• 대한전자공학회:학술대회논문집
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• 대한전자공학회 2001년도 하계종합학술대회 논문집(2)
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• pp.125-128
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• 2001

In this paper, we propose a low power Scan-based Built-ln Self Test based on circuit partitioning and pattern suppression using modified test control unit. To partition a CUT(Circuit Under Testing), the MHPA(Multilevel Hypergraph Partition Algorithm) is used. As a result of circuit partition, we can reduce the total length of test pattern, so that power consumptions are decreased in test mode. Also, proposed Scan-based BIST architecture suppresses a redundant test pattern by inserting an additional decoder in BIST control unit. A decoder detects test pattern with high fault coverage, and applies it to partitioned circuits. Experimental result on the ISCAS benchmark circuits shows the efficiency of proposed low power BIST architecture.

• 전자공학회논문지C
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• 제35C권8호
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• pp.10-22
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• 1998

To handle the density increase of SRAMs, a new parallel testing methodology based on built-in self test (BIST) is developed, which allows to access multiple cells simultaneously. The main idea is that a march algorithm is dperformed concurently in each baisc marching block hwich makes up whole memory cell array. The new parallel access method is very efficient in speed and reuqires a very thny hardware overhead for BIST circuitry. Results show that the fault coverage of the applied march algorithm can be achieved with a lower complexity order. This new paralle testing algorithm tests an .root.n *.root.n SRAM which consists of .root.k * .root.k basic marching blocks in O(5*.root.k*(.root.k+.root.k)) test sequence.

• 한국정보과학회:학술대회논문집
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• 한국정보과학회 2000년도 가을 학술발표논문집 Vol.27 No.2 (3)
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• pp.30-32
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• 2000

본 논문에서는 RTL 회로의 데이터패스에 대한 테스트 용이도 분석방식과 테스트 용이화 설계방식을 제안한다. 데이터패스에 대한 테스트 용이도 분석은 콘트롤러에 대한 정보없이 RTL 회로의 데이터패스만으로 수행한다. 본 논문에서 제안한 테스팅을 고려한 설계방식은 내장된 자체 테스트(BIST)나 주사(scan)방식이 아니며, 주사 방식을 적용했을 때에 비해 본 논문에서 제안한 테스트 용이화 설계방식을 적용했을 때에 보다 적은 면적 증가율(area overhead)을 보인다는 것을 실험을 통해 확인하였다. 또한, 회로 합성 후 ATPG를 통해 적은 면적 증가만으로 높은 고장 검출율(fault coverage)을 얻을 수 있음을 보인다.

• 대한전자공학회:학술대회논문집
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• 대한전자공학회 2002년도 ITC-CSCC -3
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• pp.1968-1971
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• 2002

In this paper, we have presented a test- ing method for a kind of asynchronous circuits. Tar- get circuit model is the 3D machine that is one of the most successful implementation of extended burst-mode (XBM) machines. We present a high-level test generation method for the 3D machine using the specification of the circuit. We also present a gate-level test pattern generation method using a synchronous test pattern generator. Experimental results show that the combination of the above two methods achieves high fault coverage over 3D machines and saves test generation time.

• 한국정보통신학회:학술대회논문집
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• 한국해양정보통신학회 2004년도 춘계종합학술대회
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• pp.651-654
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• 2004

본 연구에서는 HDL에서 블록 사이, 프로세스문장, 또는 일을 할당하는 순서를 조절하는 상위레벨 사건을 하위레벨 사건과 비교하여 정의하며, 상위레벨 사건은 자원충돌과 프로토콜 또는 사양의존 충돌로 구성된다는 것을 보여준다. 그리고 상위레벨 사건을 검출하기 위하여 2가지 검출방법이 제안된다.

• 전기학회논문지
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• 제60권4호
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• pp.796-800
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• 2011

As the increasing integrity of VLSI, the BIST(Built-In Self Test) is used as an effective method to test chips. Generally the pseudo-random test pattern generation is used for BIST. But it requires too many test patterns when there exist random resistant faults. Therefore we propose a mixed test scheme which applies to the circuit under test, a deterministic test sequence followed by a pseudo-random one. This scheme allows the maximum fault coverage detection to be achieved, furthermore the silicon area overhead of the mixed hardware generator can be reduced.

• 대한전자공학회논문지SD
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• 제37권8호
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• pp.86-96
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• 2000

집적도 증가에 따라 비용이 증가하는 가장 대표적인 분야가 테스트 분야이며, 하드웨어 비용의 상대적인 감소에 따라 BIST 방법이 미래지향적 테스트 방법으로 지목받고 있다. 이 방법이 가지는 가장 큰 단점은 만족할 만한 고장검출률을 얻기 위해 필요한 테스트 시간의 증가이다. 본 논문에서는 BIST의 실현에 있어서 테스트 시간을 감소시키는 방안을 제안하였다. 이 방법은 입력의 그룹화와 테스트 포인트 삽입 방법을 사용하며, 테스트 포인트는 기존에 사용하던 것과는 다름 새로운 정의에 의해 결ㅈ어된다. 제안한 방법의 주요 알고리듬을 C-언어로 구현되었으며, 여러 가지 대상회로를 통해 실험한 결과 의사-무작위 패턴을 사용하는 경우에 비해 최대 $10^7$ 정도의 테스트 시간 감소를 가져올 수 있었으며, 고장검출률 또한 기존의 BIT방법보다 큰 것으로 확인되었다. 제안한 방법의 대상회로에 대한 상대적인 하드웨어 오버헤드는 대상회로가 커질수록 감소하고 지연시간 증가는 대형회로의 지연시간에 비해 미미한 것이어서, 대형회로를 BIST 방법에 의해 테스트할 때 제안한 방법이 매우 효과적일 것으로 사료된다.

• 자동차안전학회지
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• 제11권2호
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• pp.6-10
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• 2019

This paper describes effectiveness of accident reduction on vehicles equipped with AEB using accident data occurring in Korea. During the statistical period, we used the number of vehicles which are covered by auto insurance and the number of accidents. To maximize the reduction effect of accidents caused by the driver's carelessness, the analysis was limited to Physical Damage Coverage that covers the cost of repairing or replacing the damaged vehicle caused by the driver's fault. Due to Personal Information Protection Law, it was not capable of comparing the same vehicle using Vehicle Identification Number in this study. Instead of that, we used it as a similar vehicle, so there are limits to the comparison and analysis results. As a result of this study, we have found that the effect of reducing accidents was different depending on the vehicle class, but it was generally concluded that the number of accidents decreased when the vehicle was equipped with an AEB system. Domestic research on the AEB effect of reducing accidents is not active yet. Therefore, it is absolutely essential to analyze the effects according to various conditions such as driver's age, occupation and gender as well as expanding the study models in the future.

• 한국인터넷방송통신학회논문지
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• 제14권4호
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• pp.219-225
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• 2014

본 논문에서는 디지털 논리회로의 스캔(scan) 방식에 기초한 효율적인 테스터블(testable) 스캔 셀(cell)을 제안하며 타이밍과 관련된 지연고장(delay fault)을 검출하기 위한 Mux-based 스캔 셀 설계와 테스트방식을 제안한다. 이로 인해 설계와 검증 시 소요되는 테스트 시간과 비용을 단축하고, LOC(Launch-off-Capture)와 LOS(Launch-off-Shift)방식의 지연고장 테스트 방안도 제안한다. 제안된 테스트방식은 스캔 입력에서 거리가 먼 마지막 스캔 셀까지의 전역 제어신호(global control signal)가 늦게 도달하는 문제점을 클럭(clock) 신호를 이용하여 동기화시킴으로써 보다 빠르게 구동시켜 고속의 테스트가 가능하다. 또한, 테스트 벡터 입력 시 대상회로의 논리 값 인가를 차단하여 테스트 벡터 입력동안의 스캔 전력소모를 효과적으로 줄이도록 한다. 스캔 셀 설계의 논리 동작과 타이밍 시뮬레이션을 통해 제안된 방식의 동작을 증명 한다.

• 전기학회논문지
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• 제61권10호
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• pp.1542-1547
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• 2012

Asynchronous phenomenon occurs on the synchronous generators under power system when a generator's amplitude of electromagnetic force, phase angle, frequency and waveform etc become different from those of other synchronous generators which can follow instantly varying speed of turbine. Because the amplitude of electromagnetic force, phase frequency and waveform differ from those of other generators with which are to be put into parallel operation due to the change of excitation condition for load sharing and the sharing load change, if reactive current in the internal circuit circulates among generators, the efficiency varies and the stator winding of generators are overheated by resistance loss. When calculation method of protection settings and logic for protection of generator asynchronization will be recommended, a distance relay scheme is commonly used for backup protection. This scheme, called a step distance protection, is comprised of 3 steps for graded zones having different operating time. As for the conventional step distance protection scheme, zone 2 can exceed the ordinary coverage excessively in case of a transformer protection relay especially. In this case, there can be overlapped protection area from a backup protection relay and, therefore, malfunctions can occur when any fault occurs in the overlapped protection area. Distance relays and overcurrent relays are used for backup protection generally, and both relays have normally this problem, the maloperation, caused by a fault in the overlapped protection area. Corresponding to an IEEE standard, this problem can be solved with the modification of the operating time. On the other hand, in Korea, zones are modified to cope with this problem in some specific conditions. These two methods may not be obvious to handle this problem correctly because these methods, modifying the common rules, can cause another coordination problem. To overcome asynchronizing protection, this paper describes an improved backup protection coordination scheme using a new logic that will be suggested.