP can be a promising EC material for high-performance EC devices.
Dissolution procedure of vanadium pentoxide, which is widely used as a catalyst for production of sulfuric acid or an oxide reaction of the numerous organic compounds, was investigated. Reagent of vanadium pentoxide was completely dissolved in aqua regia-$H_2O_2$-HF solution, but plate type of vanadium pentoxide sample was not clearly dissolved with mixed acids. Thus, in order to establish the dissolution procedure for plate type of vanadium pentoxide, the solubility of vanadium pentoxide was investigated through comparison of acid treatment-fusion and microwave digestion methods. The optimized acid for dissolution of vanadium compound was found to be mixing acids of aqua regia, $H_2O_2$ and HF. Acid-fusion and microwave digestion methods have a similar property in the solubility of vanadium compound, but the latter was more quick and convenient procedure. The content of vanadium pentoxide was found to be $97.9{\pm}0.9%$ using an inductively coupled plasma atomic emission spectrometer after dissolution of a sample with the microwave digestion system.
We report low operating voltage and long lifetime organic light-emitting diodes (OLEDs) with a vanadium oxide $(V_2O_5)-doped$ N,N'-di(1-naphthyl)- N,N'-diphenylbenzidine $({\alpha}-NPD)$ layer between indium tin oxide and ${\alpha}-NPD$. At a luminance of $1000\;cd/m^2$, $V_2O_5$ doped ${\alpha}-NPD$ device shows a operation voltage of 5.1V, while the device without $V_2O_5$ shows 5.8V. The $V_2O_5$ doped $({\alpha}-NPD)$ device also shows a longer lifetime and smaller operation voltage variation over time. It is suggested that the improved device performance can be attributed to the higher hole-injection efficiency and stability of the $V_2O_5$ doped $({\alpha}-NPD)$ layer.
Kim, Geonhwa;Yoon, Joonseok;Yang, Hyukjun;Lim, Hojoon;Lee, Hyungcheol;Jeong, Changkil;Yun, Hyungjoong;Jeong, Beomgyun;Ethan, Crumlin;Lee, Juhan;Ju, Honglyoul;Mun, Bongjin Simon
Proceedings of the Korean Vacuum Society Conference
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2015.08a
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pp.125.2-125.2
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2015
The evolution of oxidation states of vanadium is monitored with ambient pressure X-ray photoemission spectroscopy. As the pressure of oxygen gas and surface temperature change, the formations of various oxidation states of vanadium are observed on the surface. Under 100mTorr of the oxygen gas pressure and 523K of sample temperature, VO2 and V2O5 are formed on the surface. The temperature-dependent resistance measurement on grown sample shows a clear metal-insulator transition near 350K. In addition, the measurement of Raman spectroscopy displays the structural change from monoclinic to rutile structures across the phase transition temperature.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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