• 제목/요약/키워드: PLZT(x/70/30)

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전장하에서 PLZTd의 반강유전-강유전 상전이의 동시적 X-선 회절 측정 (Simulataneous X-ray Diffraction Measurements of the Antiferroelectric-ferroelectric Phase Transition of PLZT under Electric Field)

  • 고태경;조동수;강현구
    • 한국세라믹학회지
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    • 제33권11호
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    • pp.1292-1300
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    • 1996
  • PLZT(x/70/30)의 x=7.5, 8.0, 8.5, 10.5 조성에 대하여 전계인가와 동시에 X-선 회절측정을 전계 20kV/cm에 이르기까지 수행하였다. 모든 PLZT는 입방상에 속하였다. x=7.5, 8.0, 8.5에서 PLZT는 4~8kV/cm의 낮은 전계에 이르기까지 반강유전적인 특성을 보였으며 보다 높은 전계에서는 강유전적인 특성을 나타내었다. 온도에 따른 유전상수의 측정에 따르면 x=7.5, 8.0, 8.5 조성에서 PLZT는 완화형 강유전체와 유사하였으며 50-7$0^{\circ}C$에서 확산적인 반강유전-상유전 상전이가 나타났다. 자발분극-전계(P-E) 이력곡선은 이들이 반강유전적인 특성을 가지고 있음을 보여주었다. 매우 넓은 큐리점의 분포는 이들 PLZT의 결정구조에서 La 치환에 의한 양이온 및 빈자리의 무질서도가 상당함을 시사한다. PLZT (10.5/70/30)의 전계에 따른 변형은 매우 미미하였으며 이력현상이 없는 상유전적인 특성을 보였다. 전계인가에 따른 변형률은 La 치환량이 증가함에 따라 감소하였다. PLZT(7.5/70/30)에서 110회절선의 강도는 전계인가에 민감하게 변화하여, [110] 방향에 평행한 자발분극을 가지는 분역이 전계인가로 유도된 PLZT의 강유전상에서 발달된 것처럼 여겨진다.

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세라믹 엑튜에이터 응용을 위한 Sn 치환의 PLZT(7.5/70/30)의 변형특성 (Strain Properties of Sn-Substituted PLZT(7.5/70/30) for Application of Ceramic Actuator)

  • 고태경;강현구;박재환
    • 한국세라믹학회지
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    • 제35권5호
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    • pp.512-520
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    • 1998
  • PLZT(7.5/70/30) was initially a cubic phase having diffuse phase transition at high temperatures. Sn-sub-stitution for PLZT(7.5/70/30) underwent an irreversible phase transition from cubic to rhom-bohedral structure. However PLZTS(7.5/70/30/y=5 & 10) could be reversibly switched from paraelectric to ferroelectric phase under electric field without showing a significant change in crystal structure. With in-creasing the amount of Sn-substitution the P-E behaviors of the PLZTS became more antiferroelectric which was similar to the effect of La-substitution of PLZT. Our study may suggest that Sn-substitution ef-fectively weakens a formation of long-range order between polar Ti-or Zr- containing octahedra which greatly affects strain properties.

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비휘발성 메모리 소자를 위한 PLZT(x/30/70) 박막에 대한 La 농도변화의 효과 (The Effect of La Concentration on The PLZT(x/30/70) Thin Films for NVRAM Memory Device)

  • 김성진;윤영섭
    • 대한전자공학회:학술대회논문집
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    • 대한전자공학회 2000년도 하계종합학술대회 논문집(2)
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    • pp.28-31
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    • 2000
  • In this paper, the effects of La addition of PLZT(x/30/70) thin films Prepared by sol-gel method are investigated for NVFRAM application. The tetragonality (c/a), the grain size, and the surface roughness of PLZT thin films decrease with an increase of La concentration. As the La concentration increases, the dielectric constants at 10 kHz increase from 450 to 600, while the loss tangent decrease from 0.075 to 0.025. Also, the leakage current density at 100kV/cm decrease from 5.83$\times$10$^{-7}$ to 1.38$\times$10$^{-7}$ 4/$\textrm{cm}^2$. In the results of hysteresis loops measured at $\pm$170kV/cm, the remanent polarization and the coercive field of PLZT thin films with La concentration from 0 to 10㏖% decrease from 20.8 to 10.5 $\mu$C/cm and from 54.48 to 32.12kV/cm, respectively. After a fatigue measurement by applying 10$^{9}$ square pulses with $\pm$5V, the remanent polarizations of PLZT thin films with 0 and 10㏖% La concentration decrease about 64 and 42 % from initial state. In the results of retention measurement after 10$^{5}$ s, PLZT thin films with 0 to 10mo1% La concentration show that the remanent polarization is decreased about 43% and 9% from initial state, respectively.

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La 농도에 따른 PLZT(x/30/70) 박막의 피로 특성에 관한 연구 (Fatigue Characteristics of PLZT(x/30/70) Thin Films with Various La Concentrations)

  • 강성준;정윤근;정양희
    • 한국정보통신학회논문지
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    • 제9권5호
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    • pp.1066-1072
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    • 2005
  • 비휘발성 메모리 소자로의 응용의 관점에서, sol-gel 방법으로 PLZT(x/30/70) 박막을 제작하여 La 농도에 따른 구조적 및 전기적 특성을 조사하였다 La 농도가 0 에서 $10mol\%$ 로 증가함에 따라, PLZT 박막의 유전상수는 450 에서 600 으로 증가된 반면, 유전손실과 100kV/cm에서 측정한 누설전류밀도는 각각 0.075 에서 0.025 로 $5.83{\times}10^{-7}$에서 $1.38{\times}10^{-7}A/cm^2$ 으로 감소되었다. 175kV/cm 에서 측정한 PLZT 박막의 이력곡선을 측정한 결과, La 농도가 0 에서 $10mol\%$ 로 증가함에 따라 박막의 잔류분극과 항전계는 각각 20.8에서 $10.5{\mu}C/cm^2,$ 54.48 에서 32.12kV/cm 로 감소되었다. PLZT 박막에 ${\pm}5V$ 의 사각펄스를 $10^9$ 회 인가하여 피로특성을 측정한 결과, La 농도가 증가함에 따라 초기 분극값의 감소가 64 에서 $40\%$ 로 개선됨을 확인할 수 있었다.

2단 소성시간이 7.6/70/30 PLZT 세라믹의 전기적 특성에 미치는 영향 (Electro-optic Characteristics of 7.5/70/30 PLZT Ceramics According to the Second Stage Sintering Time)

  • 박창엽;정익채;정희승
    • 대한전기학회:학술대회논문집
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    • 대한전기학회 1987년도 정기총회 및 창립40주년기념 학술대회 학회본부
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    • pp.220-223
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    • 1987
  • In this paper, electro-optic characteristics of PLZT 7.6/70/30 composition in MPB regions, which antiferroelectric and ferroelectric phases coexist together, were studied. As sintering times are increased, Curie temperatures ore linearly decreased. And the antiferroelectric phase becomes more stronger when Curie temperatures are decreased. The crystal structure investigated by lie of X-ray analysis is proved to cubic in the thermally depoled specimen and rhombohedral in the poled specimen. Accordingly, the applicability of 7.6/70/30 specimen as image storage and display device is expected by the method for applying field induced reversible transitions between antiferroelectric(AFE) and ferroelectric(FE) phase.

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