• 제목/요약/키워드: Spectroscopic ellipsomerty

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타원 분광기를 이용한 CdTe/GaAs 박막의 복소 유전함수에 관한 연구 (Complex dielectric function of CdTe/GaAs thin films studied by spectroscopic ellipsometry)

  • 진광수;조재혁;박효열
    • 한국결정성장학회지
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    • 제15권4호
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    • pp.157-161
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    • 2005

  • Hot-wall epitaxy 법으로 GaAs 기판 위에 성장시킨 CdTe 박막을 실온에서 포톤에너지 1.5${\~}$5.5 eV 영역에서 타원 분광기로 복소 유전함수를 구하였다. 타원분광기의 스펙트럼에서는 $E_l,\;E_1+{\Delta}_1$, $E_2$의 임계점이 관찰되었으며 이들 에너지는 CdTe 박막의 두께가 증가함에 따라 감소하였다.

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