Infrared Imaging and a New Interpretation on the Reverse Contrast Images in GaAs Wafer (GaAs 웨이퍼의 적외선 영상기법 및 콘트라스트 반전 영상에 대한 새로운 해석)
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- Journal of the Korea Institute of Information and Communication Engineering
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- v.20 no.11
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- pp.2085-2092
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- 2016