• 제목/요약/키워드: Latent faults

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비동기 순차 머신의 비-기본모드에서 발생하는 고장 극복을 위한 교정 제어 (Fault-Tolerant Corrective Control for Non-fundamental Mode Faults in Asynchronous Sequential Machines)

  • 양정민;곽성우
    • 전기전자학회논문지
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    • 제24권3호
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    • pp.727-734
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    • 2020
  • 본 논문은 과도 고장을 가지는 비동기 순차 머신에 대한 내고장성 교정 제어를 다룬다. 본 논문에서 다루는 고장은 머신이 과도 상태 천이를 거칠 때 발현할 수 있으므로 비-기본 모드(non-fundamental mode)에서 원하지 않는 상태 천이를 일으킨다. 본 논문에서는 비동기 순차 머신의 비-기본 모드에서 발생하는 과도 고장을 탐지하고 극복할 수 있는 새로운 내고장성 제어 시스템을 제안한다. 교정 제어 이론의 틀 안에서 내고장성 제어기의 존재 조건과 설계 과정을 제시한다. 또한 제안된 제어 시스템의 효용성을 검증하기 위해 FPGA 실험을 실시한다.

THE FORMATION MECHANISM OF GROWN-IN DEFECTS IN CZ SILICON CRYSTALS BASED ON THERMAL GRADIENTS MEASURED BY THERMOCOUPLES NEAR GROWTH INTERFACES

  • Abe, Takao
    • 한국결정성장학회:학술대회논문집
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    • 한국결정성장학회 1999년도 PROCEEDINGS OF 99 INTERNATIONAL CONFERENCE OF THE KACG AND 6TH KOREA·JAPAN EMG SYMPOSIUM (ELECTRONIC MATERIALS GROWTH SYMPOSIUM), HANYANG UNIVERSITY, SEOUL, 06월 09일 JUNE 1999
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    • pp.187-207
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    • 1999
  • The thermal distributions near the growth interface of 150mm CZ crystals were measured by three thermocouples installed at the center, middle (half radius) and edge (10m from surface) of the crystals. The results show that larger growth rates produced smaller thermal gradients. This contradicts the widely used heat flux balance equation. Using this fact, it si confirmed in CZ crystals that the type of point defects created is determined by the value of the thermal gradient (G) near the interface during growth, as already reported for FZ crystals. Although depending on the growth systems the effective lengths of the thermal gradient for defect generation are varied, were defined the effective length as 10mm from the interface in this experiment. If the G is roughly smaller than 20C/cm, vacancy rich CZ crystals are produced. If G is larger than 25C/cm, the species of point defects changes dramatically from vacancies to interstitial. The experimental results which FZ and CZ crystals are detached from the melt show that growth interfaces are filled with vacancy. We propose that large G produces shrunk lattice spacing and in order to relax such lattice excess interstitial are necessary. Such interstitial recombine with vacancies which were generated at the growth interface, next occupy interstitial sites and residuals aggregate themselves to make stacking faults and dislocation loops during cooling. The shape of the growth interface is also determined by the distributions of G across the interface. That is, the small G and the large G in the center induce concave and convex interfaces to the melt, respectively.

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결점 필터링 개념 기반 품질관리 노력 추정 모델 (An Quality Management Effort Estimation Model Based on Defect Filtering Concept)

  • 이상운
    • 한국컴퓨터정보학회논문지
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    • 제17권6호
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    • pp.101-109
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    • 2012
  • 고 품질의 소프트웨어를 개발하기 위해서는 소프트웨어 내에 잠재된 결점을 제거하기 위한 품질관리계획이 요구된다. 이를 위해 결점 제거 프로필을 적절히 기술해야만 한다. 기존의 유조와 도관 모델은 결점이 제거되고 도피하는 결점을 계산하는데 복잡한 과정을 수행한다. 또한 어느 단계에서 삽입된 결점이 제거되고 도피하였으며, 단계별 결점 발견율이 얼마인지를 상세히 알고 있어야만 한다. 이러한 복잡한 과정을 단순화하기위해 본 논문은 결점필터링 개념에 기반하여 모델을 제시하였다. 제시된 모델은 임의의 단계에서 제거와 도피한 결점이 어느 단계에서 삽입된 결점에 관련되어 있는지 고려할 필요가 없어 결점을 보다 간략히 기술할 수 있는 장점이 있다. 또한, 결점 제거 품질척도와 생산성 척도의 함수에 기반하여 결점제거에 요구되는 노력 추정 모델을 제시하였다.