This paper investigates the effect of linear and non-linear distribution of carbon nanotube volume fraction in the FG-CNTRC beams on the critical buckling by using higher-order shear deformation theories. Here, the material properties of the CNTRC beams are assumed to be graded in the thickness direction according to a new exponential power law distribution in terms of the carbon nanotube volume fractions. The single-walled carbon nanotube is aligned and distributed in the polymeric matrix with different patterns of reinforcement; the material properties of the CNTRC beams are described by using the rule of mixture. The governing equations are derived through using Hamilton's principle. The Navier solution method is used under the specified boundary conditions for simply supported CNTRC beams. The mathematical models provided in this work are numerically validated by comparison with some available results. New results of critical buckling with the non-linear distribution of CNT volume fraction in different patterns are presented and discussed in detail, and compared with the linear distribution. Several aspects of beam types, CNT volume fraction, exponent degree (n), aspect ratio, etc., are taken into this investigation. It is revealed that the influences of non-linearity distribution in the beam play an important role to improve the mechanical properties, especially in buckling behavior. The results show that the X-Beam configuration is the strongest among all different types of CNTRC beams in supporting the buckling loads.
Stable polyion-complexed polymeric monolayrers were prepared by spreading perfluoroalkyl monomaleatd copolymers. C$_2$F$\_$8/MA-VE$_2$ and C$_2$F$\_$8/Mv-VE$_3$ on aqueous poly(allylamine) subphase. The monolayer properties have been studied by the surface pressure-area($\pi$-A) isotherms. The C$_2$F$\_$8/MA-VE$_3$containing longer oligoethyleneglycol pendant showed more expaned monolayer phase than the C$_2$F$\_$8/MA-VE$_2$ The polyion-complexed monolayers were transferable on various substrates, and the resulting Langmuir-Blodgett(LB) films were characterized b ET-IR spectroscopy and scanning electron microscopy(SEM) Two-dimensional crosslinking to from a polymer network was achieved by amide formation through heat treatment under vacuum with concurrent removel of perfluoroalkyl tails. SEM observation of this film ona porous membrane filter showed that the four layer film was sufficiently stable to cover the filter pore size of 0.1$\mu\textrm{m}$. The C$_2$F$\_$8/MA-VE$_3$revealed better covering capability than the C$_2$F$\_$8/MA-VE$_2$Immersion of this film in water or in benzend did not cause any change in its appearance and in FT-IR spectra.
A study of terahertz waves was made for the nondestructive evaluation of FRP (Fiber reinforced plastics) composite materials. The terahertz systems were consisted of time domain spectroscopy (TDS) and continuous wave (CW). The composite materials investigated include both non-conducting polymeric composites and conducting carbon fiber composites. Terahertz signals in the TDS mode resembles that of ultrasound; however, unlike ultrasound, a terahertz pulse was not able to detect a material with conductivity. The CFRP (Carbon fiber reinforced plastics) laminates were utilized for confirming the experimentation in the terahertz NDE. In carbon composites the penetration of terahertz waves is quite limited and the detection of flaws is strongly affected by the angle between the electric field direction of the terahertz waves and the intervening fiber directions. A refractive index (n) was defined as one of mechanical properties; so a method was obtained in order solve the "n" in the material with non-conductivity. The usefulness and limitations of terahertz radiation are investigated for the NDE of FRP composites.
Chemical Mechanical Polishing (CMP) has become an essential step in the overall semiconductor wafer fabrication technology. In general, CMP is a surface planarization method in which a silicon wafer is rotated against a polishing pad in the presence of slurry under pressure. The polishing pad, generally a polyurethane-based material, consists of polymeric foam cell walls, which aid in removal of the reaction products at the wafer interface. It has been found that the material removal rate of any polishing pad decreases due to the so-called 'pad glazing' after several wafer lots have been processed. Therefore, the pad restoration and conditioning has become essential in CMP processes to keep the urethane polishing pad at the proper friction coefficient and to allow effective slurry transport to the wafer surface. Diamond pad conditioner employs a single layer of brazed bonded diamond crystals. Due to the corrosive nature of the polishing slurry required in low pH metal CMP such as copper, it is essential to minimize the possibility of chemical interaction between very low pH slurry (pH <2) and the bond alloy. In this paper, we report an exceptional protective coated conditioner for in-situ pad conditioning in low pH Cu CMP process. The protective Cr-coated conditioner has been tested in slurry with pH levels as low as 1.5 without bond degradation.
It is analyzed the erosing process of the polymeric insulator for outdoor use with the inclined plane method. Materials used are the different type of silicone rubber, they have the content of filler and component each other. As the content of filler added to improve the tracking and erosion resistance. It has the difference of electrical performance and erosion rate. The dry-band arc is also the parameter of accelerating erosion, and appear in the form of leakage current, and the activities of leakage current has a close relationship with the surface hydrophobicity. In this paper, the erosion growth is observed by measuring the time from the voltage application to the whole breakdown, and the erosion depth. In addition, it is measured the hydrophobicity and leakage current to be a cause of erosion by the erosion steps, studied SEM, EDX for observing the transformation of surface structure by erosing.
Ion implantation in polymeric materials can induce dramatic chemical modifications, such as bond breaking, cross linking, formation of new chemical products, which have strong influences on the macroscopic properties of the materials. In this study ion implantation was performed onto polymer, PC(polycarbonate), in order to investigate change of the optical transmittance property focusing ultraviolet ray range(200-400nm). PC was irradiated with N, Ar, Kr, Xe ions at the ion energy of 50keV and the dose range of 5 ${\times}$ 10$\^$15/, 1 ${\times}$ 10$\^$16/, 7${\times}$10$\^$16/ ions/$\textrm{cm}^2$. FT-IR, XPS, UV/Vis transmittance spectroscopy measurement technologies were employed to obtain chemical. structural properties and optical transmittance of irradiated polymer. The original PC(unimplanted) is quite transparent that it has more than 88% transmittance in the range UV-A(320∼400nm), but after ion implantation, surface colors were changed to the dark brown and the transmittance of UV ray decreased for all implantation condition, and the absorption edge was shift to visible range with increasing mass of implanted ion species and dose.
한국전기전자재료학회 2002년도 춘계학술대회 논문집 유기절연재료 전자세라믹 방전플라즈마 일렉트렛트 및 응용기술
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pp.127-131
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2002
The surge protector is crucial power apparatus to guarantee the safe operation of power transmission of underground cable which can effectively restrain the overvoltage and inductive lightning stroke in power system. The surge protector is crucial power apparatus to guarantee the safe operation of power transmission of underground cable which can effectively restrain the overvoltage and inductive lightning stroke in power system. This paper described the results of a study on the performance for surge protector for underground cable. And, the performance of surge protector was evaluated through such as measurement of the reference voltage, residual voltage and impulse current etc. In results of surge protector, reference and residual voltage of ZnO element is 4.75 kV, 9.86 kV respectively. Also, In the impulse current test, thermal properties are good, despite of that polymeric housing of surge protector has thick structure. Therefore the developed surge protector is thought to apply for underground cable.
We have studied the alignment of liquid crystals (LCs) on homeotropic polymeric surface that is scanned using an atomic force microscope (AFM) tip by optical polarizing microscopy and computer simulation. The scanned areas on one substrate are 5 $\mu\textrm{m}$${\times}$ 5 $\mu\textrm{m}$, 10 $\mu\textrm{m}$${\times}$ 10 $\mu\textrm{m}$, and 20 $\mu\textrm{m}$${\times}$ 20 $\mu\textrm{m}$ and this substrate is assembled to another substrate coated. with homeotropic polymer. The fabricated micro-LC cell using two substrates does not show any hysteresis and disclination lines inside the nano-rubbing areas, while changing voltage up and down. This indicates that the pretilt angle exists in the areas, thereby forming a hybrid LC configuration. From the experimental and computer simulation results, we can understand that the AFM rubbing clearly changes surface status of homeotropic alignment layer and causes the pretilt angle to an initial scanning direction.
레이더 혹은 전자-통신장비에서 방출되는 전자파의 흡수/차폐는 군사적인 목적뿐만 아니라 상업적 목적으로도 매우 중요하다. 효과적인 전자기파 흡수체를 설계하기 위해서는 흡수체에 사용되는 재료의 대상 주파수 대역에서의 전자기적 성질을 정확히 알아야 하며, 손실재의 함량에 따른 정확한 전자기물성 예측이 가능해야 한다 본 연구에서는 전도성 카본 블랙 나노 입자를 함유하는 폴리에스터 복합재료의 유전성질을 자유공간 기법을 이용하여 X-Band 주파수 대역에 걸쳐 측정하고 카본 블랙의 함량에 따라 정량적으로 분석하였으며, 임의의 카본 블랙 함량을 갖는 고분자 수지의 유전 물성을 주파수에 따라 예측할 수 있는 방법을 제시하고 검증하였다.
The main objective of this paper is to module design and pressure relief test a new type of polymer gapless surge arrester for power distribution line. Metal oxide surge arrester for most electric power system applications, power distribution line and electric train are now being used extensively to protect overvoltage due to lightning. Surge arresters with porcelain housing must not have explosive breakage of the housing to minimize damage to other equipment when subjected to internal high short circuit current. When breakdown of gapless elements in a surge arrester occurs due to flashover, fault short current flows through the arrester and internal pressure of the arrester rises. The pressure rise can usually be limited by fitting a pressure relief diaphragm and transferring the arc from the inside to the outside of the housing. However, there is possibility of porcelain fragmentation caused by the thermal shock, pressure rise, etc. Non-fragmenting of the housing is the most desired way to prevent damage to other equipment. The pressure change which is occurred by flashover become discharge energy. This discharge energy raises to damage arrester housing and arrester housing is dispersed as small fragment. Therefore, the pressure relief design is requested to obstruct housing dispersion.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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