Journal of the Korean Society of Manufacturing Process Engineers
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v.21
no.1
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pp.81-89
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2022
It is necessary to increase the surface hardness and improve the wear resistance and peeling resistance through the surface treatment and performance evaluation of the mold steel. As a result of vacuum heat treatment analysis, residual austenite measurement and surface treatment wear test, retained austenite should be removed by sub-zero treatment, and retained austenite was completely removed by treatment at -196℃. The TiMon film coated on the sub-zero treated STD11 specimen showed the lowest coefficient of friction.
As the first part of the body that strikes the ground during running, sports shoes are especially important for improving performance and reducing injuries. The use of new nanotechnology materials in the shoe's sole that can affect the movement angle of the foot and the ground reaction forces during running has not been reported yet. It is important to consider the material of the sole of the shoe since it determines the long-term performance of sports shoes, including their comfort while walking, running, and jumping. Running performance can be improved by polymer foam that provides good support with low energy dissipation (low energy dissipation). Running shoes have a midsole made of ethylene propylene copolymer (EPP) foam. The mechanical properties of EPP foam are, however, low. To improve the mechanical performance of EPP, conventional mineral fillers are commonly used, but these fillers sacrifice energy return. In this study, to improve the magnificence of physical education training with nanotechnology, carbon nanotubes (CNTs) derived from recycled plastics were prepared by catalytic chemical vapor deposition and used as nucleating and reinforcing agents. As a result of the results, the physical, mechanical, and dynamic response properties of EPP foam combined with CNT and zinc oxide nanoparticles were significantly improved. When CNT was added to the nanocomposites with a weight percentage of less than 0.5 wt%, the wear resistance, physical properties, dynamic stiffness, compressive strength, and rebound properties of EPP foams were significantly improved.
B-doped hydrogenated amorphous silicon carbide (a-SiC:H) thin films were prepared by plasma-enhanced chemical-vapor deposition in a gas mixture of $SiH_4, CH_4,\;and\; B_2H_6$. Physical and chemical properties of a-SiC:H films grown with varing the ratio of $B_2H_6/(SiH_4+CH_4)$ were characterized with various analysis methods including scanning electron microscopy (SEM), X-ray diffractometry (XRD), Raman spectroscopy, Fourier-transform infrared (FTIR) spectroscopy, secondary ion mass spectroscopy (SIMS), UV absorption CH_4spectroscopy and electrical conductivity measurements. With the B-doping concentration, the doping efficiency and the micro-crystallinity were decreased and the film became amorphous when $B_2H_6/(SiH_4{plus}CH_4)$ was over $5{\times}10^{-3}$. The addition of $B_2H_6$ gas during deposition decreased the H content in the film by lowering the quantity of Si-C-H bonds. Consequently, the optical band gap and the activation energy of a-SiC:H films were decreased with increasing the B-doping level.
The development of two-dimensional graphene layers has recently attracted considerable attention because of its tremendous application in various research fields. Semi-metal materials have received significant attention because of their excellent biocompatibility as well as distinct physical, chemical, and mechanical properties. Taking into account the technical importance of graphene in various fields, such as complementary metal-oxide-semiconductor technology, energy-harvesting and -storage devices, biotechnology, electronics, light-emitting diodes, and wearable and flexible applications, it is considered to be a multifunctional component. In this regard, material scientists and researchers have primarily focused on two typical problems: i) direct growth and ii) low-temperature growth of graphene. In this review, we have considered only cold growth of graphene. The review is divided into five sections. Sections 1 and 2 explain the typical characteristics of graphene with a short history and the growth methods adopted, respectively. Graphene's direct growth at low temperatures on a required substrate with a well-established application is then precisely discussed in Sections 3 and 4. Finally, a summary of the review along with future challenges is described in Section 5.
Single-crystal like $MgB_2$ thin film was grown on (000l) $Al_2O_3$ substrate by using hybrid physical-chemical vapor deposition (HPCVD) system. Single crystal properties were studied by X-ray diffraction (XRD) and the full width at half maximum (FWHM) of the (0001) $MgB_2$ peak is $15^{\circ}$, which is very close to that has been reported for $MgB_2$ single-crystal. It indicates that the crystalline quality of thin film is good. Temperature dependence on resistivity was investigated by physical property measurement system (PPMS) in various applied fields from 0 to 9 T. The upper critical field ($H_{c2}$) and irreversibility field ($H_{irr}$) were determined from PPMS data, and the estimated values are comparable with that of $MgB_2$ single-crystals. The thin film shows a high critical temperature ($T_c$) of 40.4 K with a sharp superconducting transition width of 0.2 K, and a high residual resistivity ratio (RRR=21), it reflects that $MgB_2$ thin film has a pure phase structure.
Journal of the Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers
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v.19
no.8
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pp.732-736
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2006
This paper describes the physical characterizations of polycrystalline 3C-SiC thin films heteroepitaxially grown on Si wafers with thermal oxide, In this work, the 3C-SiC film was deposited by LPCVD (low pressure chemical vapor deposition) method using single precursor 1, 3-disilabutane $(DSB:\;H_3Si-CH_2-SiH_2-CH_3)\;at\;850^{\circ}C$. The crystallinity of the 3C-SiC thin film was analyzed by XPS (X-ray photoelectron spectroscopy), XRD (X-ray diffraction) and FT-IR (fourier transform-infrared spectometers), respectively. The surface morphology was also observed by AFM (atomic force microscopy) and voids or dislocations between SiC and $SiO_2$ were measured by SEM (scanning electron microscope). Finally, residual strain was investigated by Raman scattering and a peak of the energy level was less than other type SiC films, From these results, the grown poly 3C-SiC thin film is very good crystalline quality, surface like mirror, and low defect and strain. Therefore, the polycrystalline 3C-SiC is suitable for harsh environment MEMS (Micro-Electro-Mechanical-Systems) applications.
Transactions on Electrical and Electronic Materials
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v.11
no.2
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pp.49-53
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2010
Microstructural origins of leakage current and physical degradation during operation in product-quality AlGaN/GaN high electron mobility transistor (HEMT) devices were investigated using photon emission microscopy (PEM) and transmission electron microscopy (TEM). AlGaN/GaN HEMTs were fabricated with metal organic chemical vapor deposition on semi-insulating SiC substrates. Photon emission irregularity, which is indicative of gate leakage current, was measured by PEM. Site specific TEM analysis assisted by a focused ion beam revealed the presence of threading dislocations in the channel below the gate at the position showing strong photon emissions. Observation of electrically degraded devices after life tests revealed crack/pit shaped defects next to the drain in the top AlGaN layer. The morphology of the defects was three-dimensionally investigated via electron tomography.
Carbon nanotubes [CNTs] are grown on TiN-coated Si substrates at $700^{\circ}C$ by inductively coupled plasma-chemical vapor deposition (ICP-CVD). Pre-treatment of Ni catalysts has been performed using an RF magnetron sputtering system. Structural properties and field-emission characteristics of the CNTs grown are analyzed in terms of the RF power applied and the treatment time used in the pre-treatment process. The characterization using various techniques, such as FE-SEM, AFM, and Raman spectroscopy, show that the physical dimension as well as the crystal quality of CNTs are changed by pre-treatment of Ni catalysts. It is also seen that Ni catalysts with proper grain size and uniform surface roughness may produce much better electron emission. The physical reason for all the measured data obtained are discussed to establish the relationship between the structural property and the electron emission characteristic of CNTs.
In-situ pulse laser (Nd-YAG, 2nd harmonics 532 nm) annealing used in physical vapor deposition of $MgF_2$, $SiO_2$ and ZnS thin films was shown to be effective in improving their surface roughness properties. Total integrated scattering (TIS) measurements of $MgF_2$ and $SiO_2$ samples deposited on glass substrates revealed that the laser irradiation of films at an energy of approximately $140\;mJ/cm^2$ at 532 nm with a repetition frequency of 10 Hz and pulse duration of 5 ns during the deposition resulted in total scatterings that were minimum. But in case of the ZnS samples, measurements revealed minimum total scattering at a laser energy of approximately $62\;mJ/cm^2$. Atomic Force Microscopy (AFM) has been used to evaluate the effect of pulse laser annealing on the surface roughness for thin film samples. The results were similar to the TIS measurements, indicating that surface roughness was decreased when the irradiated annealing pulse laser energy increased. But it also increased when the irradiated annealing pulse laser energy was over some limit that depended on the materials.
Micro polysilicon actuators, which are widely used in the field of MEMS (Microelectromechanical System) technology, were fabricated using polysilicon thin layers. Polysilicon deposition were carried out to have symmetrical layer structures with a LPCVD (Low Pressure Chemical Vapor Deposition) system, and we have measured physical characteristics by micro test patterns, such as bridges and cantilevers to verify minimal mechanical stress and stress gradient in the polysilicon layers according to the methods of mutilayer deposition, doping, and thermal treatment, also, analyzed the properties of each specimen, which have a different process condition, by XRD, and SIMS etc.. Finally, the fabricated planar polysilicon resonator, symmetrically stacked to $6.5{\mu}m$ thickness, showed Q of 1270 and oscillation ampitude of $5{\mu}m$ under DC 15V, AC 0.05V, and 1000 mtorr pressure. The developed micro polysilicon resonator can be utilized to micro gyroscope and accelerometer sensor.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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