Journal of the Korea Institute of Military Science and Technology
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v.24
no.5
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pp.503-510
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2021
This paper presents a system that measures the acceleration of the shock caused by the explosion of the precursor warhead for the tandem projectile. The proposed system, which is implemented based on the MIL-STD-810G, Method 517.1, consists of a miniaturized shock measurement device, a cable, accelerometers, and a trigger circuit. The shock measurement device has a size of ¢102 × 171 mm and cable has a length of 3 m. The operational confirmation test is conducted by implementing the measurement system. The Analysis of shock data(accelerometer output data) is carried out using Shock Response Spectrum(SRS), pseudo velocity and plot of acceleration time transient. Through measurement analysis, one can predict the damage of electronics in projectile when precursor warhead is exploded.
Ha, Dong-Woo;Yang, Joo-Saeng;Hwang, Sun-Yuk;Ha, Hong-Soo;Oh, Sang-Soo;Lee, En-Yong;Kwon, Young-Kil
Proceedings of the Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers Conference
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2003.07a
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pp.585-588
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2003
Bi-2223 superconducting wires were fabricated by stacking, drawing process with different precursor powders and different heat-treatment histories. The precursor powders were 2 kinds of Pb content. And a part of the tapes were experienced pre-annealing process which caused tetragonal structure of Bi-2212 phase to orthorhombic structure of it was during drawing process. We confirmed the transformation of Bi-2212 phase from tetragonal structure to orthorhombic structure and reduction of second phases. AC magnetization analysis were performed in order to investigate the fraction of Bi-2223 phase in Bi-2223/Ag HTS tape. The cross sections of 55 filaments and 61 filaments were investigated after rolled in order to understand deformation mechanism of superconducting cores. We could achieve best Ic of 70 A class at the Bi-2223/Ag tape using low Pb content of precursor powder and experienced pre-annealing process. AC magnetization analysis was useful to investigate the fraction of Bi-2223 phase in the Bi-2223/Ag tape.
$xZrO_2-(1-x)SiO_2$ glass precursor with relatively high concentration of zirconium propoxide in metal alkoxide solution was obtained by sol-gel method and then heated at various temperature from 500 to $1,100^{\circ}C$ to investigate the effect of the thermal treatment on the crystalline structure of the glass precursor. Based on X-ray diffraction analysis, the crystalline peak was started to develop at temperature higher than $600^{\circ}C$, and the crystalline phase was considerably increased at $850^{\circ}C$ or higher. With increasing the thermal treatment temperature, the characteristic peaks, such as baddelyite, tetragonal-$ZrO_2$ and zircon, was shown at $35^{\circ}$, $50^{\circ}$ and $60^{\circ}$ of $2{\theta}$.
As precursors of cathode materials for lithium ion batteries, $Ni_{1/3}Co_{1/3}Mn_{1/3}(OH)_2$ powders are prepared in a continuously stirred tank reactor via a co-precipitation reaction between aqueous metal sulfates and NaOH in the presence of $NH_4OH$ in air or nitrogen ambient. Calcination of the precursors with $Li_2CO_3$ for 8 h at $1,000^{\circ}C$ in air produces dense spherical cathode materials. The precursors and final powders are characterized by X-ray diffraction (XRD), scanning electron microscopy, particle size analysis, tap density measurement, and thermal gravimetric analysis. The precursor powders obtained in air or nitrogen ambient show XRD patterns identified as $Ni_{1/3}Co_{1/3}Mn_{1/3}(OH)_2$. Regardless of the atmosphere, the final powders exhibit the XRD patterns of $LiNi_{1/3}Co_{1/3}Mn_{1/3}O_2$ (NCM). The precursor powders obtained in air have larger particle size and lower tap density than those obtained in nitrogen ambient. NCM powders show similar tendencies in terms of particle size and tap density. Electrochemical characterization is performed after fabricating a coin cell using NCM as the cathode and Li metal as the anode. The NCM powders from the precursors obtained in air and those from the precursors obtained in nitrogen have similar initial charge/discharge capacities and cycle life. In conclusion, the powders co-precipitated in air can be utilized as precursor materials, replacing those synthesized in the presence of nitrogen injection, which is the usual industrial practice.
Proceedings of the Korean Vacuum Society Conference
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2014.02a
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pp.363-363
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2014
Ruthenium (Ru) has attractive material properties due to its promising characteristics such as a low resistivity ($7.1{\mu}{\Omega}{\cdot}cm$ in the bulk), a high work function of 4.7 eV, and feasibility for the dry etch process. These properties make Ru films appropriate for various applications in the state-of-art semiconductor device technologies. Thus, it has been widely investigated as an electrode for capacitor in the dynamic random access memory (DRAM), a metal gate for metal-oxide semiconductor field effect transistor (MOSFET), and a seed layer for Cu metallization. Due to the continuous shrinkage of microelectronic devices, better deposition processes for Ru thin films are critically required with excellent step coverages in high aspect ratio (AR) structures. In these respects, atomic layer deposition (ALD) is a viable solution for preparing Ru thin films because it enables atomic-scale control of the film thickness with excellent conformality. A recent investigation reported that the nucleation of ALD-Ru film was enhanced considerably by using a zero-valent metallorganic precursor, compared to the utilization of precursors with higher metal valences. In this study, we will present our research results on the synthesis and characterization of novel ruthenium complexes. The ruthenium compounds were easy synthesized by the reaction of ruthenium halide with appropriate organic ligands in protic solvent, and characterized by NMR, elemental analysis and thermogravimetric analysis. The molecular structures of the complexes were studied by single crystal diffraction. ALD of Ru film was demonstrated using the new Ru metallorganic precursor and O2 as the Ru source and reactant, respectively, at the deposition temperatures of $300-350^{\circ}C$. Self-limited reaction behavior was observed as increasing Ru precursor and O2 pulse time, suggesting that newly developed Ru precursor is applicable for ALD process. Detailed discussions on the chemical and structural properties of Ru thin films as well as its growth behavior using new Ru precursor will be also presented.
The golden turbid solution of cordierite precursor was obtained by using magnesium ethoxide in sol-gel method, while the clear solution of cordierite precursor was obtained when 5%-$Zr(OC_3H_7)_4$ solution was used in the sol-gel reaction. $SiO_2$ component was confirmed by infrared spectra showing $1045cm^{-1}$ and the stretching vibration of gelish $SiO_4$ showed $1140cm^{-1}$ and $940cm^{-1}$. The component of $Al_2O_3$ showed at $580cm^{-1}$ and network structure of $Al_2O_6$ showed at $680cm^{-1}$. The component of MgO was confirmed at $575cm^{-1}$ as the stretching vibration. X-ray diffraction analysis showed ${\mu}$-cordierite crystal was showed up at temperature above $1000^{\circ}C$ at the mole ratio of cordierite precursor and water (1:5). ${\mu}$-Cordierite and ${\alpha}$-cordierite were coexisted at $1050^{\circ}C$ for the mole ratio of cordierite precursor and ammonia (1:5) while ${\alpha}$-cordierite was only existed at $1100^{\circ}C$ for the same mole ratio as mentioned above.
Proceedings of the International Microelectronics And Packaging Society Conference
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2000.04a
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pp.118-118
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2000
New single-source precursor, [AlCI3:NH2tBu] was synthesized for AlN thin f film processing with AICI3 (Aluminum Chloride) and tBuNH2 (tert-butylamine). AlN thin films for packaging aspplication were deposited on sapphire substrate by a atmosph하ie-pressure MOCVD. In most of other study methyl-based AI precursors w were used for source, But herein Aluminum Chloride was used for as AI source i in order to prevent the carbon contamination in the films and stabilize the p precursor. New precursor showed the very high gas vapor pressure so it allowed to m make the film under atmospheric-pressure and get the high purified film. High q quality AlN thin film was obtained at 700 to $900^{\circ}C$. The new precursor was p purified by a sublimation technique and help to fabricate high purity film. It s showed high vapor pressure, which is able to a critieal factor for the high purity a and atmospheric CVD of AlN. High Quality AIN thin film was obtained at $700-900^{\circ}C$. The AIN film was characterized by RBS
Kim, Gi-Dong;Jo, Yeong-A;Sin, Dong-Geun;Jeon, Jin-Seok;Choe, Dong-Su;Park, Jong-Jin
Korean Journal of Materials Research
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v.9
no.2
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pp.155-162
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1999
Zirconia thin films of uniform structure were fabricated by plasma-enhanced metal-organic chemical vapor deposition. Deposition conditions such as substrate temperature were observed to have much influence on the formation of zirconia films, therefore the mechanism of decomposition of $Zr[TMHD]_4$precursor and film growth were examined by XRD, FT-IR etc., as well as the determination of the optimal deposition condition. From temperature dependence on zirconia, below the deposition temperature of 523K, the amorphous zirconia was formed while the crystalline of zirconia with preferred orientation of cubic (200) was obtained above the temperature. Deposits at low temperatures were investigated by FT-IR and the absorption band of films revealed that the zirconia thin film was in amorphous structure and has the same organic band as that of Zr precursor. In case of high temperature, it was found that Zr precursor was completely decomposed and crystalline zirconia was obtained. In addition, at 623K the higher RF power yielded the increased crystallinity of zirconia implying an increase in decomposition rate of precursor. However, it seems that RF power has nothing with the zirconia deposition process at 773K. It was found that the proper bubbler temperature of TEX>$Zr[TMHD]<_4$ precursor is needed along with high flow rate of carrier gas. Through AFM analysis it was determined that the growth mechanism of the zirconia thin film showed island model.
Proceedings of the Korean Vacuum Society Conference
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2015.08a
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pp.230.2-230.2
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2015
Nanoparticles of magnesium ferrite are used as a heterogeneous catalyst, humidity sensor, oxygen sensor and cure of local hyperthermia. These applications usually utilize the magnetic behavior of these nanoparticles. Moreover, magnetic properties of nanoferrites exhibit rather complex behavior compared to bulk ferrite. The magnetic properties of ferrites are complicated by spins at vortices, surface spins. Reports till date indicate strong dependency on the structural parameters, oxidation state of metal ions and their presence in octahedral and tetrahedral environment. Thus we have carried out investigation on magnesium ferrite nanoparticles in order to study coordination, oxidation state and structural distortion. For present work, magnesium ferrite nanoparticles were synthesized using nitrates of metal ions and citric acid. Fe L-edge spectra measured for these nanoparticles shows attributes of $Fe^{3+}$ in high spin state. Moreover O K-edge spectra for these nanoparticles exhibit spectral features that arises due to unoccupied states of O 2p character hybridized with metal ions. Mg K-edge spectra shows spectral features at 1304, 1307, 1311 and 1324 eV for nanoparticles obtained after annealing at 400, 500, 600, 800, 1000, and $1200^{\circ}C$. Apart from this, spectra for precursor and nanoparticles obtained at $300^{\circ}C$ exhibit a broad peak centered around 1305 eV. A shoulde rlike structure is present at 1301 eV in spectra for precursor. This feature does not appear after annealing. After annealing a small kink appear at ~1297 eV in Mg K-edge spectra for all nanoparticles. This indicates changes in local electronic structure during annealing of precursor. Observed behavior of change in local electronic structure will be discussed on the basis of existing theories.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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