• 대한전기학회:학술대회논문집
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• 대한전기학회 2003년도 학술회의 논문집 정보 및 제어부문 B
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• pp.414-416
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• 2003

메모리 제품의 사용 환경은 점차적으로 High Speed/High Density화됨에 따라 현 Comp. Test 환경으로 Field 환경을 모두 수용하기가 어려워지고 있다. 따라서, Component Level에서 다양한 실장 System을 이용한 Screen 방법이 요구 되고 있다. 다양한 환경에서 Test를 실시하기 위해서 필수 불가결한 조건은 온도(Temperature)를 자동으로 제어(Control)할 수 있는 기능이 필요하게 되었다. 이에, 현재 사용하고 있는 방법은 Chamber나 히터를 이용하고 있으나 온도 제어가 보다 용이하고 정밀한 기능이 요구됨에 따라 열전반도체(Thermoelectric semiconductor)원리를 이용한 온도 제어 장치 도입을 위한 연구가 진행되었다. 본 논문에서는 그 개발 현황 및 평가 결과를 근거로 신규 Component실장 Tester에 효율적으로 도입 적용 가능함을 제시 하고자 한다. 또한, 향후 기타 Tester 및 산업용 설비 등에 까지 확대적용 가능함으로써 전자부품(메모리)의 품질 향상 및 설비투자 Cost절감 효과가 기대 된다.

• 전자공학회논문지SC
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• 제47권6호
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• pp.97-104
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• 2010

본 논문에서는 연성회로기판에 실장된 부품의 불량여부를 판별하기 위해 핀 드라이버와 접지 가딩 기법을 적용한 인 서킷검사 시스템을 제안한다. 핸드폰 및 모바일용 디스플레이 장치에 사용되는 연성회로기판 모델의 검사신호의 입/출력을 위한 구조적인 공통 특성을 분석하고, 회로도를 기반으로 인가해야 할 검사 신호의 종류와 인가 위치에 대한 정보를 핀 맵으로 저장한다. 검사 신호는 저항, 콘덴서와 인덕터의 특성 검사가 가능하도록 응용회로와 알고리즘을 구성한다. 특정 위치에 특정 검사신호를 인가하기 위한 핀 드라이버를 설계하고, 핀 맵을 바탕으로 측정 대상이 포함된 최소한의 노드 및 메시가 구성되도록 핀 드라이버를 설정한다. 제안된 핀 드라이버와 접지 가딩 기법을 적용한 인 서킷 검사 시스템을 구현하고, 수동소자 각각에 대한 측정 실험과 선정된 테스트 모델에 대한 검사 실험을 수행하고, 제안된 시스템의 정밀도와 효율성을 검증한다.