• 제목/요약/키워드: Optical and structural properties

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금속층이 포함된 측면 연마 광섬유 결합기의 편광 분리 특성 (Polarization splitting characteristics of the side-polished fiber coupler with a thin metal interlayer)

  • 김광택;황보승
    • 한국광학회지
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    • 제13권3호
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    • pp.228-234
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    • 2002
  • 금속박막이 포함된 측면 연마 광섬유 결합기의 편광 선택적 결합 특성에 관한 이론적 연구 결과를 보고한다. 직교 모드이론을 이용하여 다양한 구조 조건에서 소자의 결합 특성을 분석하였다. 금속 박막의 두께가 증가함에 따라 TE 모드사이의 결합의 세기는 급격히 약해지는 반면에 TM 모드의 결합의 세기는 커짐을 보였다. 높은 편광 소멸비와 낮은 삽입 손실을 가지는 편광 분리기의 설계 조건을 제시하였다.

Effect of $Bi^{3+}$ addition on photoluminescence of (Y,Gd)(V,P)$O_4$:Eu phosphor

  • Kyung, Hyun-Ai;Choi, Sung-Ho;Seong, Tae-Yeon;Jung, Ha-Kyun
    • 한국정보디스플레이학회:학술대회논문집
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    • 한국정보디스플레이학회 2008년도 International Meeting on Information Display
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    • pp.569-571
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    • 2008
  • The structural and optical properties on $Bi^{3+}$ addition in (Y,Gd)(V,P)$O_4:Eu^{3+}$ red phosphor were investigated. With the addition of $Bi^{3+}$, the band edge in excitation spectrum shifts toward longer wavelength region, resulting in remarkable enhancement of the red emission intensity at 619 nm.

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산소 가스 유량비에 따라 제작한 Al이 도핑된 ZnO 박막 (AI doped ZnO thin film deposited with $O_2$ gas flow rate)

  • 조범진;금민종;김경환
    • 대한전기학회:학술대회논문집
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    • 대한전기학회 2006년도 추계학술대회 논문집 전기물성,응용부문
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    • pp.67-68
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    • 2006
  • We prepared the AZO thin film with different $O_2$ gas flow rate. the AZO thin films were deposited on glass substrate at room temperature, working gas pressure of 1mTorr. the electrical, structural and optical properties of AZO thin films were investigated by using Hall Effect measurement system, X-ray Diffractometer (XRD) and UV-VIS spectrometer. From the results, we could obtain that AZO thin film with low resistivity of $8.5{\times}10^{-4}{\Omega}cm$ was exhibited in specific $O_2$ gas flow rate. Also, the transmittance of over 80% in visible range was observed in specific $O_2$ gas flow rate. In all of the AZO thin film with the transmittance of over 80%, diffraction peak of (002) direction was observed, while amorphous peak was observed in the AZO thin film with the low transmittance.

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막 두께 변화에 따라 실온 제작된 ITO 박막의 특성 (Properties of ITO thin films with film thickness at room temperature)

  • 김경환;김현웅;금민종;김한기
    • 대한전기학회:학술대회논문집
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    • 대한전기학회 2005년도 제36회 하계학술대회 논문집 C
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    • pp.1856-1858
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    • 2005
  • In this study, Indium Tin Oxide(ITO) thin films were prepared at $O_2$ gas 0.2 sccm, no heating to substrate and working pressure 1mTorr with varying deposition time. We estimated structural, optical, electrical characteristics of ITO thin films as function of ITO thin films thickness. As a result, XRD peaks increased with increasing the thickness. The ITO thin film was fabricated with resistivity $4.23{\times}10^{-4}[{\Omega}{\cdot}cm]$, carrier mobility $52.9[cm^2/V{\cdot}sec]$, carrier concentration $2.79{\times}10^{20}[cm^{-3}]$. And we also observed that the SEM images of ITO thin films surface.

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Effect of rapid thermal annealing on CdS films prepared by RF magnetron sputtering

  • 황동현;감대웅;안정훈;손영국
    • 한국진공학회:학술대회논문집
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    • 한국진공학회 2009년도 제38회 동계학술대회 초록집
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    • pp.164-164
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    • 2010
  • Cds films were deposited on glass substrates using rf magnetron sputtering method followed by rapid thermal annealing(RTA). Effects of annealing temperature on surface characteristic, structural, electrical and optical property of CdS films were investigated at different temperatures ranging from 250 to $550^{\circ}C$ with various holding time. The film annealed at $450^{\circ}C$ with less than 1 min holding time is attributed to the improved crystalline quality of CdS film due to the effective relaxation of residual compressive stress and achieving maximum grain size. The results show that RTA treatments under optimal annealing condition can provide significant improvements in the properties of CdS films.

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Sol-gel법에 의한 박막태양전지용 CuInS2 박막의 증착과 특성 (Characteristics and Deposition of CuInS2 film for thin solar cells via sol-gel method0)

  • 이상현;이승엽;박병옥
    • 한국결정성장학회지
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    • 제21권4호
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    • pp.158-163
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    • 2011
  • 박막 태양전지의 저가 고효율화를 실현하기 위해 넓은 면적의 기판 위에 코팅이 가능하며 진공의 유자가 필요 없기 때문에 장치가 간단하고 고순도의 균질한 박막을 얻을 수 있고 박막의 조성을 쉽게 조절할 수 있는 Sol-Gel법을 이용 하였다. Se보다 저가이며 독성이 없고 풍부한 원료인 S로 치환하여 사용하며 Cu/In비 값을 조절하고 tetragonal chalcopyrite $CuInS_2$의 열처리 온도에 따른 박막의 구조적, 광학적 특성에 미치는 변수들의 영향을 알아보았다. XRD pattern을 관찰한 결과 Cu/In비가 1.0일 때 $2{\theta}=27.9^{\circ}$에서 주피크가 가장 강하게 나타났으며 (112) 방향의 배향성을 가진 chalcopyrite상임을 확언 할 수 있었다. 열처리 온도가 증가할수록 (112) 면의 강도가 커지며 $500^{\circ}C$에서 열처리를 한 $CuInS_2$ 박막은 tetragonal 구조의 화학량론적 $CuInS_2$ 특징을 나타내고 본 실험의 샘플의 격자상수를 측정한 값이 a = 5.5032, c = 11.1064 ${\AA}$이며 JCPDS(Joint Committee on Powder Diffraction Standards)에 보고된 데이터 a = 5.523, c = 11.14 ${\AA}$과 거의 일치하였다. 광학적 특성을 알아보기 위해 측정한 광투과율은 가시광선 영역(380~770 nm)에서 전체적으로 30% 이하로 나타났다.

PLD 법을 이용해 제작한 ZnO 박막의 광학적 특성 (Optical Properties of ZnO Thin Films deposited by Pulsed Laser Deposition)

  • 강성준;정양희;윤영섭
    • 대한전자공학회논문지SD
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    • 제44권5호
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    • pp.15-20
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    • 2007
  • 펄스 레이저 증착법을 이용하여 ZnO 박막을 quartz 기판 위에 증착하였으며, 기판 온도에 따른 박막의 구조적 및 광학적 특성을 조사하였다. 기판 온도 변화에 관계없이 모든 박막이 (002) 방향으로 성장하였으며, 400 $^{\circ}C$ 에서 반가폭은 0.24$^{\circ}$로 가장 우수한 결정성을 갖는 박막이 제작되었다. 또, 박막의 발광 특성을 조사한 결과, 모든 박막에서 UV 발광 피크와 deep-level 발광 피크가 관찰되었으며, 기판 온도에 따른 발광 피크의 변화가 관찰되었다. 가장 우수한 UV 발광 특성은 400 $^{\circ}C$ 에서 관찰되었으며, 반가폭은 14 nm 였다. 기판 온도에 무관하게 가시광 영역에서 약 85 % 정도의 투과도를 나타내었다. 투과도 측정을 통하여 얻은 광학 밴드갭 에너지와 UV 발광 중심 값을 비교한 결과, 두가지 결과 값들이 서로 유사한 값을 나타냈다. 이로부터 UV 발광 중심 값이 ZnO 의 near band edge emission 을 나타낸다는 사실을 알 수 있었다.

헬리컬 핀 구조를 가진 LED 조명용 히트싱크의 열 특성 (Thermal Characteristics of a Heat Sink with Helical Fin Structure for an LED Lighting Fixture)

  • 김영훈;임해동;오범환
    • 한국광학회지
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    • 제25권6호
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    • pp.311-314
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    • 2014
  • 본 논문에서는 LED 모듈의 방열성능을 개선하기 위하여 히트싱크의 새로운 핀 구조를 설계하고 열 특성을 분석하였다. 대부분의 히트싱크는 판상형이나 침상형의 핀으로 구성되는 것이 일반적이나, 스프링 모양의 헬리컬 핀 구조를 설계변수와 함께 도입하여 제한된 부피 대비 넓은 표면적을 갖는 히트싱크를 설계하였다. 약 14% 넓어진 표면적을 통해 방열 효율을 개선하였고, 그에 따라 LED 칩의 온도를 약 12% 정도 저감하는 효과를 가져 올 수 있었다. 또한, 기존의 히트싱크 보다 넓은 표면적을 가지는데 비해 형성 부피는 약 15% 감소하게 되어 재료비 절감은 물론 공정상의 이점에 따른 공정 생산비의 절감을 기대할 수 있는 새로운 고성능 LED 조명용 히트싱크를 설계하였다.

Si(111) 위에 Ion beam 처리 후 AlN layer를 완충층으로 이용하여 성장시킨 GaN의 특성 (The characteristics of AlN buffered GaN on ion beam modified Si(111) substrates)

  • 강민구;진정근;이재석;오승석;현진;변동진
    • 한국재료학회:학술대회논문집
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    • 한국재료학회 2003년도 춘계학술발표강연 및 논문개요집
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    • pp.99-99
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    • 2003
  • The growth of GaN on Si is of great interest due to the several advantages : low cost, large size and high-quality wafer availability as well as its matured technology. The crystal quality of GaN is known to be much influenced by the surface pretreatment of Si substrate[1]. In this work, the properties of GaN overlayer grown on ion beam modified Si(111) have been investigated. Si(111) surface was treated RIB with 1KeV-N$_2$$\^$+/(at 1.9 ${\times}$ 10$\^$-5/) to dose ranging from 5${\times}$10$\^$15/ to 1${\times}$10$\^$17/ prior to film growth. GaN epilayers were grown at 1100$^{\circ}C$ for 1 hour after growing AlN buffer layers for 5∼30 minutes at 1100$^{\circ}C$ in Metal Organic Chemical Vapor Deposition (MOCVD). The properties of GaN epilayers were evaluated by X-Ray Diffraction(XRD), Raman spectroscopy, Photoluminescence(PL) and Hall measurement. The results showed that the ion modified treatment markedly affected to the structural, optical and electrical characteristic of GaN layers.

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