CsI(Br) single crystals doped with 1, 3, 5 or 10 mole% $Br^-$ ions, as an activator, were grown by Czochralski method. The lattice structure of grown CsI(Br) single crystal was bcc and its lattice constant was $4.568\;{\AA}$. The absorption edge of the CsI(Br) single crystals was observed at 243 nm. The spectral range of the luminescence excited by 243 nm of wavelength was $300{\sim}600\;nm$, and its peak emission appeared at 440 nm. The luminescence intensity was maximum when CsI(Br) was doped with 3 mole % $Br^-$ ions. The energy resolutions of the CsI(Br) scintillator doped with 3 mole % $Br^-$ ions were 15.0% for $^{137}Cs$(662 keV), 13.1% for $^{54}Mn$(835 keV), and 18.0% and 6.3% for $^{22}Na$(511 keV and 1275 keV), respectively. The decay curves had fast and slow components, and the fast component was about 41 ns independent on the concentration of the $Br^-$ ions. The time resolution of CsI(Br) scintillators decreased with increasing of the concentration of $Br^-$ ions.
Proceedings of the Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers Conference
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1999.05a
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pp.349-352
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1999
We have investigated the electrical characteristics of arachidic acid($C_{20}$), stearic acid(C_{18} and palmitic acid($C_{16}$) Langmuir-Blodgett(LB) films because the fatty acid systems have a same hydrophilic group and a different hydrophobic one (alkyl chain length). In this work, fatty acid systems were used as LB films and the status of the deposited films were confirmed by evaluating the capacitance and I-V characteristics. The conductivity of $C_{20}$, C_{18} and $C_{16}$ LB films obtained from I-V characteristics were about 5x $10^{15}$, 3x $10^{14}$ and 9x $10^{14}$[S/cm], espectively. These results have shown the insulating materials and could control the conductivity by changing the length of alkyl chain. Also, we have confirmed that the barrier height of fatty acid systems were about 1.32- 1.40[eV] and the relative dielectric constant were about 2.9~4.2. These values were almost the same ones obtained from dielectric characteristics.
CsI(Li) single crystals doped with 0.02, 0.1, 0.2 and 0.3 mole% lithium as an activator were grown by Czochralski method. The lattice structure of grown CsI(Li) single crystal was bcc, its lattice constant was $4.568\;{\AA}$. The absorption edge of CsI(Li) single crystal was 245 nm, and the spectral range of luminescence was $300{\sim}600\;nm$, its maximum luminescence intensity appeared at 425 nm. The energy resolutions of CsI(Li) single crystal doped with 0.2 mole% lithium were 14.5% for $^{137}Cs$(662 keV), 11.4% for $^{54}Mn$(835 keV) and 17.7% and 7.9% for $^{22}Na$(511 keV and 1275 keV), respectively. The relation formula of $\gamma$-ray energy versus energy resolution was ln (FWHM%) = -0.893lnE + 8.456 and energy calibration formula was ${\log}E_r=1.455\;{\log}(ch.)-1.277$. The phosphorescence decay time of CsI(Li) crystal doped with 0.2 mole% lithium was 0.51 s at room temperature, and its time resolution measured by CFT(constant-fraction timing method) was 9.0 ns.
The effect of particle shape and size on the settling characteristics in monodisperse suspensions of non-spherical particles was investigated. The slope index n values which was obtained from the plot of logarithm of settling rate vs. voidage were increased with the decrease of particle size because different amount of liquid could be adsorbed on irregular particle shape and/or size at same volume concentration. From the experimental results, an equation, $n_{i}=n(a+b/d_{v})$ where n is value of spherical particles, dv is minimum particle diameter and a, b are constants for characteristic of particles.
Park, Jae-Hong;Lee, Jung-Woo;Chang, Sun-Young;Park, Tae-Hee;Han, Bong-Woo;Han, Jin-Wook;Yi, Whi-Kun
Bulletin of the Korean Chemical Society
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v.29
no.5
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pp.1048-1050
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2008
Electric current flow was observed through imogolite film when imogolite ($(HO)_3Al_2O_3SiOH$) was exposed to water molecules and connected to external electrodes. Current flow was due to the bound water on the surface of imogolite. Current flow increased as the pH of the water decreased. The current-voltage (I-V) measurements from a field effective transistor (FET) using $H_2O$/imogolite film revealed that the current carrier in $H_2O$/ imogolite had p-type characteristics, i.e. the carrier was probably $H^+$. The possible mechanism for current transportation in imogolite/water was also suggested in this paper.
In order to evaluate the insulation deterioration in the stator windings of five gas turbine generators(137 MVA, 13.8 kV) which has been operated for more than 13 years, diagnostic test and AC dielectric breakdown test were performed at phases A, B and C. These tests included measurements of AC current, dissipation factor, partial discharge (PD) magnitude and capacitance. ${\Delta}I$ and ${\Delta}tan{\delta}$ in all three phases (A, B and C) of No. 1 generator stator windings showed that they were in good condition but PD magnitude indicated marginally serviceable and bad level to the insulation condition. Overall analysis of the results suggested that the generator stator windings were indicated serious insulation deterioration and patterns of the PD in all three phases were analyzed to be internal, slot and spark discharges. After the diagnostic test, an AC overvoltage test was performed by gradually increasing the voltage applied to the generator stator windings until electrical insulation failure occurred, in order to determine the breakdown voltage. The breakdown voltage at phases A, B and C of No. 1 generator stator windings failed at 28.0 kV, 17.9 kV, and 21.3 kV, respectively. The breakdown voltage was lower than that expected for good-quality windings (28.6 kV) in a 13.8kV class generator. In the AC dielectric breakdown and diagnostic tests, there was a strong correlation between the breakdown voltage and the voltage at which charging current increases abruptly ($P_{i1}$, $P_{i2}$).
Proceedings of the Korean Institute of Surface Engineering Conference
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2003.05a
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pp.53-53
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2003
Plasma polymerized organic thin films were deposited on Si(100) glass and metal substrates using thiophene and ethylcyclohexane precursors by PECVD method. In order to compare electrochemical properties of the as-grown thin films, the effects of the RF plasma power in the range of 30~100 W. AFM showed that the polymer films with smooth surface and sharp interface could be grown under various deposition conditions. Impedance analyzer was utilized for the determination of I-V curve for leakage current density and C-V for dielectric constants, respectively. To obtain C-V curve, we used a MIM structure of metal(Al)-insulator(plasma polymerized thin film)-metal(Pt) structure. Al as the electrode was evaporated on the thiophene films that grew on Pt coated silicon substrates, and the dielectric constants of the as-grown films were then calculated from C- V data measured at 1MHz. From the electrical property measurements such as I-V and C-V characteristics, the minimum dielectric constant and the best leakage current of thiophene thin films were obtained to be about 3.22 and $1{\;}{\times}10^{-11}{\;}A/cm^2$. However, in case of ethylcyclohexane thin films, the minimum dielectric constant and the best leakage current were obtained to be about 3.11 and $5{\;}{\times}10^{-12}{\;}A/cm^2$.
Differently from BSCCO tapes which are fabricated by powder-in-tube method, the coated conductors are made by the evaporation of YBCO on metal substrate. Due to this structural merit, although the coated conductors are generally used for large current transportation, they are expected to be favorable to the purpose of the fault current limitation as well. In this study, using YBCO coated conductor having copper stabilizer formed by plating technique(produced by Superpower Co.), we investigated the over-current characteristics of the coated conductor. The coated conductors had 85 A $I_c$ and 90 K $T_c$. The resistance of the conductor was 0.93 $m{\Omega}/cm$ at 300 K and 0.17 $m{\Omega}/cm$ at the temperature right above $T_c$. To the coated conductors, we applied the voltages of the range from 150 $V_{rms}$ to 230 $V_{rms}$ and measured the V-I curves using four probe method. From the results, we could analyze the electric behavior of the coated conductor in flux flow state. As the current exceed $I_c$, the currents were distributed into the superconductor and metal stabilizer. The amounts of the currents shared through both current paths were calculated under the assumption that the ,Joule heating was perfectly eliminated by $LN_2$ surrounding the conductor. Finally, the condition for the stable current flowing state which does not affect the conductor was established from the analysis on the over-current characteristics.
In this paper, two types of blue organic light-emitting device were designed. We have analyzed the characteristics of Type I device without a hole blocking layer, and analyzed the characteristics of Type II device using a hole blocking layer of BCP or BAlq materials with 30 ${\AA}$ thickness. We obtained the ITO having the work function value of 5.02 eV using $N_2$ plasma treatment method with the plasma power 200 W. Type I device structure was ITO/2-TNATA/$\alpha$-NPD/DPVBi/$Alq_3$/LiF/Al:Li, and type II device structure was ITO/2-TNATA/$\alpha$-NPD/DPVBi/HBL/$Alq_3$/LiF/Al:Li. We have analyzed the characteristics of Type I and Type II device. The characteristics of the device were most efficiency on occasion of using a hole blocking layer of BAlq material with 30 ${\AA}$ thickness. Current density was 226.75 $mA/cm^2$, luminance was 10310 $cd/m^2$, Current efficiency was 4.55 cd/A, power efficiency was 1.43 lm/W at an applied voltage of 10V. The maximum EL wavelength of the fabricated blue organic light-emitting device was 456nm. The full-width at half-maximum (FWHM) for the EL spectra was 57nm. CIE color coordinates were x=0.1438 and y=0.1580, which was similar to NTSC deep-blue color with CIE color coordinates of x=0.14 and y=0.08.
Using current-voltage (I-V) and capacitance-voltage (C-V) measurements, the electrical properties of Au and Cu Schottky contacts to n-Ge were comparatively investigated. Lower values of barrier height, ideality factor and series resistance were obtained for the Au contact as compared to the Cu contact. The values of capacitance showed strong dependence on the bias voltage and the frequency. The presence of an inversion layer at the interface might reduce the intercept voltage at the voltage axis, lowering the barrier height for C-V measurements, especially at lower frequencies. In addition, a higher interface state density was observed for the Au contact. The generation of sputter deposition-induced defects might occur more severely for the Au contact; these defects affected both the I-V and C-V characteristics.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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