1 |
고윤석, "부품이 실장된 전자회로보드의 RLC 병렬 회로 검사 기법에 대한 연구", 대한전기학회논문지, 54권 8호, 2005년 8월
과학기술학회마을
|
2 |
김준식, 이상신, 전병준, "반도체 소자의 DC특성 검사용 회로설계에 관한 연구", 대한통신공학회 저널, 1권 18호, 2004년 1월
|
3 |
주영복, 한찬호, 박길흠, 허경무, "LCD 구동 모듈의 자동기능 검사를 위한 Emulated Vision Tester", 전자공학회논문지, 제46권 SC편, 제2호, 22-27쪽 2009년 3월.
과학기술학회마을
|
4 |
박철영, "VFD에 형성된 박막패턴의 Short/Open 자동검사 시스템 개발", Journal of Computer & Communication, Vol. 1 No. 2 2003년
|
5 |
이용식, 정화자, 김용득, "PCB 검사기의 단락추정 알고리즘에 관한 연구", 대한전자공학회, 학술대회 논문지집(전기/전자공학), 269쪽-272쪽, 1988년 7월
|
6 |
김계국, 서창옥, 신강호,"전자회로의 부품 검사의 속도 개선에 관한 연구", 한국통신학회 논문지, 24권, 1999년 12월
|
7 |
TEXAS INSTRUMENTS, "NA555, NE555, SA555,SE555PRECISION TIMERS", SLFS022F- SEPTEMBER 1973-RESERVED JUNE 2006.
|