The PDP(Plasma Display Panel) barrier rib was fabricated by focused $Ar^+$ laser ($\lambda$=514nm) and Nd:YAG($\lambda$=532, 266 nm) laser irradiation. The depth of the etched groove increases with increasing a laser fluence. and decreasing a scan speed. Using the second harmonic of the Nd:YAG laser, the threshold laser fluence was $6.5mJ/cm^2$ for the sample of PDP barrier rib dried at $120^{\circ}C$. The thickness of $150{\mu}m$ of the sample on the glass was etched without any damage on the glass substrate by fluence of $19.5J/cm^2$. The barrier rib sample on hot plate was etched by Nd:YAG laser(532 nm) as increasing a temperature of the sample. In this case, the etch rate was $95{\mu}m/s$, $190{\mu}m/s$ at room temperature, $175^{\circ}C$ respectively.
Proceedings of the Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers Conference
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2000.04a
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pp.129-132
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2000
The PDP(Plasma Display Panel) barrier rib material on the glass substrate was patterned for fabrication of the PDP cell using Nd:YAG laser(1064 nm) which can generate the second(532 nm) and forth(266 nm) harmonic wave by HGM(harmonic generation modules). At a scan speed of 20 ${\mu}m/s$ with the second harmonic wave(532 nm) of Nd:YAG laser, the etching threshold laser fluence of the PDP material was 6.5 $mJ/cm^2$ and a sample(thickness = 180 ${\mu}m$) on the glass substrate was removed clearly at a laser fluence of 19.5 $mJ/cm^2$. In order to increase the throughput of the fabrication we divided a single-beam into multi-beams by using a metal mask between the sample and the focusing lens. As a result, 10 lines of PDP cell were formed by one laser beam scanning at a scan speed of 200 ${\mu}m/s$ and a laser fluence of 2.86 $J/cm^2$.
The ablation dynamics and cluster formation of $C_n^+$ ions ejected from 355 nm laser ablation of a graphite target in vacuum are investigated using a reflectron time-of-flight (RTOF) mass spectrometer. At low laser fluence, odd-numbered cluster ions with $3{\leq}n{\leq}15$ are predominantly produced. Increasing the laser fluence shifts the maximum size distribution towards small cluster ions, implying the fragmentation of larger clusters within the hot plume. The temporal evolution of $C_n^+$ ions was measured by varying the delay time of the ion extraction pulse with respect to the laser irradiation, providing significant information on the characteristics of the ablated plume. Above a laser fluence of $0.2J/cm^2$ , large cluster ions ($n{\geq}30$) are produced at relatively long delay times, indicating that atoms or small carbon clusters aggregate during plume propagation. The dependence of the intensity of ablated $C_n^+$ ions on delay time after laser irradiation shows that the most probable velocity of each cluster ion decreases with cluster size.
Kim, Jeong-Yong;Lee, Jong-Ho;Jeong, Dong-Soo;Jeon, Chung-Hwan;Chang, Young-June
Proceedings of the KSME Conference
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2004.11a
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pp.1152-1157
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2004
Temporal behavior of the laser induced incandescence (LII) signal is often used for soot particle sizing, which is possible because the cooling behavior of a laser heated particle is dependent on the particle size. In present study, LII signals of soot particles are modeled using two non-linear coupled differential equations deduced from the energy- and mass-balance of the process. The objective of this study is to see the effects of particle size, laser fluence on soot temperature characteristics and cooling behavior. Together with this, we focus on validating our simulation code by comparing with other previous results. Results of normalized LII signals obtained from various laser fluence conditions showed a good agreement with that of Dalzell and Sarofim's. It could be found that small particles cool faster at a constant laser fluence. And it also could be observed that vaporization is dominant process of heat loss during first 100ns after laser pulse, then heat conduction played most important role while thermal radiation had little influence all the time.
Proceedings of the Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers Conference
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2000.07a
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pp.340-343
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2000
ITO(Indium Tin Oxide) films for transparent electrodes of FPD(Flat Panel Display) were patterned in atmosphere using laser. A pulse type(repetition rate of 10 Hz) Q-switched Nd:YAG laser which can generate the fundamental wavelength at 1064 nm or its harmonics(532, 266 nm) was used for Patterning of the ITO film. In case of using the second harmonic(532 nm) of Nd:YAG laser, the ITO film(thickness of 20 nm) was removed clearly with a laser fluence of 5.2 J/$\textrm{cm}^2$ and a beam scan speed of 200${\mu}{\textrm}{m}$/s. But the glass substrate was damaged when the laser fluence was over 5.2 J/$\textrm{cm}^2$. We discussed the etching mechanism of the ITO film using Nd:YAG laser with observation of the etching characteristics including a depths and widths of ITO films as a function of laser fluence using SEM(Scanning Electron Microscopy) and surface profiler($\alpha$-step 500).
Kim, Soo-Jung;Hwang, In-Tae;Jung, Jin-Mook;Jung, Chan-Hee
Journal of Radiation Industry
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v.7
no.2_3
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pp.149-154
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2013
In this study, the simple preparation of poly(sodium 4-styrenesulfonate) (PSS)-patterned substrate via a selective ion irradiation was investigated to manipulate cell adhesion. PSS thin films spin-coated onto the hydrophobic polystyrene (PS) was patterned through masked 150 keV proton irradiation followed by developing with deionized water. The characteristics of the resulting PSS-patterned surfaces were investigated by using microscope, surface profiler, FT-IR, XPS, and contact angle analyzer. These analytical results revealed that the resolved $100{\mu}m$ PSS patterns were formed on the hydrophobic PS surface above the fluence of $1{\times}10^{15}ions\;cm^{-2}$ and the chemical structure, composition, and wettability of the PSS patterns were dependant on a fluence. Moreover, the results of the in-vitro cell culture and proliferation assay exhibited that H1299 cells preferentially adhered and proliferated onto the more hydrophilic PSS part of the PSS-patterned PS and the well-aligned cell patterns was formed on the PSS-patterned PS particularly at the fluence of $1{\times}10^{15}ions\;cm^{-2}$.
Junesic Park;Byung-Gun Park;Hani Baek;Gwang-Min Sun
Nuclear Engineering and Technology
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v.55
no.1
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pp.201-208
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2023
The dependence of the electrical characteristics on the fast neutron fluence of an epitaxial 4H-SiC Schottky barrier diode (SBD) was investigated. The 30 MeV cyclotron was used for fast neutron irradiation. The neutron fluences evaluated through Monte Carlo simulation were in the 2.7 × 1011 to 1.45 × 1013 neutrons/cm2 range. Current-voltage and capacitance-voltage measurements were performed to characterize the samples by extracting the parameters of the irradiated SBDs. Neutron-induced defects in the epitaxial layer were identified and quantified using a deep-level transient spectroscopy measurement system developed at the Korea Atomic Energy Research Institute. As the neutron fluence increased from 2.7 × 1011 to 1.45 × 1013 neutrons/cm2, the concentration of the Z1/2 defects increased by approximately 20 times. The maximum defect concentration was estimated as 1.5 × 1014 cm-3 at a neutron fluence of 1.45 × 1013 neutrons/cm2.
The purpose of this study is to evaluate the photon characteristics according to the material and thickness of the electrons incidented through a linear accelerator. The computer simulation design is a linear accelerator target consisting of a 2 mm thick tungsten single material and a 1.8 mm and 2.3 mm thick tungsten and copper composite material. In the research method, First, the behavior of primary particles in the target was evaluated by electron fluence and electron energy deposition. Second, photons occurring within the target were evaluated by photon fluence. Finally, the photon angle-energy distribution at a distance of 1 m from the target was evaluated by photon fluence. As a result, first, electrons, which are primary particles, were not released out of the target for electron fluence and energy deposition in the target of a single material and a composite material. Then, electrons were linearly attenuated negatively according to the target thickness. Second, it was found that the composite material target had a higher photon generation than the single material target. This confirmed that the material composition and thickness influences photon production. Finally, photon fluence according to the angular distribution required for shielding analysis was calculated. These results confirmed that the photon generation rate differed depending on the material and thickness of the linear accelerator target. Therefore, this study is necessary for designing and operating a linear accelerator use facility for container security screening that is being introduced in the country. In addition, it is thought that it can be used as basic data for radiation protection.
Park, Ji-Koon;Heo, Ye-Ji;Kim, Kyo-Tae;Noh, Si-Cheol;Kang, Sang-Sik
Journal of the Korean Society of Radiology
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v.10
no.1
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pp.1-6
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2016
Recently, the various digital X-ray imaging devices using CCD and TFT LCD-based flat panel digital X-ray sensor are being used. In particular, a number of studies on photon counting sensor technique have been reported. In this study, the incident X-rays fluence on the photon counting sensor material was measured to estimate photon detection efficiency which is the quantitative performance evaluation factor of photon counting sensor. The result of measuring the photon fluence by using RQA-M2 Radiation beam quality of IEC 61223-1-2 recommendations, the incident photon fluence could be defined as about $4 photons/(0.01mm)^2{\cdot}{\mu}Gy$ within $10{\mu}m$ pin-hole area, and about $50photons/(0.03mm)^2{\cdot}{\mu}Gy$ within $30{\mu}m$ pin-hole area, and about $698photons/(0.1mm)^2{\cdot}{\mu}Gy$ within $100{\mu}m$ pin-hole area. Consequently, with the previously setup of the incident fluence, the measuring of actual photon counting efficiency by observing the output waveform of the photon counting sensor material was considered possible.
Proceedings of the Computational Structural Engineering Institute Conference
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2004.04a
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pp.309-316
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2004
A probabilistic structural integrity assessment is performed for a reactor pressure vessel under PTS(Pressurized Thermal Shock). A semi-elliptical finite axial crack is assumed to he in the beltline region(either base metal or weld meta)1 of the reactor vessel inside surface. The selected random variables are initial crack depth, neutron fluence on the vessel inside surface, copper, nickel, and phosphorus content of the vessel material, and RT/sub NDT/. The probabilities of crack initiation or vessel failure where the crack is propagated through vessel wall are calculated. The probabilities obtained with random crack size are compared to these obtained with deterministic us. Since the failure function cannot to explicitly by selected by selected random variables, Monte Carlo Simulation is applied to perform probabilistic analysis The influence of the amount of neutron fluence is also examined to assess the structural reliability for vessel life time.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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