• 제목/요약/키워드: Shack-Hartmann

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Shack-Hartmann 파면분석기와 점광원을 이용한 DVD 픽업 렌즈의 수차 측정 (Wavefront Aberration Measurement of DVD pick-up lenses with a Shack-Hartmann Sensor and a Point Source)

  • 강동원;이진석;한재원
    • 정보저장시스템학회논문집
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    • 제3권3호
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    • pp.135-138
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    • 2007
  • Using a Shack-Hartmann sensor and sub-wavelength sized pinhole point source, we develope an optical testing system that measures the wavefront error of high numerical aperture and small sized optical components. The subwavelength sized pinhole generates perfect spherical waves with large diffraction angle and this makes possible to test high numerical aperture optics. The Shack-Hartmann sensor reconstructs the wavefront and calculates the aberrations. We make a home-made reference plane wave source which generates nearly perfect plane waves and the calibration with this plane source gives the overall uncertainty of the optical testing system 0.010 $\lambda$ rms.

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On-Machine 구면기준 Shack-Hartmann 장치를 이용한 대형 반사경의 가공 정밀도 연구 (Machining Accuracy for Large Optical Mirror using On-Machine Spherical Surface ]Referenced Shack-Hartmann System)

  • 홍정희;오창진;이응석;김옥현
    • 대한기계학회논문집A
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    • 제29권5호
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    • pp.726-733
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    • 2005
  • A spherical surface referenced Shack-Hartmann method is studied for inspecting machining accuracy of large concave mirror This method is so strong to the vibration environment for using as an on-machine inspection system during polishing process of large optics comparing with the interferometry. The measuring uncertainty of the system is shown as less than p-v 150 m. On-machine measured surface profile data with this method is used for feed back control of the polishing time or depth to improve the surface profile accuracy of large concave mirror. Also, the spherical surface referenced Shack-Hartmann method is useful for measuring aspheric such as parabolic or hyperbolic surface profile, comparing that the interferomehy needs a special null lens, which is to be a reference and difficult to fabricate.

Shack-Hartmann 센서를 이용한 파면측정의 정확도 향상에 관한 연구 (A Study on the Improvement of Wavefront Sensing Accuracy for Shack-Hartmann Sensors)

  • 노경완;엄태경;김지연;박상훈;윤성기;이준호
    • 한국광학회지
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    • 제17권5호
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    • pp.383-390
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    • 2006
  • Shack-Hartmann 파면측정 센서는 적응광학 분야에서 파면측정용으로 가장 널리 사용되고 있다. Shack-Hartmann 센서에서 파면측정 알고리즘은 크게 점영상의 중심점 탐색 알고리즘과 파면복원 알고리즘으로 나눌 수 있다. 이 중 점영상의 중심점 탐색은 파면측정 결과에 크게 영향을 미치나 많은 연구결과에도 불구하고 최적의 중심점 측정 알고리즘 및 내부 변수 설정에 대한 일반적인 해결책은 아직 제시되지 못하고 있다. 현재, 중심점 탐색 알고리즘으로는 무게중심법(center of gravity)이 가장 널리 사용되고 있다. 본 연구에서는 중심점 탐색 알고리즘에 의한 측정 정확도 분석을 위해 무게중심법과 상관관계법(correlation)을 함께 고려하였다. 이를 위해 Shack-Hartmann 센서의 파면측정 과정을 전산모사하였고, 이로부터 중심점 탐색 알고리즘과 관련하여 무게중심법 및 상관관계법에서의 노이즈 특성을 비교, 분석하였다. 또한, 무게중심법에서 문턱값(threshold value)의 설정에 따른 파면측정의 정확도에 대한 분석을 통하여 노이즈 제거를 위한 최적의 문턱값을 제안하였다. 이와 더불어 Shack-Hartmann 센서 시스템을 구성하여 디포커스(defocus)를 발생시키고 이를 측정하는 실험을 수행함으로써 파면측정 알고리즘 및 전산모사 결과를 검증하였다.

Shack-Hartmann 파면분석기와 점광원을 이용한 광학부품의 수차 측정 (Wavefront Aberration Measurement with Shack-Hartmann Sensor and Point Source)

  • 이진석;김학영;박영필;박노철;한재원
    • 정보저장시스템학회:학술대회논문집
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    • 정보저장시스템학회 2005년도 추계학술대회 논문집
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    • pp.160-161
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    • 2005
  • Using a Shack-Hartmann sensor, we construct an optical testing system measuring the wavefront error of small optical components. The systematic error of the sensor is compensated with a reference plane-wave system that produces almost perfect plane waves. Several types of lenses are tested using a point source that generates spherical waves emitted from a pinhole. The results of the optical testing obtained with the Shack- Hartman sensor are compared with those measured with Zygo interferometer.

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A New Shack-Hartmann Type Wavefront Sensor Using Liquid Crystal Panels

  • Xiaoxi, Chen;Xu, Liu
    • 한국정보디스플레이학회:학술대회논문집
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    • 한국정보디스플레이학회 2005년도 International Meeting on Information Displayvol.I
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    • pp.528-530
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    • 2005
  • In this paper, we present a new and practical method for achieving real-time wavefront measurement, dramatically increasing the resolution, dynamic range of Shack-Hartmann wavefront sensor and improving the wavefront reconstruction quality. In proposal method, a liquid crystal display panel (LCD) for the generation of an array of Fresnel microlenses is use instead of the static microlens array of the conventional Shack-Hartmann type sensor. An off-axis holographic microlens array is designed instead of the normal microlens array to increase the effective array and then the dynamic range. The focus properties of the off-axis lens are studied.

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Shack-Hartmann 파면측정 장치의 보정 (Calibration of Shack-Hartmann wavefront sensor)

  • 서영석;백성훈;박승규;차병헌
    • 한국광학회:학술대회논문집
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    • 한국광학회 2003년도 하계학술발표회
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    • pp.156-157
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    • 2003
  • 적응광학(AO; adaptive optics) 시스템의 중요한 구성요소인 파면측정 장치(wavefront sensor)는 변형거울(deformable mirror)과 제어용 컴퓨터에 연결되어 파면보정을 실시간으로 처리할 수 있도록 파면의 왜곡정보를 제공한다. 제작된 Shack-Hartmann 파면측정 장치는 배열렌즈(array lens), 빔 축소 광학계, CCD 카메라 등으로 구성되어있는데, 측정된 파면의 정보는 영상처리 보드가 내장된 제어용 컴퓨터를 사용하여 분석한 뒤 실시간으로 보정장치를 구동할 수 있도록 설계되었다. (중략)

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