• 제목/요약/키워드: H-R diagram

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LUMINOSITY AND MASS FUNCTIONS FOR HALO STARS. I. PROPERTIES OF HALO STARS

  • Lee, Sang-Gak
    • 천문학논총
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    • 제12권1호
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    • pp.197-212
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    • 1997
  • The general photometric, spectroscopic, and kinematic properties of the late type halo stars are investigated from a sample of known true halo stars. Halo stars are distributed in a lower left region of infrared (J-H) vs (H-K) color-color diagram, which is recomfirmed to be useful for selection of halo stars. They move with average velocity components of 9 km/sec, -14 km/sec, and 5 km/sec in U, V, and W directions respectively. They are distributed seperately from disk stars in a diagram of metallicity index, CaH1/TiO5 vs (R-I).

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Near-infrared photometric properties of red-supergiant stars in nearby galaxies : NGC 4214, NGC 4736, and NGC 5194 / NGC 5195

  • Jung, DooSeok;Chun, San-Hyun;Choudhury, Samyaday;Sohn, Young-Jong
    • 천문학회보
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    • 제41권2호
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    • pp.62.1-62.1
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    • 2016
  • We study the near-infrared photometric properties of red-supergiant stars (RSGs) in three nearby galaxies located within 15 Mpc: NGC 4214, NGC 4736 and NGC 5194 / NGC 5195. The near-infrared (JHK) imaging data were obtained using the WFCAM detector mounted on UKIRT telescope in Hawaii. We used the DAOPHOT/ALLSTAR pacakge to carry out the photometry. We applied MARCS synthetic fluxes to estimate the effective temperatures and luminosities of the RSGs in all the three galaxies. The results were plotted in the Hertzsprung-Russell(H-R) diagram along with the theoretical evolutionary tracks with different masses. We explore the spatial correlation between the RSGs and H II regions by examing the H-R diagram of the RSGs in the dominant H II regions for each of these three galaxies.

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고분자 감웅성 LB막을 이용한 One-channel 가스센서의 개발연구 (A Study on Development of One-channel Gas Sensor Using Polymeric Sensitive LB Films)

  • 강현욱;김정명;권영수
    • 대한전기학회:학술대회논문집
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    • 대한전기학회 1996년도 추계학술대회 논문집 학회본부
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    • pp.261-263
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    • 1996
  • The study on the development of one-channel gas sensor using the quartz crystal analyzer were attempted. The adsorption and desorption behavior of organic gases were investigated using the resonant frequency and resistance method of quartz crystal. The sensitive materials were deposited on the quartz crystal analyzer(QCA) by using Langmuir-Blodgett method. To investigate the response characteristics of organic vapours and response mechanism, resonant frequency-resonant resistance (F-R) diagram was used. In our experimental results, the response mechanism between sensitive LB film and organic vapours was obtained using F-R diagram. And the position of each organic vapour were different as to the kind and injection amount. Thus F-R diagram can be applied to one-channel gas sensor using the QCA and useful to analyze the response mechanism between organic vspours and sensitive LB films.

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근접촉쌍성(NCBs)의 일반적 특성 (GENERAL PROPERTIES OF NEAR-CONTACT BINARIES)

  • 오규동;김호일;강영운;이우백
    • Journal of Astronomy and Space Sciences
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    • 제17권2호
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    • pp.151-162
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    • 2000
  • 근접촉쌍성을 분광형에 따라 A형과 F형으로 분류하여 각각의 물리적 특성과 진화를 조사하였다. 그 결과, 근접촉쌍성이 TRO 이론에 따른 진화 경로를 겪는다고 가정하면, F형이 A형에 비하여 더 접촉에 가까운 즉, W UMa형에 근접한 상태에 있을 가능성이 있음을 알 수 있었다. NCBs의 질량-반경 관계, 질량-광도 관계 및 H-R도를 조사하였는데 그 결과 A형이 F형에 비하여 질량교환이 활발할 것으로 생각된다. 근접촉쌍성은 ZAMS와 평행하게 나타나며 접촉쌍성의 진화 위치와 거의 일치하고 있다.

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미세균열의 길이 분포를 이용한 결의 평가 (Evaluation for Rock Cleavage Using Distribution of Microcrack Lengths)

  • 박덕원
    • 암석학회지
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    • 제24권3호
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    • pp.165-180
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    • 2015
  • 거창지역의 쥬라기 화강암에 대하여 결의 특성에 대한 분석을 실시하였다. 미세균열의 분포상은 박편의 확대사진(${\times}6.7$)에서 잘 확인되었다. 본 연구에서는 미세균열의 분포 특성을 표현하기 위하여 길이-누적 빈도 도표를 사용하였다. 여섯 방향의 도표를 밀도(${\rho}$)의 강도 순으로 배열하였다. 관계도에서 이들 도표들은 H2 < H1 < G2 < G1 < R2 < R1의 순서로 나타난다. 여섯 도표들 중에서, 하드웨이 2(H2)의 도표가 좌측의 최하위 영역을 차지한다. 반면에, 리프트 1(R1)의 도표가 우측의 최상위 영역을 차지한다. 두 도표의 곡선 형태는 밀도의 증가에 따라 균등분포에서 지수함수의 분포형으로 변화한다. 도표들의 전반적인 분포 특성은 지수 직선과 관련이 있는 지수(${\lambda}$)의 크기 및 선 oa의 길이에서 잘 확인되었다. 기울기(${\theta}$)의 값을 지배하는 지수의 크기는 수(N), 길이(L) 및 밀도와 같은 모수의 값과 반비례를 한다. 반면에, 선 oa의 길이는 위의 3개 모수의 값과 정비례를 한다. 도표의 배열 순과 관련이 있는 상기 미세균열의 모수들은 3번 결(H1 + H2) < 2번 결(G1 + G2) < 1번 결(R1 + R2)의 순서로 나타난다. 여섯 도표 사이에서는 점진적인 변화를 하는 분포 특성을 볼 수 있다. 도표의 배열 순은 결의 상대적인 강도를 지시한다. 한편 기울기, 지수, 밀도 및 선 oa의 길이와 같은 모수들을 H2 < H1 < G2 < G1 < R2 < R1의 순으로 배열하였다. 관계도에서는 부드러운 이차함수의 변화 곡선을 볼 수 있다. 밀도 그리고 상기한 모수들 사이의 상관도로부터, 멱법칙 함수를 따르는 공통적인 규칙성을 도출하였다. 마지막으로, 결에 대한 분석은 도표 그리고 미세균열의 모수 사이의 결합을 통하여 수행되었다. 이러한 유형의 결합은 결의 평가에 있어서 진보성에 기여한다.

마찰교반용접(FSW) 된 알루미늄 합금(AA6111-T4, AA5083-H18) 및 DP강 판재의 인장 실험시 파단 현상 해석 (Analysis of Failure Phenomena in Uni-axial Tension Tests of Friction Stir Welded AA6111-T4, AA5083-H18 and DP-Steel)

  • 박상준;엄기문;마닝;안강환;정경환;;;;정관수
    • 한국소성가공학회:학술대회논문집
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    • 한국소성가공학회 2007년도 춘계학술대회 논문집
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    • pp.258-261
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    • 2007
  • Failure phenomena in uni-axial tension test were experimentally and numerically investigated for AA6111-T4, AA5083-H18 and DP-Steel, which were friction-stir welded with the same and different thicknesses. Forming limit diagram(FLD) was measured using hemispherical dome stretching tests for base materials and also predicted by Hill's bifurcation and M-K theories for welded areas. Finite element simulations well predicted hardening behaviors, failure locations as well as failure patterns for the uni-axial tension tests especially utilizing very fine meshes and FLD along with stress softening.

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마찰교반용접(FSW) 된 알루미늄 합금(AA6111-T4, AA5083-H18) 및 DP강 판재의 인장 실험시 파단 현상 해석 (Analysis of Failure Phenomena in Uni-axial Tension Tests of Friction Stir Welded AA6111-T4, AA5083-H18 and DP-Steel)

  • 박상준;엄기문;마닝;안강환;정경환;;;;정관수
    • 소성∙가공
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    • 제16권4호
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    • pp.304-308
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    • 2007
  • Failure phenomena in uni-axial tension test were experimentally and numerically investigated for AA6111-T4, AA5083-H18 and DP-Steel, which were friction-stir welded with the same and different thicknesses. Forming limit diagram(FLD) was measured using hemispherical dome stretching tests for base materials and also predicted by Hill's bifurcation and M-K theories for welded areas. Finite element simulations well predicted hardening behaviors, failure locations as well as failure patterns for the uni-axial tension tests especially utilizing very fine meshes and FLD along with stress softening.

세정액에 따른 실리콘 웨이퍼의 Cu 및 Fe 불순물 제거 (Removal of Cu and Fe Impurities on Silicon Wafers from Cleaning Solutions)

  • 김인정;배소익
    • 한국재료학회지
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    • 제16권2호
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    • pp.80-84
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    • 2006
  • The removal efficiency of Cu and Fe contaminants on the silicon wafer surface was examined to investigate the effect of cleaning solutions on the behavior of metallic impurities. Silicon wafers were intentionally contaminated with Cu and Fe solutions by spin coating and cleaned in different types of cleaning solutions based on $NH_4OH/H_2O_2/H_2O\;(SC1),\;H_2O_2/HCl/H_2O$ (SC2), and/or HCl/$H_2O$ (m-SC2) mixtures. The concentration of metallic contaminants on the silicon wafer surface before and after cleaning was analyzed by vapor phase decomposition/inductively coupled plasma-mass spectrometry (VPD/ICP-MS). Cu ions were effectively removed both in alkali (SC1) and in acid (SC2) based solutions. When $H_2O_2$ was not added to SC2 solution like m-SC2, the removal efficiency of Cu impurities was decreased drastically. The efficiency of Cu ions in SC1 was not changed by increasing cleaning temperature. Fe ions were soluble only in acid solution like SC2 or m-SC2 solution. The removal efficiencies of Fe ions in acid solutions were enhanced by increasing cleaning temperature. It is found that the behavior of metallic contaminants as Cu and Fe from silicon surfaces in cleaning solutions could be explained in terms of Pourbaix diagram.