SANOS 메모리 셀 트랜지스터에서 Tunnel Oxide-Si Substrate 계면 트랩에 따른 소자의 전기적 특성 및 신뢰성 분석 (Analysis of the Interface Trap Effect on Electrical Characteristic and Reliability of SANOS Memory Cell Transistor)
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- 한국전기전자재료학회:학술대회논문집
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- 한국전기전자재료학회 2007년도 추계학술대회 논문집
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- pp.94-95
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- 2007