The 1/f Noise Analysis of 3D SONOS Multi Layer Flash Memory Devices Fabricated on Nitride or Oxide Layer (산화막과 질화막 위에 제작된 3D SONOS 다층 구조 플래시 메모리소자의 1/f 잡음 특성 분석)
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- Journal of the Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers
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- v.25 no.2
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- pp.85-90
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- 2012