• 제목/요약/키워드: Dill model

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포토레지스트의 Dill 및 Mack 모델 파라미터 측정에 관한 연구 (A Study on the Measurement of Dill and Mack Model Parameters of a Photoresist)

  • 박승태;권해혁;박종락
    • 한국광학회지
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    • 제33권6호
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    • pp.324-330
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    • 2022
  • 포토레지스트의 노광 및 현상 특성을 각각 결정하는 Dill 및 Mack 모델 파라미터들을 측정하였다. 먼저, 노광량을 변화시켜가며 포토레지스트 샘플을 준비하였고, 노광량에 따른 투과율 변화를 측정하였다. 이 결과를 바탕으로 Dill 모델의 A, B, C 파라미터를 결정하였는데, 특히 C 파라미터를 결정하기 위하여 Dill 모델 방정식의 완전해를 사용하였다. 또한, 노광량별로 현상 시간에 따른 포토레지스트의 두께 변화를 측정하였고, 이 결과를 사용하여 Mack 모델의 Rmin, Rmax, a, n 파라미터를 결정하였다. 모델 파라미터 Rmin, Rmax, n만을 사용하는 간략화된 Mack 모델에 대해서도 파라미터값들을 결정해 보았는데, 네 개의 파라미터를 사용하는 본래 Mack 모델의 경우와 비교했을 때 측정결과와의 오차가 다소 커짐을 알 수 있었다.