Metamaterials operating in the terahertz frequency range show promising potential for use in highly sensitive microbial sensors that are capable of effectively detecting microorganisms in the ambient environment. We were able to detect extremely small numbers of microorganisms by measuring the differential transmission spectra (DTS) of the metamaterial resonances. This was possible because their sizes are on the same scale as the microgaps of the terahertz metamaterials. DTS depend critically on the number of microorganisms placed in the gap area, and their dielectric constant. In addition, these metamaterial microbial sensors are reusable, because the microorganisms can be completely removed by fungicide solution. Finite-difference time-domain simulations successfully reproduce our experimental data.
Kang, Chul;Kim, Myunghwan;Kim, Hyeongmun;Park, Jin Young;Kim, Bok Hyeon;Maeng, Inhee;Choi, SooBong;Kim, Soeun;Kee, Chul-Sik
Current Optics and Photonics
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v.5
no.4
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pp.370-374
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2021
Corals are the remains of animals that grow on warm beaches. They have been used as decorative jewels because of their variety of colors, and as medicinal materials for treating cancers, AIDS, and other therapeutic uses because of their chemical elements. Corals are mainly composed of calcium carbonate (CaCO3) and have many air pores, tens to hundreds of micrometers in size. The refractive indices and absorption coefficients of dried sliced staghorn corals are investigated using terahertz time-domain spectroscopy. The measured values are similar to those for CaCO3, as expected. It is observed that a sample with a microstructure formed by air pores can guide terahertz waves. The dispersion, effective index, and loss of the guiding modes of coral core surrounded by five triangular air pores are numerically calculated. The simulated spatial distribution of the electric field of the guide mode at 1.25 THz shows the mode to be tightly confined to the core.
Terahertz (THz) time-domain spectroscopy(TDS), imaging techniques, and related systems have become mature technologies, widely used in many universities and research laboratories. However, the development of creative technologies still requires improved THz application systems. A few key points are discussed, including the innovative advances of mode-locking energy-emitting semiconductor lasers and better photoconductive semiconductor quantum structures. To realize a compact, low cost, and high performance THz system, it is essential that THz spectroscopy and imaging technologies are better characterized by semiconductor and nano-devices, both static and time-resolved. We introduce the THz spectroscopy and imaging systems, the OSCAT(Optical Sampling by laser CAvity Tuning) system and the ASOPS(ASynchronous Optical Sampling) system, are constructed by our research team. We report on the THz images obtained from their use.
Proceedings of the Optical Society of Korea Conference
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2002.07a
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pp.172-173
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2002
As feature sizes of circuits and devices approach 100 m and chip frequencies climb into the upper gigahertz to terahertz range, it becomes increasingly important to have a convenient method of characterizing properties of thin dielectric films in the GHz to THz frequency range [1]. To measure the dielectric and optical properties of materials at THz frequency, a TH2 time-domain spectroscopy has been utilized during past decade. (중략)
Journal of the Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers
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v.14
no.3
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pp.202-206
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2001
Using THz time-domain spectroscopy (THz-TDS), the power absorption, the index of refraction, and the real conductivity of silica sand are measured from 0.1[Thz] to 0.5[Thz] frequency range. It is impossible to measure the characterization of the silica sand by simple electrical measurements using mechanical contacts, e.g., Hall effect or four-point probe measurements. However, the THz-TDS technique can measure not only electrical but also optical characterization of he sample. Also this technique can measure frequency dependent results. Especially, the real conductivity was increased according to THz frequency. This is unusual material compare with metal and semiconductor materials; the measured real conductivity are not followed by the simple Drude theory.
Im, Kwang-Hee;Jang, Ju-Hwan;Back, Chong-Gui;Jeong, Ok-Su;Hsu, David K.
Journal of the Korean Society of Manufacturing Technology Engineers
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v.21
no.6
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pp.1003-1007
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2012
A nondestructive technique would be very useful. Advanced NDE T-ray (terahertz ray) techniques of technology and instrumentation has provided a probing field on the electromagnetic spectrum. However, the T-ray is limited in order to penetrate a conducting material to some degree. Here, the T-ray would not go through easily the CFRP composite laminates since carbon fibers are electrically conducting while the epoxy matrix is not. So, investigation of terahertz time domain spectroscopy (THz TDS) was made and reflection and transmission configurations were studied for a 48-ply thermoplastic PPS(poly-phenylene sulfide)-based CFRP solid laminate. It is found that the electrical conductivity of CFRP composites depends on the direction of unidirectional fibers.
Terahertz dual-band frequency selective surface filters made by perforating two different rectangular holes in molybdenum have been designed, fabricated and measured. Physical mechanisms of the dual-band resonant responses are clarified by three differently configured filters and the electric field distribution diagrams. The design process is straightforward and simple according to the physical concept and some formulas. Due to the weak coupling between the two neighboring rectangle holes with different sizes in the unit cell, good dual-band frequency selectivity performance can be easily achieved both in the lower and higher bands by tuning dimensions of the two rectangular holes. Three samples are fabricated, and their dual-band characteristics have been demonstrated by a THz time-domain spectroscopy system. Different from most commonly used metal-dielectric structure or metal-dielectric-metal sandwiched filters, the designed dual-band filters have advantages of easy fabrication and low cost, the encouraging results afforded by these filters could find their applications in dual-band sensors, THz communication systems and other emerging THz technologies.
We have investigated spectral properties of the periodic arrays of aluminum rods and holes on papers using the terahertz time-domain spectroscopy. The size of a rod(hole) is $600{\mu}m{\times}100{\mu}m$ and the spacing is $300{\mu}m$. The samples were fabricated by a femtosecond laser micromachining system. The periodic arrays of aluminum rods exhibit high reflection around 0.25 THz when the polarization of the THz pulse is parallel to the long axis of the rod, whereas the periodic arrays of holes exhibit high transmission around 0.25 THz when the polarization of the THz pulse is perpendicular to the long axis of the hole.
Proceedings of the Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers Conference
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2007.11a
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pp.28-28
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2007
Ferroelectric $(Ba_{0.5}Sr_{0.5})TiO_3$ (BST) thin films of thickness 500nm were deposited on $LaAlO_3$, (LAO) substrates by at $800^{\circ}C$. BST films were characterized for structure using X-ray diffraction (XRD). The surface morphology and thickness of BST the films were characterized by atomic force microscopy (AFM) and field emission scanning electron microscope (FESEM). We measured the dielectric properties at microwave frequencies (1~3 GHz) using a symmetrical stripline resonator with shorted ends and terahertz frequencies (0.2~2.5 THz) using a time-domain terahertz spectroscopy. The real and imaginary parts of the complex dielectric constant of the BST thin films on LAO substrates were in agreement with those previously reported.
Journal of the Korean Society for Nondestructive Testing
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v.37
no.1
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pp.1-6
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2017
In this study, a terahertz time domain spectroscopy (THz-TDS) imaging technique was used to measure doping concentration and physical properties (such as refractive index and permittivity) of the doped silicon (Si) wafers. The transmission and reflection modes with an incidence angle of $30^{\circ}$ were employed to determine the physical properties of the doped Si wafers. The doping concentrations of the prepared Si wafers were varied from $10^{14}$ to $10^{18}$ in both N-type and P-type cases. Finally, the correlation between the doping concentration and the power of the THz wave was determined by measuring the powers of the transmitted and reflected THz waves of the doped Si wafers. Additionally, the doped thickness, the refractive index, and permittivity of each doped Si wafer were calculated using the THz time domain waveform. The results indicate that the THz-TDS imaging technique is potentially a promising technique to measure the doping concentration as well as other optical properties (such as the refractive index and permittivity) of the doped Si wafer.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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