Proceedings of the Korean Society of Precision Engineering Conference
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1997.04a
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pp.1009-1014
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1997
The small material removal rate of elastic emission machinong (EEM) becomes a serious problem due to using fine powder particles for obtaining finished of high quality. If a cylindrical polyurethane-wheel is used as a tool for accelerating powder particles, the efficiency of machining may be increased through enlarging the machining regionand increasing the surface velocity of the wheel. If these analyicl results are compared with experimental ones, characteristics of EEM using polyurethan-wheel can be clarified. In this study, effects of EEM using cylindrical polyurethane-wheel on the surface roughness and the material removal rate were verified through polishing of the brittle material under various conditions. The high-efficient polishing of silicon wafer has been also carried out using this method.
Proceedings of the Korean Society of Precision Engineering Conference
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2000.11a
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pp.939-942
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2000
Single point diamond turning technique for optical crystals is reported in this paper. The main factors influencing the machined surface quality are discovered and regularities of machining process are drawn. Optical crystals have found more and more important applications in the field of modern optics. Optical crystals are mostly brittle materials of poor machinability. The traditional machining method is polishing which has many shortcomings such as low production efficiency, poor ability to be automatically controlled and edge effect of the workpiece. The purpose of our research is to find the optimum machining conditions for ductile cutting of optical crystals and apply the SPDT technique to the manufacturing of ultra precision optical components of brittle material.
Proceedings of the Korean Society of Precision Engineering Conference
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2003.06a
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pp.1832-1835
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2003
This paper suggests the selective ultra precision polishing techniques for micro die and mold parts using magnetic-assisted machining. Fabrication of magnetic abrasive particle and their polishing performance are key technology at ultra precision polishing process of micro parts. Conventional magnetic abrasives have disadvantages. which are missing of abrasive particle and inequality between magnetic particle and abrasive particle. So, bonded magnetic abrasive particles are fabricated by several method. For example, plasma melting and direct bonding. Ferrite and carbonyl iron powder are used as magnetic particle where silicon carbide and Al$_2$O$_3$ are abrasive particle. Developed particles are analyzed using measurement device such as SEM. Possibility of magnetic abrasive and polishing performance of this magnetic abrasive particles also have been investigated. After polishing, surface roughness of workpiece is reduced from 2.927 $\mu\textrm{m}$ Rmax to 0.453 $\mu\textrm{m}$ Rmax.
Proceedings of the Korean Society of Machine Tool Engineers Conference
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1999.10a
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pp.502-506
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1999
Recently, the miniature of electric products such as notebook, cellular-phone etc. is apparently appeared, due to the smaller size of the semiconductor chips. As the size of chip gets smaller, the circuit could be easily damaged by the slightest influence, so it is important to control the chipping generation in the process of dicing. This paper deals with chipping of the silicon wafer dicing. The relationships between the dicing force and the wafer chipping are investigated. It is confirmed that the wafer chipping increases as the dicing force increases.
Journal of the Korean Society of Manufacturing Process Engineers
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v.4
no.1
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pp.18-23
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2005
This paper reports experimental results on microdrilling process for silicon parts used in semiconductor equipments. An experimental system was developed consisting of a high speed precision machine, microscope system, and project profile instrument. The experimental results indicate that the amount of chipping at the entrance and exit of micro hole decreases as the spindle speed increases up to 18,000 rpm. At higher spindle speed, however, the amount of chipping increases rapidly. The amount of chipping and infeed rate show proportional relationship up to 20 m/min of infeed rate. Beyond that infeed rate, however, sudden increase in the amount of chipping has occurred.
Park, Ki-Hyun;Jeong, Hae-Do;Park, Jae-Hong;Kinoshita, Masaharu
Journal of the Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers
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v.20
no.4
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pp.303-307
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2007
This paper investigated the effect of the pad buffing process on the material removal characteristics and pad stabilization during silicon chemical mechanical polishing. The pads surface were controlled by the buffing process using a buffer made by the sandpaper. The buffing process is based on abrasive machining by using a high speed sandpaper. The controlled pad by the buffing process show less deformation deviation and stable material removal rate during the CMP process. In addition, the controlled pad ensure better uniformity of removal rate than comparative pads. As a result of monitoring, the controlled pad by the buffing process demonstrated constant and stable friction force signals from initial polishing stage. Therefore, the tufting process could control the pad surface to be uniform and improve the performance of the polishing pad.
Kim, Jae-Gu;Chang, Won-Seok;Cho, Sung-Hak;Whang, Kyung-Hyun;Na, Suck-Joo
Journal of the Korean Society for Precision Engineering
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v.22
no.12
s.177
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pp.184-189
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2005
An experimental study of the femtosecond laser machining of Si materials was carried out. Direct laser machining of the materials for the feature size of a few micron scale has the advantage of low cost and simple process comparing to the semiconductor process, E-beam lithography, ECM and other machining process. Further, the femtosecond laser is the better tool to machine the micro parts due to its characteristics of minimizing the heat affected zone(HAZ). As a result of line cutting of Si, the optimal condition had the region of the effective energy of 2mJ/mm-2.5mJ/mm with the power of 0.5mW-1.5mW. The polarization effects of the incident beam existed in the machining qualities, therefore the sample motion should be perpendicular to the projection of the electric vector. We also observed the periodic ripple patterns which come out in condition of the pulse overlap with the threshold energy. Finally, we could machined the groove with the linewidth of below $2{\mu}m$ for the application of MEMS device repairing, scribing and arbitrary patterning.
Proceedings of the Korean Society of Precision Engineering Conference
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2005.06a
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pp.1175-1178
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2005
Brittle materials, especially single-crystal silicon wafer, are widely used for sensors, IC industry, and MEMS applications. e general machining process of crack easy materials is by chemical agents, but it is hazardous and time consuming. Also, it is difficult to get high aspect ratio micro structure. As an alternative tool, an AJM(Abrasive jet machining) is promising method in terms of high aspect ratio and production cost. In this study, to get more precise detail compared to general AJM, photo polymer mask, SU-8, used in photolithography was applied in AJM. Process parameters such as abrasive diameter, air pressure, nozzle diameter, flow rate of abrasive in AJM and a variety of conditions in spin coating were decided. Finally, micro channel and mixer was fabricated to see the efficiency of the AJM with photo polymer mask.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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