• 제목/요약/키워드: Fauit collapsing

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CMOS VLSI를 위한 전류 테스팅 기반 고장모델의 효율적인 중첩 알고리즘 (An Efficient Collapsing Algorithm for Current-based Testing Models in CMOS VLSI)

  • 김대익;배성환
    • 한국통신학회논문지
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    • 제29권10A호
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    • pp.1205-1214
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    • 2004

  • CMOS 회로에서 발생하는 물리적인 결함에 대해서 전류 테스팅은 전압 테스팅으로 검출할 수 없는 많은 결함을 효율적으로 검출할 수 있는 기법이다. 테스트 회로에 존재하는 결함이나 장애의 영향을 기술하기 위해서 사용되는 고장모델은 실제적인 장애를 정확하게 모델링해야 한다. 본 논문에서는 전류 테스팅에 자주 이용되는 고장모델을 위한 효율적인 중첩 알고리즘을 제안한다. ISCAS 벤치마크 회로의 모의실험을 통하여 제안된 방식이 고려되는 고장의 수를 효과적으로 감소시킬 수 있고 다양한 전류 테스팅 방식의 고장모델에 더 적합함을 확인하였다.

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