$C_4F_8/H_2$ 헬리콘 플라즈마를 이용한 고선택비 산화막 식각공정시 실리콘 표면의 오염 및 손상에 관한 연구
(study of damage and contamination on tje etched sillicon surface in the high selective onxide etching using $C_4F_8/H_2$ helicon plasmas)
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- 한국진공학회:학술대회논문집
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- 한국진공학회 1997년도 제13회 학술발표회 논문개요집
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- pp.213-214
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- 1997