• Title/Summary/Keyword: Kim Ji-jang

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QAP for IEC 61850 conformance testing (IEC 61850 적합성 검사를 위한 품질 보증 프로그램)

  • Kim, Sang-Sig;Jang, Hyuk-Soo;Kim, Yong-Won;Song, Un-Sig;Jung, Kil-Cho;Jang, Byung-Tae;Yang, Hyo-Sik
    • Proceedings of the KIEE Conference
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    • 2006.07a
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    • pp.56-57
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    • 2006
  • IEC61850은 변전소 자동화 시스템에 관한 국제 표준이다. IEC61850-10에서는 시스템을 구성하고 있는 각 기기들이 IEC61850 국제표준을 준수하고 기기들간의 상호운영성을 입증하기 위해 적합성 검사를 정의한다. 하지만 IEC61850-10에서 기술된 내용은 무엇을 검사할 것인지에 대해 추상적 방식으로 서술하고 있고 어떻게 검사하는지에 대해 구체적 방법의 제시는 부족하다. 이에 대해 UCA IUG(International Users Group)는 품질 보증 프로그램(QAP)을 운영한다. QAP는 IEC61850에 따른 검사절차에 대해 명시할 뿐만 아니라 그룹에 참여한 모든 사람들에게 이득을 가져다준다. 본 논문에서는 이러한 QAP에 대해 소개한다.

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그래핀 소자 기술

  • Lee, Byeong-Hun;Hwang, Hyeon-Jun;Jang, Gyeong-Eun;Kim, Yun-Ji;Kim, So-Yeong;Yu, Won-Beom
    • The Magazine of the IEIE
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    • v.42 no.7
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    • pp.76-87
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    • 2015