• 제목/요약/키워드: LCD 유리기판

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LCD 제조공정에서 물리적 세정법의 미립자 제거효율 비교 연구 (Comparison of particle removal efficiency between the physical cleaning methods in the fabrication of liquid crystal displays)

  • 박창범;이승준;장인성
    • 한국산학기술학회논문지
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    • 제11권3호
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    • pp.795-801
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    • 2010
  • LCD (Liquid Crystal Display) 제조기술이 발전함에 따라 유리기판은 점차 대형화되는 추세이고 제조공정도 세밀화되어 감에 따라 LCD 제조과정에서 세정공정의 중요성이 부각되고 있다. 본 연구에서는 물리적 세정방법 중 브러쉬 (brush), 버블제트 (bubble jet) 및 이류체 (aqua/air) 세정법을 이용하여 미립자 (particles) 제거효율을 비교 평가하였다. 7세대 LCD 유리기판 ($1875\;mm\;{\times}\;2200\;mm$)을 대상으로 초순수 (deionized water)의 유량 및 압력 변화와 브러쉬의 모(毛)와 유리기판과의 접촉깊이 (contact depth) 등의 운전조건 변화를 통하여 미립자의 제거효율을 비교하였고 각 세정법에 의한 유의차 분석을 통해 향후 세정장비 개발에 유용한 자료로 활용하고자 하였다. 브러쉬 세정의 경우 브러쉬 접촉깊이에 변화를 주었을 때 임계점부터는 세정효율에 유의차가 크지 않음을 알 수 있었다. 버블제트 세정은 압력변화에 따른 세정력 유의차가 거의 없음을 관찰할 수 있었으며, 이류체 세정은 압력변화시 임계점까지는 세정력 유의차가 존재하나 임계점 이후부터는 유의차가 발생하지 않았다. 상기 3가지 세정방법 중 브러쉬 세정이 주어진 조건에서는 세정효과가 가장 큰 것으로 나타났다.

LCD 유리기판 폴리싱 가공특성에 관한 연구 (A Study on the Polishing Characteristics of LCD Glass)

  • 이상민;이충석;채승수;김택수;박휘근;이종찬
    • 한국기계가공학회지
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    • 제8권1호
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    • pp.77-82
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    • 2009
  • This paper reports a kinematic analysis and experimental results for the polishing process of G7 LCD glass. A kinematic analysis for the relative motion of the upper plate and lower plate has been done and computer simulation has been programmed. A series of polishing experiments has also been carried out and compared with analytical data. The experimental results agreed well with analytical ones. The experimental results indicate that the polishing removal is proportional to the relative speed and pressure.

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가변입사각 타원해석법을 사용한 유리기판위의 이산화규소박막의 굴절율 및 두께 측정 (Measurement of a refractive index and thickness of silicon-dioxide thin film on LCD glass substrate using a variable angle ellipsometry)

  • 방현용;김현종;김상열
    • 한국광학회:학술대회논문집
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    • 한국광학회 1996년도 Advance Program of 13th optics andquantum Electronics conference, 1996제13 회 광학 및 양자전자 학술 발표회 논문 요약집
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    • pp.3-3
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    • 1996
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기류방출형 정전기제거장치의 개발에 관한 연구

  • 이동훈;박훈규
    • 한국산업안전학회:학술대회논문집
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    • 한국안전학회 2003년도 춘계 학술논문발표회 논문집
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    • pp.167-172
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    • 2003
  • 액정판넬(LCD) 및 반도체 제조공정에 있어서 정전기 발생으로 인하여 미세한 먼지가 LCD 및 반도체 웨이퍼에 부착되거나, 정전기 방전에 의해 반도체소자 및 LCD 유리기판상의 패헌의 파괴를 야기하여 제품의 수율을 저하시키고 제조원가를 상승시키는 주요한 요인이 된다. 현재 이러한 제조공정에서 정전기를 위한 대책으로 코로나방전에 의한 이온바(Ion Bar) 및 이온브로어(Ion Blower)를 제전설비로 사용하고 있으나, 이 장치는 코로나 방전에 의한 이온을 발생시키고 이온화된 공기를 불어 내기 위하여 팬을 사용하여 공기를 대류 시킨다.(중략)

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가변 입사각 타원 해석법을 사용한 유리기판위의 이산화규소박막의 굴절율 및 두께 측정 (Measurement of a refractive index and thickness of silicon-dioxide thin film on LCD glass substrate using a variable angle ellipsometry)

  • 방현용;김현종;김상열;김병익
    • 한국광학회지
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    • 제8권1호
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    • pp.31-36
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    • 1997
  • 나트륨 이온의 용출을 방지하기 위해 LCD용 유리기판위에 입혀진 SiO$_{2}$ 박막의 굴절율 및 두께를 측정하였다. 입사각을 고정하고 박막의 두께를 0 .angs.부터 주기 두께까지 20.angs.씩 증가시키며 계산한 타원해석상수와 두께를 고정하고 입사각을 45.deg에서 70.deg까지 1.deg.씩 증가시키며 계산한 타원해석상수를 이용하여 LCD용 유리기판위에 증착된 SiO$_{2}$ 박막의 굴절율 및 두께 측정에서의 최적 측정 조건을 구하였다. 최적 측정 조건에서 굴절율 및 두께의 변화에 따른 타원해석상수 .DELTA.와 .PSI.의 변화를 계산하여 .DELTA.와 .PSI.측정 상의 오차와 비교하여 굴절율 및 두께 결정 시의 오차를 추정하였다. 최적 측정 조건인 Brewster 각 근방에서의 여러 입사각에서 LCD용 유리기판위에 입혀진 SiO$_{2}$ 박막의 타원해석상수 .DELTA.와 .PSI.를 측정하고, 이 측정값에 최적 맞춤하는 SiO$_{2}$ 박막의 굴절율 및 두께를 회귀분석방법을 사용하여 전산 계산하고 분광타원해석법에 의한 박막의 두께 및 굴절율과 비교하였다.

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대면적 TFT-LCD 유리기판 이송용 복합재료 로봇 손 개발에 관한 연구 (The Study on the Development of Composite Robot Hand for TFT-LCD Glass Transport)

  • 최기한;한창우;이상룡
    • 대한기계학회논문집A
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    • 제26권7호
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    • pp.1357-1365
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    • 2002
  • A robot hand is used to transport the glass substrate in TFT-LCD manufacturing process. Carbon/epoxy composite is one of the best materials for this kind of robot hand application, due to their lightweight, high stiffness, and good damping characteristics. Major requirement of the robot hand is given as allowable deflection under weight loading of glass substrate and robot hand itself. In this thesis, a carbon/epoxy robot hand was analyzed using finite element method and beam theory to determine the deflection of the hand under the loading that is equivalent to actual weight. Because natural frequency is one of the major interests in robot hand design for TFT-LCD manufacturing process, modal analysis is also conducted using finite element method and beam theory. A robot hand was manufactured, and actual deflection and natural frequency were measured to verify the analysis results and compliance to requirement. The test results showed good agreement with analysis results.

교류 자계 유도 결정화된 다결정 박막 트랜지스터의 비대칭 오프셋 구조를 통한 누설 전류 감소 효과 (Leakage Current Suppression of Asymmetric-Offset Polycrystalline Thin Film Transistor employing)

  • 강동원;이원규;한상면;최준후;김치우;한민구
    • 대한전기학회:학술대회논문집
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    • 대한전기학회 2008년도 제39회 하계학술대회
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    • pp.1199-1200
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    • 2008
  • N형 공핍 모드의 탑 게이트 다결정실리콘 박막 트랜지스터에 비대칭 오프셋 구조를 적용하였다. 이로써 드레인 부근의 전계를 감소시켜, on전류의 큰 손실 없이 누설 전류를 86% 감소시켰다. 박막 트랜지스터는 유리 기판위에 교류 자계 유도 결정화를 이용하여 제작하였고, 마스크 추가 없이 오프셋 구조를 형성하였다. 또한 비정질 실리콘과 n+ 층은 이온 주입을 하지 않고 증착하였다. 이 방법은 능동 구동 디스플레이에서 소비 전력 감소와 이미지 유지에 도움이 될 수 있다.

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회귀분석을 이용한 ITO 코팅유리기판의 표면균일도와 운전변수의 상관관계 분석 (Relationship between Working Parameter and Surface Nniformity of ITO coated Glass Substrate using Regression Analysis)

  • 김면희;이상룡;이태영;배준영
    • 한국정밀공학회:학술대회논문집
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    • 한국정밀공학회 2004년도 추계학술대회 논문집
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    • pp.1353-1356
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    • 2004
  • In recent year, OLED(organic light emitted display) is used as the next generation device of FPD. OLED have been replacing the flat panel display device such as LCD, STN-LCD and TFT because this device is more efficient, economic and simple than those FPD devices, and this need not backlight system for visualization. The performance and efficiency of OLED is related with surface defect of ITO coated glass substrate. The typical surface defect of glass substrate is nonuniformity and bad surface roughness. ITO coated glass substrate is destroied for inspection about surface roughness and non-uniformity. Generally detection of the defects in the surface for ITO coated glass substrate is dependent on operator's experience. In this research, relationship between working parameter and surface non-uniformity is studied using regression analysis.

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쌍안정 TN 액정셀의 스위칭 특성 해석 (Numerical modeling of dynamic switching behavir in a bistable TN LCD)

  • 김병석;김양수;윤태훈;김재창
    • 한국광학회지
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    • 제9권2호
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    • pp.117-122
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    • 1998
  • 쌍안정 TN LCD의 스위칭 특성을 Berreman에 의해 제시된 backflow를 고려한 이론적 모델을 적용하여 해석하였다. 그리고 이 모델을 적용하여 $180^{\circ}$ 쌍안정 TN 액정셀이 쌍안정 특성을 갖기 위해서는 두 유리기판을 서로 반대 방향으로 러빙해야 하고 d/p도 중요한 요소임을 확인하였다.

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Negative metal on ion beam 증착방법을 이용한 TFT-LCD용 저온 poly-Si 박막 성장

  • 전철호;김현숙;권오진;박종윤
    • 한국진공학회:학술대회논문집
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    • 한국진공학회 1999년도 제17회 학술발표회 논문개요집
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    • pp.70-70
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    • 1999
  • 현재 TFT-LCD에서 주류를 이루고 있는 a-Si 으로는 SXGA급 이상의 LCD를 구현하는 데 그 자체 이동도(0.4~1.0cm2/Vs)의 한계 때문에 poly-Si(100~300cm2/Vs)을 사용하지 않을 수 없다. Poly-Si을 성장시키는 방법으로는 PECVD 방법, SPC 방법, Laser Annealing 방법등이 있으나 아직 이 모든 방법으로는 성장박막의 질, 즉 이동도, 균일성 등이 만족스럽지 못하다. 그 중에서 Laser Annealing 방법으로 저온에서 가장 좋은 막질을 얻고 있으나 균일성 및 생산성 향상면에서 여려움이 제기되고 있다. 따라서 차세대 TFT-LCD의 핵심소재인 poly-Si을 저온에서 유리기판위에 양질의 박막으로 성장시킬 수 있는 박막성장법이 절실하다. 본 연구에서 사용된 실리콘 이온 증착법은 Sidl 이온 상태로 직접 증착되므로 이온 에너지가 직접 결합에 기여하게 되고 동시에 이온 에너지는 전기적으로 제어되므로 박막 형성에 필요한 정정 에너지를 공급할 수 있다. 따라서 종래의 열에너지만을 이용한 방법보다 훨씬 낮은 온도에서 박막을 성장시킬 수 있었다. 3kV의 Cs+에 의해 sputter 된 Si beam- 에너지를 20~100eV, Si- flux를 약 4$\mu$A.cm2로 조절하며, 기판온도 300~45$0^{\circ}C$에서 각각 제조하였다. 30$0^{\circ}C$, 20~50eV에서 poly-Si임을 XRD 분석으로 확인 할 수 있었다.

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