In this paper, we have tried to focus on the optimum conditions of crystal structure parameters on YBCO high Tc oxide-superconductor as an excel lent electronic parts. When we verify the characteristic improvement of superconductance and accurate reproduction and so forth, we have made use of RIETAN. We have varied the lattice constant with oxygen content from 6.0 to 7.0 as for transition of orthogonal structure and tetragonal structure for the superconductor. As the result of above, we have preyed that transition from orthogonal structure to tetragonal structure is made at the point of 6.6(oxygen content) by using the simulation.
Fe-Se-Te계(FeSe(sub)1-xTe(sub)x, x=0.2, 0.5, 0.8)의 특성을 X-선 회절법 및 Mossbauer 분광법에 의해 조사하였다. 결정구조는 세 시료 모두 주된 tetragonal PbO 구조와 hexagonal NiAs 구조가 일부 혼합된 형태를 보였으며 x=0.5의 경우 tetragonal 구조의 격자상수 값은 a=3.795$\AA$, c=5.896$\AA$ 이며 c/a=1.55로 나타났다. 다양한 온도변화에 의해 측정된 Mossbauer 스펙트럼은 전체 시료 모두 초미세 자기구조를 갖지 않는 강한 이중선(doublet)이 관측되었다. 조성 및 온도변화에 대해 뚜렷한 선형(line shape)의 변화는 관측되지 않았으나 결합상태에 약간의 변화를 보였다. 이성질체 이동(isomer shift)값과 사중극자 분열(quadrupole splitting)값 및 온도의존성을 분석한 결과 Fe는 low spin이 +2가 상태로 존재하며 강한 공유 결합상태임을 알 수 있었다. x=0.8의 경우 이성질체 이동값의 온도변화는 제2차 도플러 효과(second order Doppler effect)의 영향인 것으로 나타났다.
The properties of the powder of ZrO2+3m/o Y2O3 system prepared by co-precipitation method at the pH values of 7, 9, 10 and 11 were investigated. ZrOCl2.8H2O and YCl3.6H2O were used as starting materials and NH4OH as a precipitation agent. Zirconium hydroxide near by Zr(OH)4 structure showed more excellent crystallinity and lower formation temperature of tetragonal ZrO2. In the range of this study, cubic ZrO2 was not formed and stability of tetragonal ZrO2 prepared in the conditiion of pH 7 was most excellent. Average particle sizes and specific surface areas of tetragonal ZrO2 powders, prepared as calcining amorphous zirconium hydroxides at $600^{\circ}C$ for 1h, were 0.6-0.8${\mu}{\textrm}{m}$ and 45-70$m^2$/g, respectively.
PZT ceramics substituted by La3+ and Nd3+ were fabricated according to the formula: [Pb1-x(La or Nd)x][Zr0.58Ti0.42]1-x/4$\square$x/4O3(x=0.00, 0.02, 0.05, 0.08, 0.15, 0.20). The crystal structure and microstructure were investigated by XRD and SEM. It was observed that the phase transitions among rhombohedral, tetragonal, and cubic symmetry occured as the substitutional quantity increased. Dielectric constant, dissipation factor and piezoelectric coefficient (d33), of each sample were measured. The dielectric properties were changed as the substitutional quanity of rare earth ion increased. These changes could be explained by crystal structure and compositional fluctuaction. Its d33 was higher at tetragonal region near to phase boundry between rhombohedral and tetragonal, which was explained by reorientation of domain wall.
Long length of Bi-2223 superconducting wires were fabricated by stacking, drawing process with different precursor owders and different heat-treatment histories. The precursor powders were 2 kinds of Pb content. And a part of the tapes were experienced pre-annealing process which caused tetragonal structure of Bi-2212 phase to orthorhombic structure of it was during drawing process. We confirmed the transformation of Bi-2212 phase from tetragonal structure to orthorhombic structure and reduction of second phases. We designed and made a continuous Ic measurement system for Bi-2223/Ag HTS tape. We could achieve best Ic of 65 A at the Bi-2223/Ag tape using low Pb content of precursor powder and experienced pre-annealing process.
Bridgman 방법으로 성장된 $TlGa_xIn_{1-x}Se_2$ 단결정의 격자상수와 energy gap의 성분의존성을 조사하였다. $TlGa_xIn_{1-x}Se_2$ solid solution의 불연속 특성이 tetragonal과 monoclinic 구조를 가진 0.25$0.0{\leq}X{\leq}0.25$)로부터 monoclinic 구조($0.65{\leq}X{\leq}1.0$)로 변하는 구조적 상전이가 이 성분영역에서 관측되었다. $TlGaSe_2$ 단결정의 energy gap과 유전상수의 온도의존성으로부터 각각 1차 및 2차 상전이에 상당하는 107 K와 120 K에서 변칙특성을 발견하였다.
Tungsten silicied (WSix) has been widely used for interconnection line to improve the speed and reliability of devices. It is known that WSix formed by silane reduction has poor step coverage and poor adhesion. In this research, WSix by dichlorosilane reduction showed excellent adhesion in cellophane adhesive tape test, and improved step coverage by two times. The crystal structure of the as-deposited WSix film by silane reduction was transformed from the hexagonal to the tetragonal structure during annealing treatment, while that by dichlorosilane reduction kept the stable tetragonal structure. The fluorine concentration in the WSix film by dichlorosilane was lower than that by silane.
In this study, PLZT stock solutions were prepared by sol-gel processing to fabricate PLZT thin films. The stock solutions were spin-coated on ITO-glass and the film were annealed by rapid thermal annealing(RTA). The variation of tile crystallographic structure of the thin films and the phase transition with respect to it were observed using Raman spectra. Raman result showed that the band of spectra are broad as the amount of Zr substitution increased and specially, abrupt change occurs in the raman spectra upon crossing the tetragonal-rhombohedral phase boundry at 2/55/45 PLZT thin film. So, the fact that the crystallographic structure was transitted from tetragonal to rhombohedral structure was certified.
Solid solutions of Pr2-xBaxNiO4±δ with K2NiF4-type structure were prepared in air and characterized by powder X-ray diffraction, Rietveld refinements, iodometry titrations, and conductivity measurements. The range of the solid solution was 0 ≤ x < 0.5. The crystal structure changes from orthorhombic (Fmmm) for x ≤ 0.1 to pseudo-tetragonal (I4/mmm) for x ≥ 0.2. The orthorhombic structure of x=0.1 transforms to tetragonal at low temperature. The bond distances obtained from the Rietvel analyses did not vary significantly with the Ba content except that of Ni-O (parallel to the c-axis) which showed an abrupt increase from x=0.1 to 0.2. The excess oxygen content (δ) decreases from 0.241 to 0.03 with increasing substituted Ba contents within the solution range. The samples are all semiconductors at the temperature range 4 < T < 300 K.
The calculated and measured dielectric constant of (1-x)(Al$\sub$1/2/Ta$\sub$1/2/)O$_2$-x(Mg$\sub$1/3/Ta$\sub$2/3/)O$_2$(O$\leq$x$\leq$1.0) solid solutions were investigated by variations of ionic polarizability and crystal structure. (Al$\sub$1/2/Ta$\sub$1/2/)O$_2$ and (Mg$\sub$1/3/Ta$\sub$2/3/)O$_2$were orthorhombic and tetragonal trirutile structure, respectively. When (Al$\sub$1/2/Ta$\sub$1/2/)O$_2$ was substituted by (Mg$\sub$1/3/Ta$\sub$2/3/)O$_2$, the phase transformed to tetragonal structure over 60 mole%. Because the ionic radius of (Mg$\sub$1/3/Ta$\sub$2/3/)O$_2$was slightly bigger than one of (A1$\sub$1/2/Ta$\sub$1/2)O$_2$, the cell parameters increased with an increase of (Mg$\sub$1/3/Ta$\sub$2/3/)O$_2$ substitution. The measured dielectric constant increased with an increase of (Mg$\sub$1/3/Ta$\sub$2/3/)O$_2$ substitution and coincided with dielectric mixing rule and the calculated dielectric constant with the molecular additivity rule. There were some differences between the measured and the calculated dielectric constant. The reason of the lowered dielectric constant comparing with the calculated one was compressed stress due to the electronic structure of tantalum.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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