• 마이크로전자및패키징학회지
• /
• 제9권2호
• /
• pp.45-48
• /
• 2002

LTCC 시스템은 가격이 저렴하고 공정이 안정적이고 전기적 특성에서도 손실값이 작은점등의 많은 장점을 가지고 있다. 그러나 일단 제작된 소자들에 대해서는 튜닝 작업이 어려운 단점이 있다. 이때문에 수 GHz이상의 고주파수 대역에서 내장형 소자에 대한 정확한 평가 및 특성 예측을 필요로 하게 된다. 본 연구에서는 고주파수 대역에서 내장형 소자들을 정확하게 측정할 수 있는 방법을 고찰하였는데 이 과정에서 여러 형태의 측정 지그를 비교 검토하여 최적화하였다.