The rapid development in digital acquisition technology in radiography has not been accompanied by information regarding optimum radiolographic technique for use with an amorphus silicon flat panel detector. The purpose of our study was to compared imaging characteristics and image quality of an amorphus silicon flat panel detectors for digital chest radiography. All examinations were performed by using an amorphus silicon flat panel detector. Chest radiographs of an chest phantom were obtained with peak kilovoltage values of 60$\sim$150 kVp. Published data ell the effect of x-ray beam energy on imaging characteristics and image qualify when using an amorphus silicon flat panel detector. It is important that radiographers are aware of optimum kVp selection for an amorphus silicon flat panel detector system, particularly for the commonly performed chest examination.
The detector for digital radiography testing, which is currently mainly used, consists of a detector with a flat structure, making it impossible to fully adhere to the digital radiography testing of the test object with curvature. In this study, a curved panel detector capable of adhering to curvature was fabricated to improve the quality of the digital image during the digital radiography testing of piping welds at industrial sites, and digital radiography images using flat and curved panel detectors were obtained for 6in pipes with different nominal thickness. As a result of the experiment, it was confirmed that the flat panel detector does not fully adhere to the pipe, resulting in a gap between the outer part of the pipe and the detector, resulting in a difference in the unsharpness and diffusion of the digital image. On the other hand, it was confirmed that the curved panel detector minimizes the gap between the pipe outer part and the detector, so that digital image diffusion is less than that of the flat panel detector. The higher the confidence of the image, the lower the quality and error in reading, so it is believed that higher quality images can be obtained than conventional flat panel detectors when using detectors that can be closely attached to the inspection object.
The rapid development in digital acquisition technology in radiography has not been accompanied by information regarding optimum radiolographic technique for use with an amorphus silicon flat panel detector. The purpose of our study was to compared image quality and radiation dose of an amorphus silicon flat panel detectors for digital chest radiography. All examinations were performed by using an amorphus silicon flat panel detector. Chest radiographs of an chest phantom were obtained with peak kilovoltage values of $60{\sim}150kVp$. Published data on the effect of x-ray beam energy on image quality and patient dose when using an amorphus silicon flat panel detector. It is important that radiographers are aware of optimum kVp selection for an amorphus silicon flat panel detector system, particularly for the commonly performed chest examination.
Proceedings of the Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers Conference
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2003.11a
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pp.388-391
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2003
The properties of these detectors can be controlled by electronics and exposure conditions. Flat-panel detectors for digital diagnostic imaging convert incident x-ray images to charge images. Flat panel detectors gain more interest real time medical x-ray imaging. Active area of flat panel detector is $14{\times}17$ inch. Detector is based on a $2560{\times}3072$ away of photoconductor and TFT pixels. X-ray conversion layer is deposited upper TFT array flat panel with a 500m by thermal deposition technology. Thickness uniformity of this layer is made of thickness control technology(5%) of thermal deposition system. Each $139m{\times}139m$ pixel is made of thin film transistor technology, a storage capacitor and charge collection electrode having geometrical fill factor of 86%. Using the separate driving system of two dimensional mosaic modules for large area, that is able to 4.2 second per frame. Imaging performance is suited for digital radiography imaging substitute by conventional radiography film system..
The most troublesome artifacts in micro computed tomography (micro-CT) are ring artifacts. The ring artifacts are caused by non-uniform sensitivity and defective pixels of the x-ray detector. These ring artifacts seriously degrade the quality of CT images. In flat-panel detector based micro-CT systems, the ring artifacts are hardly removed by conventional correction methods of digital radiography, because very small difference of detector pixel signals may make severe ring artifacts. This paper presents a novel method to remove ring artifacts in flat-panel detector based micro-CT systems. First, the bad lines of a sinogram which are caused by defective pixels of the detector are identified, and then, they are corrected using a cubic spline interpolation technique. Finally, a ring artifacts free image is reconstructed from the corrected projections. We applied the method to various kinds of objects and found that the image qualities were much improved.
Kim, Ho-Kyung;Cunningham, Ian Alexander;Yin, Zhye;Cho, Gyu-Seong
International Journal of Precision Engineering and Manufacturing
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v.9
no.4
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pp.86-100
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2008
This article reviews the development of flat-panel detectors for digital radiography based on amorphous materials, Important design parameters and developments are described for the two main components of flat-panel detectors: the X-ray converter and the readout pixel array. This article also introduces the advanced development concepts of new detectors. In addition, the cascaded linear systems method is reviewed because it is a very powerful tool for improving the design and assessment of X-ray imaging detector systems.
Proceedings of the Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers Conference
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2002.07b
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pp.817-820
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2002
Amorphous selenium based flat panel detectors convert incident x-ray to electric signal directly. Flat panel detectors gain more interest real time medical x-ray imaging. TFT array and electric readout circuits are used in this paper offered by LG.Philips.LCD. Detector is based on a $1536{\times}1280$ array of a-Si TFT pixels. X-ray conversion layer(a-Se) is deposited upper TFT array with a $400{\mu}m$ by thermal deposition technology. Thickness uniformity of this layer is made of thickness control system technology$({\leq}5%)$. Each $139{\mu}m{\times}139{\mu}m$ pixel is made of thin film transistor technology, a storage capacitor and collecting electrode having geometrical fill factor of 86%. This system show dynamic performance. Imaging performance is suited for digital radiography imaging substitute by conventional radiography film system.
The purpose of this work was to evaluate an amorphous silicon cesium iodide based indirect flat-panel detector (FPD) in terms of their modulation transfer function (MTF), Wiener spectrum (WS, or noise power spectrum, NPS), and detective quantum efficiency (DQE). Measurements were made on flat-panel detector using the International Electrotechnical Commission (IEC) defined RQA3, RQA5, RQA7, and RQA9 radiographic technique. The MTFs of the systems were measured using an edge method. The WS(NPS) of the systems were determined for a range of exposure levels by two-dimensional (2D). Fourier analysis of uniformly exposed radiographs. The DQEs were assessed from the measured MTF, WS(NPS), exposure, and estimated ideal signal-to-noise ratios. Characteristic curve in the RQA3 showed difference in the characteristic curve from RQA5, RQA7, RQA9. MTFs were not differences according to x-ray beam quality. WS(NPS) was reduced with increasing dose, and RQA 3, RQA5, RQA7, RQA9 as the order is reduced. DQE represented the best in the 1mR, RQA 3, RQA5, RQA7, RQA9 decrease in the order. The physical imaging characteristics of FPD may also differ from input beam quality. This study gives an initial motivation that the physical imaging characteristics of FPD is an important issue for the right use of digital radiography system.
The purpose of this study is to compare the quality of digital radiography image with that of classical film images for welded structure in power plants. The CMOS(Complementary Metal Oxide Semiconductor) flat panel detecter and Agfa D5 film are used to image flaw specimens respectively. In the test, CMOS flat panel detector has been determined to have a better image than that of film image. In the IQI(Image Quality Indicator) transmission test, one or two more line can be seen in digital image than in film image. Digital Radiography Test enabled to successfully detect all defects on the weld specimens fabricated with real reheat stem pipe and boiler tube as well. In the specific comparison test, Digital radiography test detected micro flaws in the size of 0.5 mm in length by 0.5 mm in depth. However, film test has limited it to 1.0 mm in length by 1.0 mm in depth. As a result of this study, digital radiography technology is estimated well enough to perform the inspection in the industry with far more cost effective way, compared to the classical film test.
Park, J.K.;Kang, S.S.;Suk, D.W.;Lee, H.W.;Nam, S.H.
Proceedings of the Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers Conference
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2002.07b
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pp.849-852
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2002
Recently, amorphous selenium is used as x-ray conversion material for flat-panel x-ray detector. In this paper, we investigated the effect of breakdown under high voltage and leakage current in PN-type multi-layer structure based on p-type a-Se and n-type conductive thin film. Experimental results show that the multi-layer based detector reduced leakage current because n-type CeO2 conductive layer prevent from hole injection into a-Se layer from collection electrode, Also, the breakdown voltage was improved by dielectric layer between a-Se and top electrode.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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