• 센서학회지
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• 제30권5호
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• pp.314-319
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• 2021

In this study, biomarkers were analyzed and segmented using tunable infrared gas sensors after performing the principal component analysis. The free spectral range of the device under test (DUT) was around 30 nm and DUT-5580 yielded the highest output voltage property among the others. The biomarkers (isoprophyl alcohol, ethanol, methanol, and acetone solutions) were sequentially mixed with deionized water and their mists were carried into the gas chamber using high-purity nitrogen gas. A total of 17 different mixed gases were tested with three tunable infrared gas sensors, namely DUT-3144, DUT-5580, and DUT-8010. DUT-8010 resolved the infrared absorption spectra of whole mixed gases. Based on the principal component analysis with each DUT and their combinations, each mixed gas and the trends in increasing gas concentration could be well analyzed when the contributions of the eigenvalues of the first and second were higher than 70% and 10%, respectively, and their sum was greater than 90%.

• 한국전자통신학회논문지
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• 제18권4호
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• pp.641-648
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• 2023

최근 4차 산업 혁명 중에서 인공지능의 급성장은 반도체의 성능 향상 및 회로의 집적을 기반으로 진보하였다. 전자기기 및 장비의 내부에서 연산을 돕는 트랜지스터는 고도화 및 소형화 되어 가며 발열의 제어 및 방열의 효율 개선이 새로운 성능의 지표로 대두되었다. DUT(Device Under Test) Shell은 트랜지스터의 검수를 위하여 정격 전류를 인가한 후, 임의의 발열 지점에서 전원을 차단한 상태에서, 방열을 통하여 트랜지스터의 내구도를 평가하여 불량 트랜지스터를 검출하는 장비이다. DUT Shell은 장비 내부의 방열 구조에 따라 동시에 더 많은 트랜지스터를 테스트할 수 있기 때문에 방열 효율은 불량 트랜지스터 검출 효율과 직접적인 관계를 갖는다. 이에 본 논문에서는 DUT Shell의 방열 최적화를 위하여 배치구조의 다양한 방법을 제안하고 전산유체역학을 이용하여 최적의 DUT Shell의 다양한 변형과 열 해석을 제안하였다.

• 한국전자파학회논문지
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• 제26권12호
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• pp.1072-1082
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• 2015

본 논문에서는 스펙트럼 분석기를 이용하여 잡음 파라미터를 측정하는 2가지 방법을 제안하였다. 제안된 첫 번째 방법은 6-포트 회로망을 이용하여 잡음상관행렬을 측정하고, 이를 통해 잡음파라미터를 결정하는 방법이다. 그리고 제안된 두 번째 방법은 전원 임피던스의 변화에 따른 DUT의 잡음지수를 직접 측정하고, 이를 통해 잡음파라미터를 추출하는 방법이다. 전원 임피던스의 변화에 따른 잡음지수를 측정을 위해 스펙트럼 분석기를 이용, 임의의 전원 임피던스를 갖는 DUT의 잡음지수를 측정하는 방법과 전원 임피던스의 변화를 위해 사용한 임피던스 튜너가 DUT에 주는 잡음영향을 제거하는 방법을 보였다. 제안된 2가지의 방법으로 수동 및 능동 DUT에 대한 잡음파라미터를 측정하였고, 이를 비교하였다. 비교 결과, 2가지 방법에 대한 잡음 파라미터 결과가 일치하였다. 2가지 방법의 잡음 파라미터 결과가 일치하는 것은 6-포트 회로망으로 측정된 잡음파라미터가 전원 임피던스의 변화에 따라 측정된 DUT의 잡음지수를 정확히 예측한다는 것을 의미하며, 이를 통해 6-포트 회로망으로 측정된 잡음 파라미터 결과가 검증되었다.

• 한국전자파학회논문지
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• 제30권2호
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• pp.111-123
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• 2019

본 논문에서는 온-웨이퍼형 DUT 측정을 위한 입력 터미네이션의 정의방법을 제안하였으며, 제안된 방법으로 새롭게 정의된 입력 터미네이션과 잡음전력비에 기초한 잡음상관행렬 측정방법을 이용, 온-웨이퍼형 DUT의 잡음상관행렬을 측정하였다. 그리고 온-웨이퍼 DUT를 측정하기 위해 웨이퍼 프로브와 바이어스-티가 포함된 잡음측정 구성을 보였다. 온-웨이퍼형 DUT 측정을 위한 입력 터미네이션을 정의하기 위해서는 바이어스-티와 프로브 그리고 open으로 종단된 선로가 결합된 어댑터의 S-파라미터가 필요하며, 이를 위해 1-포트 측정을 통해 어댑터의 2-포트 S-파라미터를 결정하는 방법을 보였다. 이 측정된 어댑터의 S-파라미터 이용, 온-웨이퍼형 DUT 측정을 위한 새로운 입력 터미네이션을 정의하는 방법을 보였다. 제안된 방법으로 1.5 dB의 잡음지수를 갖는 칩 소자의 잡음상관행렬을 측정하였고, 측정된 잡음상관행렬을 이용하여 칩 소자의 잡음 파라미터 결과를 얻었다. 칩 소자의 잡음 파라미터 결과는 칩 소자의 데이터시트에 있는 잡음 파라미터 결과와 유사한 결과를 보였으며, 반복 측정을 통해 측정된 결과가 신뢰할 수 있는 결과임을 보였다.

• 대한전자공학회논문지SD
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• 제44권4호
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• pp.73-79
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• 2007

본 논문에서는 트랜잭터를 정형화하고 DUT(Design Under Test)의 다양한 입출력에 따라 자동으로 트랜잭터를 생성해주는 생성기를 구현하였다. 호스트 컴퓨터와 FPGA(Field Programmable Gate Array) 사이의 PCI(Peripheral Component Interconnect) 인터페이스 신호들로 구성된 트랜잭터 프로토콜에 의존하는 블록과 DUT에 의존하는 블록으로 신호들을 재정리 함으로써 트랜잭터를 정형화하고 설계하였다. 구현된 트랜잭터의 자동 생성기는 DUT의 입출력에 관한 정보를 GUI(Graphical User Interface)를 통하여 입력받아 정형화된 하드웨어 블록들을 근간으로 입력정보를 추가하여 각각의 블록들을 만들어 하나의 Verilog 코드로 생성하는 동작을 한다. 자동 생성기의 정상동작을 확인하기 위하여 이미 검증된 하드웨어 블록을 이용하여 생성된 트랜잭터의 정상동작을 입증하였고, 사용자가 직접 설계한 트랜잭터와 비교함으로써 생성된 트랜잭터의 효율성을 입증하였으며 DUT의 다양한 입출력 정보들에 대하여 융통성 있게 동작하는 자동 생성기를 검증하였다. 트랜잭터 자동 생성기를 이용하는 경우 트랜잭터 설계시간을 단축 할 수 있고, 사용자가 트랜잭터 프로토콜를 이해하고 트랜잭터를 설계하는 부담을 줄여 시뮬레이션 속도가 빠른 트랜잭션 레벨 검증모드를 쉽게 사용 할 수 있도록 하였다.

• 전력전자학회:학술대회논문집
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• 전력전자학회 2020년도 전력전자학술대회
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• pp.245-247
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• 2020

본 논문에서는 DUT(Device Under Test) 및 PHIL(Power Hardware-in-the-Loop) 시뮬레이터의 스위칭 주파수 비 및 PWM 위상차에 의하여 발생할 수 있는 문제를 분석하였다. 또한, DUT 인버터의 PWM 특성을 고려한 디지털 필터를 적용하여 PHIL 시뮬레이터의 운전 영역을 확대하였다. 디지털 필터는 DUT 스위칭 주파수의 고조파 성분만을 선택적으로 제거하여 PHIL 스위칭 주파수에 무관하게 일정한 시뮬레이션 결과를 생성할 수 있다. 분석한 내용과 디지털 필터의 변경으로 인한 PHIL 시뮬레이터의 특성은 다양한 조건에서 시행된 실험을 통하여 검증하였다.

• 융합신호처리학회논문지
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• 제12권2호
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• pp.145-149
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• 2011

최근 시스템의 규모가 커지고 복잡해지면서, 시스템 수준에서의 기능 검증방법론이 중요해지고 있다. 기능블록의 검증을 위해서는 주로 BFM(bus functional model)이 사용되며, 기능 검증에 대한 부담이 증가할수록 올바른 검증환경 구성의 중요성은 더욱 증가한다. SystemVerilog는 Verilog HDL의 확장으로 하드웨어 설계언어의 특징과 검증언어의 특징을 동시에 갖는다. 동일한 언어로 설계기술, 기능 시뮬레이션 그리고 검증을 진행할 수 있다는 것은 시스템개발에서 큰 이점을 갖는다. 본 논문에서는 SystemVerilog를 이용하여 AMBA 버스와 기능블록으로 구성된 DUT를 설계하고, 계층적 테스트벤치를 이용한 검증환경에서 DUT의 가능을 검증한다. 기능 블록은 Adaptive FIR 필터와 Booth's 곱셈기를 사용한다. 이를 통하여 검증환경이 DUT와 연결되는 인터페이스의 부분적인 변경을 통하여 다른 하드웨어의 기능을 검증하는데 재사용되는 이점을 가지고 있음을 확인한다.

• 한국전자파학회논문지
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• 제27권5호
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• pp.430-437
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• 2016

일반적으로 잡음 측정결과는 회로망분석기의 측정결과에 비해 상당히 큰 불규칙 리플을 보인다. 이에 대한 주 원인은 회로망분석기는 측정 시에 상대적인 전력의 비를 이용하고, 잡음 측정은 절대적인 잡음전력 측정에 의존하기 때문이다. 본 논문에서는 잡음측정의 불규칙 리플을 최소화하기 위해서 상대적인 잡음비를 이용한 새로운 잡음상관행렬 측정방법을 제안하였다. 제안된 방법은 5개의 입력에 대해 측정된 잡음전력들 중 하나를 기준으로 4개의 상대적인 잡음비를 통해 불규칙 리플을 최소화하고, 이를 이용하여 잡음상관행렬 및 잡음 파라미터를 측정하는 방법이다. 제안된 방법을 이용한 잡음파라미터 측정결과, 수동 DUT인 0.5 dB 감쇠기의 경우, S-파라미터를 이용하여 계산되어진 잡음 파라미터의 이론값과 거의 일치하는 결과를 보였다. 그리고 1 dB 이하의 잡음지수를 갖는 능동 DUT에 대해서도 신뢰할 수 있는 잡음파라미터 측정이 가능함을 보였다.

• Journal of applied mathematics & informatics
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• 제30권5_6호
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• pp.759-772
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• 2012

In this paper, semi-infinite constrained programming, a class of constrained nonsmooth optimization problems, are transformed into unconstrained nonsmooth convex programs under the help of exact penalty function. The unconstrained objective function which owns the primal-dual gradient structure has connection with $\mathcal{VU}$-space decomposition. Then a $\mathcal{VU}$-space decomposition method can be applied for solving this unconstrained programs. Finally, the superlinear convergence algorithm is proved under certain assumption.

• Journal of applied mathematics & informatics
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• 제28권5_6호
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• pp.1249-1262
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• 2010

An approximate alternating linearization decomposition method, for minimizing the sum of two convex functions with some separable structures, is presented in this paper. It can be viewed as an extension of the method with exact solutions proposed by Kiwiel, Rosa and Ruszczynski(1999). In this paper we use inexact optimal solutions instead of the exact ones that are not easily computed to construct the linear models and get the inexact solutions of both subproblems, and also we prove that the inexact optimal solution tends to proximal point, i.e., the inexact optimal solution tends to optimal solution.