본 연구에서는 천장 은폐장소에 공사 가능한 전기설비 중 배선공사에 사용되는 합성수지관(CD, VE) 및 금속관(ST)을 대상으로 연소실험 및 ISO 5660 실험, ISO 5659 실험을 실시하였으며, 측정 데이터를 바탕으로 화재 확산 및 피난 위험도를 분석하였다. ISO 5660 총열방출량 실험결과 CD관 120.5 MJ/㎡, VE관 81.9 MJ/㎡, ST관 4.9 MJ/㎡이 측정되었다. ISO 5659 연기밀도 실험결과 CD관 1320, VE관 731, ST관 102이 측정되었으며, 최대연기밀도가 측정된 시간은 CD관 605 s, VE관 740 s, ST관 1,200 s이다. 화재 확산 및 피난 위험도에서 CD관, VE관, ST관 순으로 나타났다. 화재 확산 위험도 분석 시 총열방출량은 CD관 4,820 MJ/㎡, VE관 4,267 MJ/㎡, ST관 196 MJ/㎡로 산출되었다. 피난 위험도 분석결과 투과율 89% 때의 시간은 CD관 127 s, VE관 35 s, ST관 969 s, 거의 앞이 보이지 않을 정도의 농도를 나타내는 투과율 79% 때의 시간은 CD관 157 s, VE관 50 s로 나타났다. CD관과 VE관은 화재 확산 및 피난 위험도 수치가 높았던 반면 ST관의 경우 화재 확산에 거의 영향이 없었고, 피난 위험도에서도 화재발생 인지 후 피난하는데 문제가 없는 것으로 나타났다.
As micro-system move toward higher speed and miniaturization, requirements for embedding the passive components into printed circuit boards (PCBs) grow consistently. They should be fabricated in smaller size with maintaining and even improving the overall performance. Miniaturization potential steps from the replacement of surface-mount components and the subsequent reduction of the required wiring-board real estate. Among the embedded passive components, capacitors are most widely studied because they are the major components in terms of size and number. Embedding of passive components such as capacitors into polymer-based PCB is becoming an important strategy for electronics miniaturization, device reliability, and manufacturing cost reduction Now days, the dielectric films deposited directly on the polymer substrate are also studied widely. The processing temperature below $200^{\circ}C$ is required for polymer substrates. For a low temperature deposition, bismuth-based pyrochlore materials are known as promising candidate for capacitor $B_2Mg_{2/3}Nb_{4/3}O_7$ ($B_2MN$) multi layers were deposited on Pt/$TiO_2/SiO_2$/Si substrates by radio frequency magnetron sputtering system at room temperature. The physical and structural properties of them are investigated by SEM, AFM, TEM, XPS. The dielectric properties of MIM structured capacitors were evaluated by impedance analyzer (Agilent HP4194A). The leakage current characteristics of MIM structured capacitor were measured by semiconductor parameter analysis (Agilent HP4145B). 200 nm-thick $B_2MN$ muti layer were deposited at room temperature had capacitance density about $1{\mu}F/cm^2$ at 100kHz, dissipation factor of < 1% and dielectric constant of > 100 at 100kHz.
The purpose of this study is to evaluate the safety of a wire connector fabricated for the effective installation of a lighting fixture including its contact resistance, insulation resistance, withstanding voltage characteristics, etc., and to provide the basis for the analysis and judgment of PL(Product Liability) dispute by presenting a damage pattern due to a general flame and overcurrent. This study applied the Korean Standard (KS) for the incombustibility test of the connector using a general flame and performed an overcurrent characteristics test of the connector using PCITS (Primary Current Injection Test System). The contact resistance of the housing connector was measured using a high resistance meter and the insulation resistance was measured using a multimeter. In addition, a supply voltage of AC 1,500V for testing the withstanding voltage characteristics was applied to both ends of the connector. Measurement was performed on 5 specimens and the measured values were used as a basis for judgment. Since the connector is fabricated in the form of a housing, it can be connected and separated easily and has a structure that allows no foreign material to enter. In addition, since it has a structure that allows wires to be connected only when their polarity is identical, any misconnection that may occur during installation can be prevented. When the incombustibility test was performed by applying a general flame to the connector, it showed outstanding incombustibility characteristics and the blade and blade holder connected to the housing remained firmly secured even after the insulation sheath (PVC) was completely destroyed by fire. In addition, the mechanism of the damaged connecting wire showed a comparatively uniform carbonization pattern and it was found that some residual melted insulation material was attached to both ends. In the accelerated life test (ALT) to which approximately 500% of the rated current was applied, the connector damage proceeded in the order of white smoke generation, wire separation, spark occurrence and carbonization. That is, it could be seen that the connector damaged by overcurrent lost its own metallic color with traces of discoloration and carbonization. The contact resistance of the connector at a normal state was 2.164mV/A on average. The contact resistance measured after the high temperature test was 3.258mV/A. In addition, the insulation resistance after the temperature test was completed was greater than $10G\Omega$ and the withstanding voltage test result showed that no insulation breakdown occurred to all specimens showing stable withstanding voltage and insulation resistance characteristics.
Objectives: Objective of this study is to review briefly exposure characteristics, monitoring instruments and threshold limit values for extremely low frequency-magnetic field (ELF-MF) methods. This study was undertaken through brief literature review. We performed a literature search in PubMed to identify ELF-MF studies conducted in workplaces. Initial search keywords such as 'extremely low frequency-magnetic field (ELF-MF)' and 'electromagnetic fields (EMF)' combined or singly. We limited our review to occupational rather than general nonworkplace environmental exposures. Methods: The contents we reviewed: key industry and occupations generating ELF-MF, several direct-reading instruments monitoring ELF-MF and threshold limit values (TLV) preventing health effects may be caused by the exposure to ELF-MF. Results: The industries related to the generation and supply of electricity, electrolytic installations, welding, and induction heating and more were regarded as high ELF-MF exposure industries. All jobs handling or employed performed in power cable lines, electrical wiring, and electrical equipment are found to be exposed to ELF-MF. Threshold or ceiling limit, 1,000 µT, is established to prevent acute effects of exposure to low-frequency EMFs on the nervous system: the direct stimulation of nerve and muscle tissues and the induction of retinal phosphenes. The International Agency for Research on Cancer (IARC) has classified ELF-MF as possibly carcinogenic to humans chiefly based on epidemiological studies on childhood leukemia. However, a causal relationship between magnetic fields and several types of cancer including childhood leukemia has not been established nor has any other long-term effects. Risk management using precautionary measures, has been initiated by the US and EU to prevent chronic health effects related to ELF-MF exposure in workplaces. Conclusion: This study recommends the implementation of various measures such as theestablishment of occupational exposure limit values for ELF-MF and precautionary principle to prevent potential chronic occupational health effects may be caused by ELF-MF in Korea.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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