Reliability of embedded softwares, as one of factors which affect system reliability, is the probability of failure-free software operation for a specified period of time in a specified environment. and Embedded software is different from general package software because hardware and operating system are tightly coupled to each other. Reliability evaluation models for embedded softwares currently used do not separate estimation and prediction models clearly, and even a standard model has not been proposed yet. In this respect, we choose a reliability estimation model suitable for embedded softwares among software evaluation models being used, and modified the model so as to accomodate recent software environments. In addtion, based on the model, the web-based reliability prediction tool RPX is developed. Finally, an embedded software is analyzed using the tool.
Collecting all failures during life cycle of vehicle is not easy way because its life cycle is normally over 10 years. Warranty period can help gathering failures data because most customers try to repair its failures during warranty period even though small failures. This warranty data, which means failures during warranty period, can be a good resource to predict initial reliability and permanence reliability. However uncertainty regarding reliability prediction remains because this data is censored. University of Wuppertal and major auto supplier developed the reliability prognosis model considering censored data and this model introduce to predict reliability estimate further "failure candidate". This paper predicts reliability of telecommunications system in vehicle using the model and describes data structure for reliability prediction.
This paper presents a spreadsheet-based reliability prediction simulation framework for the conceptual product design stage to acquire system reliability information in timely manner. During early stage, reliability performance deals with both known and unknown failure rates and component-level and subsystem-level failure estimate to predict system reliability. A technique for performing life testing simulation using Excel spreadsheet has been developed under the such circumstances. This paper also discuss the results obtainable from this method such as reliability estimate, mean and variance of failures and confidence intervals. The resultant of this reliability prediction system is mainly benefitting small and medium-sized enterprise's field engineers.
Application of the PWFRM and SRGM for software reliability Prediction offers not only the judging base of model but also themselves with good applicabilty as easy-to-use tool.
The recent stream to reliability prediction is that it is totally inclusive in depth to consider even the operating and environmental condition at the level of finished goods as well as component itselves. In this study, firstly we present the reliability prediction methods by entire failure rate model which failure rate at the system level is added to the failure rate model at the component level. Secondly we build up the improved bases of reliability demonstration through a, pp.ication of Kaplan-Meier, Cumulative hazard, Johnson's methods as non-parametric and Maximum Likelihood Estimator under exponential & Weibull distribution as parametric. And also present the methods of curve fitting to piecewise failure rate under Weibull distribution, PRST (Probability Ratio Sequential Test), curve fitting to S-shaped reliability growth curve, computer programs of each methods. Lastly we show the practical for determination of optimal burn-in time as a method of reliability enhancement, and also verify the practical usefulness of the above study through the a, pp.ication of failure and test data during 1 year.
KSLV-I에 탑재를 위한 주 데이터 장치(MDU)의 초기개발모델이 제작되었으며 인터페이스시험이 수행되었다. MDU의 엔지니어링 및 비행모델 제작을 수행하기 이전에 MDU 초기 모델에 대한 발사체 탑재 가용성을 확인하기 위하여 신뢰도 예측을 수행하였다. 본 논문은 전장품의 신뢰도 예측에 활용되는 MIL-HDBK-217F를 근간으로 MDU 개발 모델의 신뢰도 예측 방법에 대해 기술하였으며 신뢰도 예측결과를 기술하고 있다.
Purpose: Accelerated degradation tests can speed time to market and reduce the test time and costs associated with long term reliability tests to verify the required service life of a product or material. This paper proposes a service life prediction method for components or materials using an accelerated degradation tests based on the relationships between temperature and the rate of failure-causing chemical reaction. Methods: The relationship between performance degradation and the rate of a failure-causing chemical reaction is assumed and least square estimation is used to estimate model parameters from the degradation model. Results: Methods of obtaining acceleration factors and predicting service life using the degradation model are presented and a numerical example is provided. Conclusion: Service life prediction of a component or material is possible at an early stage of the degradation test by using the proposed method.
Seasonal forecast is growing in demand, as it provides valuable information for decision making and potential to reduce impact on weather events. This study examines how operational climate prediction systems can be reliable, producing the probability forecast in seasonal scale. A reliability diagram was used, which is a tool for the reliability by comparing probabilities with the corresponding observed frequency. It is proposed for a method grading scales of 1-5 based on the reliability diagram to quantify the reliability. Probabilities are derived from ensemble members using hindcast data. The analysis is focused on skill for 2 m temperature and precipitation from climate prediction systems in KMA, UKMO, and ECMWF, NCEP and JMA. Five categorizations are found depending on variables, seasons and regions. The probability forecast for 2 m temperature can be relied on while that for precipitation is reliable only in few regions. The probabilistic skill in KMA and UKMO is comparable with ECMWF, and the reliabilities tend to increase as the ensemble size and hindcast period increasing.
A one-shot device is defined as a product, system, weapon, or equipment that can be used only once. After use, the device is destroyed or must undergo extensive rebuild. Determining the reliability of a one-shot device poses a unique challenge to the manufacturers and users due to the destructive nature and costs of the testing. This paper presents a reliability growth prediction for a one-shot system. It is assumed that 1) test duration is discrete(i.e. trials or rounds); 2) trials are statistically independent; 3) the number of failures for a given system configuration is distributed according to a binomial distribution; and 4) the cumulative expected number of failures through any sequence of configurations is given by AMSAA model. When the system development is represented by three configurations and the number of trials and failures during configurations are given, the AMSAA model parameters and reliability at configuration 3 are estimated by using a reliability growth analysis software. Further, if the reliability growth predictions do not meet the target reliability, the sample size of an additional test is determined for achieving the target reliability.
A study to build a reliability model of electronic ballasts for the fluorescent lamp has been performed in this study. We selected the widely being used specification, MIL-HDBK-217 for the study. We briefly reviewed the basic concepts of the electronic ballast with the selected reliability specification. We then developed a reliability model for the ballast using MIL-HDBK-217 and predicted the reliability. We further provided some guides which should be considered in future model development.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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