To investigate the effect of D-ferrite on the hot workability and surface defect of STS 304 billets containing 3 wt. % Cu, microstructure observations and high temperature mechanical properties test were carried out for the specimens extracted mainly from raw or oxidized billets. It was found that the total $\delta$-ferrite content has little influence on the hot workability, even though the fracture cracks due to high temperature tension or compression test were initiated and propagated mostly along $\delta$/${\gamma}$ boundary in the specimens. On the other hand, it was supposed that the direct causes of surface defects in the wire rolled from the as-continuously cast billet were the grain boundary embrittlement arose from the deep diffusion of oxygen into the grain boundary, and the oxidation of $\delta$-ferrite connected by a grain boundary to the surface during the billet reheating process as well.
The effect of temperature and pressure in the nitrogen ambient furnace on bulk micro defect (BMD) and denuded zone (Dz) is experimentally investigated. It is found that as pressure increases, Dz depth increases with a small decrease of BMD density in the range of temperature, $100{\sim}300^{\circ}C$. BMD density with hot isostatic pressure treatment (HIP) at temperature of $850^{\circ}C$ is higher than that without HIP while Dz depth is lower due to much higher BMD density. As the pressure increases, BMD density is increased and saturated to a critical value, and Dz depth increases even if BMD density is saturated. The concentration of nitrogen increases near the surface with increasing pressure, and the peak of the concentration moves closer to the surface. The nitrogen is gathered near the surface, and does not become in-diffusion to the bulk of the wafer. The silicon nitride layer near the surface prevents to inject the additional nitrogen into the bulk of the wafer across the layer. The nitrogen does not affect the formation of BMD. On the other hand, the oxygen is moved into the bulk of the wafer by increasing pressure. Dz depth from the surface is extended into the bulk because the nuclei of BMD move into the bulk of the wafer.
In recent year, OLED(organic light emitted display) is used as the next generation device of FPD. OLED have been replacing the flat panel display device such as LCD, STN-LCD and TFT because this device is more efficient, economic and simple than those FPD devices, and this need not backlight system for visualization. The performance and efficiency of OLED is related with surface defect of ITO coated glass substrate. The typical surface defect of glass substrate is nonuniformity and bad surface roughness. ITO coated glass substrate is destroied for inspection about surface roughness and non-uniformity. Generally detection of the defects in the surface for ITO coated glass substrate is dependent on operator's experience. In this research, relationship between working parameter and surface non-uniformity is studied using regression analysis.
In this study, numerical investigation has been performed on the impingement, spreading and solidification of a coating material droplet impacting onto a solid substrate in the thermal spray process. The numerical model is validated through the comparison of the present numerical result with experimental data fer the flat substrate without surface defects. An analysis of deposition formation on the non-polished substrate with surface defects is also performed. The parametric study is conducted with various surface defect sizes and shapes to examine the effect of surface defects on the impact and solidification of the liquid droplet on the substrate.
It is required to evaluate nondestructively depth of surface-breaking cracks in structures. In this paper, the self-compensated technique by laser-based ultrasound is used to measure the depth of surface-breaking defect. Optical generation of ultrasound produces a well defined pulse with reliable frequency content. It is broad banded and suitable for measurement of attenuation and scattering over a wide frequency range. The self-calibrated signal transmission data of surface wave shows good sensitivity as a practical tool far assessment of surface-breaking defect depth. It is suggested that the relationship between the signal transmission and crack depth can be used to predict the surface-breaking crack depths in structures.
평판 디스플레이 부품시장 및 관련 개발장비 시장의 확대에 따른 백라이트 생산업체들의 수가 크게 증가했음에도 불구하고 LCD부품의 색재현에 좋지 못한 영향을 끼치는 백라이트 표면의 이물이나 백점, 스크래치와 같은 결함검사는 여전히 작업자의 육안에 의존하고 있는 실정이다. 그러나 육안검사에서는 작업자의 신체상태나 작업능력에 따라 검사정밀도와 검사속도 등이 달라질 수 있기 때문에 검사품질의 일관성을 유지시키기 어려울 뿐만 아니라 전체 공정의 효율도 저하시킨다. 본 연구에서는 백라이트 표시면치육안 결함검사를 자동화할 수 있는 백라이트 표면결함 검사시스템 개발에 관해 연구하였으며, 이를 위해 컴퓨터비젼시스템을 구성하고 검사공정을 위한 운용프로그램과 검사작업에 필요한 작업자 인터페이스 그리고 결함정보 추출을 위한 영상처리모듈을 구현하였다 또한, 이진화된 결함화소들 간의 연결구조로부터 고립된 결함영역을 추출하기 위해 레이블 테이블과 결함 인덱스를 사용한 레이블링 알고리즘을 고안하였다. 본 검사시스템의 검사성능을 평가하기 위한 실험결과, 시각적으로 식별가능 한 모든 결함영역이 검사시스템에 의해 검출됨에 따라 본 연구의 검사시스템이 작업자의 육안검사를 대체하기에 만족할만한 성능을 보임을 착인 할 수 있었다.
Carbon-supported Pt catalyst systems containing defect adsorption sites on the anode of direct methanol fuel cells were investigated, to elucidate the mechanisms of H2 dissociation and carbon monoxide (CO) poisoning. Density functional theory calculations were carried out to determine the effect of defect sites located neighboring to or distant from the Pt catalyst on H2 and CO adsorption properties, based on electronic properties such as adsorption energy and electronic band gap. Interestingly, the presence of neighboring defect sites led to a reduction of H2 dissociation and CO poisoning due to atomic Pt filling the defect sites. At distant sites, H2 dissociation was active on Pt, but CO filled the defect sites to form carbon π-π bonds, thus enhancing the oxidation of the carbon surface. It should be noted that defect sites can cause CO poisoning, thereby deactivating the anode gradually.
제안된 동판 표면 검사 시스템은 PC-기반으로 다중 스레드 기법과 다중 CPU를 이용해 동판 표면의 결함을 실시간으로 검사하는 시스템이다. 초고속 라인 스캔 카메라로 영상 취득 보드에 영상을 실시간으로 취득하여 처리할 때, 더블 버퍼링 방법으로 입출력과 처리가 동시에 수행되어 처리 속도를 높인다. 다중 스레드 기법에서는 시스템 자원 활용과 다중 스레드로 CPU의 사용을 최대화하여 실시간 처리하며, 다중 스레드 구조로도 실시간 처리가 어려운 경우에는 다중 CPU를 사용하여 이를 해결한다. 또한 동판 표면 영상에서 결함 검출하여 분류할 때, 실시간 처리를 만족시키기 위해서 결함영상의 공분산 행렬의 고유치 비율, 명암차 등의 연산으로 분류할 수 있는 방법을 제시한다. 결함의 검출은 조명 불균형에 대한 보상 처리가 적용된 다음 임계치에 의해 검출된다. 검출된 결함은 제안된 분류 방법으로 특징을 분석한 뒤 결함의 형태를 분류한다. 특징은 결함 너비와 고유치 비율, 명암차 등이 사용되었다. 제시된 방법을 검증하기 위해서 총 141개의 결함을 분류하는 실험이 진행되었고, 결과로는 89.4% 성공률을 보였다.
Interstitial-free (IF) steels are widely used for car body material. However, a few types of streaky mark defect are commonly found on hot dip galvannealed (GA) IF steel sheets. In the present study, both the phase structure of a streaky mark defect and the microstructure of the substrate just below it were characterized by optical microscopy (OM) and scanning electron microscopy (SEM). It was found that the bright streaky mark area was composed of ${\delta}$ phase while the dark normal area was full of craters. More than half of the grains at the uppermost surface of the substrate just below the streaky mark defect are unrecrystallized grains which could result from lower finish rolling temperature during hot rolling and be kept stable during the annealing process, while almost all the grains in the normal area are equiaxed grains. In order to confirm the effect of the unrecrystallized grains on the coating morphology, hot dip galvannealing simulation experiments were carried out in IWATANI HDPS. It is proved that the unrecrystallized grains accelerate the Fe-Zn reaction rate during galvannealing and result in a flatter coating surface and an even coating thickness. Finally, a formation mechanism of the streaky mark defect on the hot dip galvannealed IF steel sheet was discussed.
A method to quantitatively analyze the defects formed by the hydrogen evolution during electroplating was suggested based on the theoretical approach of the small angle neutron scattering technique. In case of trivalent chrome layers, an isolated defect size due to the hydrogen evolution was about 40 nm. Direct and pulse plating conditions gave the average defect size of about 4.9 and $4.5{\mu}m$ with rod or calabash shape, respectively. Current density change of the pulse plating from $1.5A/dm^2$ to $2.0A/dm^2$ enlarged the average defect size from 3.3 to $7.8{\mu}m$. The defect morphology like rod or calabash was originated by inter-connecting the isolated defects. Small angle neutron scattering was useful to quantitatively evaluate defect morphology of the deposit.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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