Magnesium thin flims were prepared on cold-rolled steel substrates by RF magnetron sputtering technique. The influence of argon gas pressure and substrate bias voltage on their crystal orientation and morphology of the coated films were investigated by scanning electron microscopy (SEM) and X-ray diffraction, respectively. And the effect of crystal orientation and morphology of magnesium films on corrosion behaviors was estimated by measuring anodic polarization curves in deaerated 3%NaCl solution. From the experimental results, all the sputtered magnesium films showed obviously good corrosion resistance to compare with 99.99% magnesium target of the sputter-evaporation metal. Finally it was shown that the Corrosion-resistance of magnesium films can be improved greatly by controlling the crystal orientation and morphology with effective use of the plasma sputtering technique.
ZnO:Ga thin films were deposited by RF magnetron sputtering technique from ZnO (3 wt.% $Ga_2O_3$) target onto glass substrates under various RF power. The influence of RF power on the structural, electrical, and optical properties of ZnO:Ga thin films was investigated by X-ray diffraction, atomic force microscopy, Hall method and optical transmission spectroscopy. As the RF power increases from 50 to 110W, the crystallinity is deteriorated, the root main square surface roughness is decreased and the sheet resistance is increased. The increase of sheet resistance is caused by decreasing carrier concentration due to interstitial Ga ion. All films are transparent up to 80% in the visible wavelength range and the adsorption edge is a red-shift with increasing RF power.
Ferroelectric SrBi2Ta2O9(SBT) films were deposited on Pt/Ti/SiO2/Si substrates at 50$0^{\circ}C$ using a sintered SBT target Bi and Ta targets by modified rf magnetron sputtering and then were annealed at 80$0^{\circ}C$ for 10min in oxygen ambinet(760 torr) The composition of the SBT films could be easily controlled using the mul-ti-targets. The film composition of {{{{ {Sr }_{0.8 } {Bi }_{2.9 } {Ta}_{2.0 } {O }_{9 } }} was obtained with SBTd sputtering power of 100 W Bi of 25W and Ta of 10 W. A 250nm thick SBT films exhibited a dense and uniform microstructure and showed the remanent polarization(Pr) of 14.4 $\mu$C/cm2 and the coercive field({{{{ {E }_{c } }})of 60 kV/cm at applied voltage of 5 V. The SBT films show practically no polarization fatigue up to {{{{ {10 }_{10 } }} cycles under 5V bipolar pulse. The retention characteristics of the SBT films looked very promising and the leakage current density of the SBT films was about 1.23$\times${{{{ {10 }^{-7 } }}A/c{{{{ {m }^{2 } }} at 120kV/cm.
본 논문에서는 FBAR소자에서 중요한 역할을 하는 Reflector의 최적 증착조건을 RF/DC마그네트론 스퍼터링을 이용하여 조사하였다. Reflector를 구성하는 SiO$_2$와 W박막의 증착속도, 결정성, 표면거칠기 둥을 다양한 증착조건에서 관찰한 결과 빠른 증착속도를 보이면서 치밀하고 결정성이 좋은 박막을 얻을 수 있는 조건을 찾을 수 있었고, 이 조건으로 5층의 Acoustic Bragg Reflector 구조를 제작하였다.
LiNbO$_3$films were prepared by an rf-magnetron sputtering technique using sintered target containing potassium. The potassium was included to help to fabricate stoichiometric LiNbO$_3$film. Structural and electrical properties of thin films was investigated as a function of deposition condition. Optimum sputtering conditions were rf power of 100W, working pressure of 1m Torr and substrate temperature of 58$0^{\circ}C$. The thin film was grown to (012) preferred orientation. The dielectric constant of the thin film LiNbo$_3$ fabricated under optimum condition was 55 at 1MHz. Average grain size is about 200$\AA$ and roughness of the film is small enough to apply to optic devices.
Using RF magnetron sputtering, amorphous carbon(a-C) thin films as electron filed emitter were fabricated. these a-C thin films were deposited on Si(001) substrate at several temperatures. The field electron emission property of these a-C thin films was estimated by a diode technique. As the result, we observed that the field emission properties of the films were changed singnificantly with the substrate temperature and structural features of a-C film. The field emission properties were promoted by higher substrate temperatures. Furthermore N-doped a-C film exhibits more field emission property than that of undoped a-C film. These results are explained as change of surface morphology and structural properties of a-C film.
RF-magnetron sputtering 방법으로 형성한 $BaTa_2O_6$의 공정변수에 따른 전기, 광학적 특성변화를 관찰하여 $BaTa_2O_6$ 박막의 TFELD(thin film electroluminescent display) 절연막으로서 응용 가능성을 연구하였다. $BaTa_2O_6$ 박막의 유전특성은 증착시의 $O_2$ 함량과 sputtering 압력의 변화에는 큰 영향을 받지 않으나 기판온도에는 영향을 받는 것으로 확인되었다. 이들 공정변수를 가변하여 실험한 결과, $BaTa_2O_6$ 박막 형성의 최적조건으로 플라즈마 압력을 6 mtorr, sputtering gas 내의 $O_2$ 혼합비율은 40%, 기판온도는 $100^{\circ}C$로 결정하였다. 이상의 조건에서 제조된 $BaTa_2O_6$ 박막은 10.2 ${\mu}C/cm^2$의 매우 우수한 성능지수를 보였다. 이상의 $BaTa_2O_6$ 박막을 하부절연층으로, 절연파괴강도가 높은 $SiO_xN_y$를 상부 절연층으로 사용하여 제조된 EL 소자는 1 kHz, 삼각파 구동시 발광 임계전압은 약 32 volts, 최대휘도는 54 $cd/m^2$으로 측정되었다.
본 논문은 RF 마그네트론 스퍼터링 시스템을 이용하여 p-Si (100) 기판위에 증착된 C축 배향을 가지는 ZnO 박막의 특성을 분석하고 있다. 증착 전력, 공정 압력, 반응가스로 사용된 산소 가스의 비율과 같은 증착 조건들을 변화시켰을 때, ZnO 박막의 결정구조의 변화를 분석한다. 증착된 ZnO 박막의 결정 구조는 주사 전자 현미경(scanning electron microscope, SEM)을 이용하여 조사되었다. 분석 결과 증착 파라미터들은 증착된 ZnO 박막의 결정(grain) 크기와 배향 특성에 강한 영향을 미친다는 사실을 알 수 있다.
$Cu(In_xGa_{1-x})Se_2$ (CIGS) thin film solar cell is one of the most promising solar cells in photovoltaic devices. CIGS has a direct band gap which varied from 1.0 to 1.26 eV, depending on the Ga to In ratio. Also, CIGS has been studying for an absorber in thin film solar cells due to their highest absorption coefficient which is $1{\times}10^5cm^{-1}$ and good stability for deposition process at high temperature of $450{\sim}590^{\circ}C$. Currently, the highest efficiency of CIGS thin film solar cell is approximately 20.3%, which is closely approaching to the efficiency of poly-silicon solar cell. The deposition technique is one of the most important points in preparing CIGS thin film solar cells. Among the various deposition techniques, the sputtering is known to be very effective and feasible process for mass production. In this study, CIGS thin films have been prepared by rf magnetron sputtering method using a single target. The optical and structural properties of CIGS films are generally dependent on deposition parameters. Therefore, we will explore the influence of deposition power on the properties of CIGS films and the films will be deposited by rf magnetron sputtering using CIGS single target on Mo coated soda lime glass at $500^{\circ}C$. The thickness of CIGS films will be measured by Tencor-P1 profiler. The optical properties will be measured by UV-visible spectroscopy. The crystal structure will be analyzed using X-ray diffraction (XRD). Finally the optimal deposition conditions for CIGS thin films will be developed.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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