In order to investigate the origin of an increase in the coercivity with the Ta addition to Co-Cr films, the perpendicular magnetic anisotropy of Co-Cr film and CoCrTa film was measured by a torque magnetometer and VSM. In Co-Cr binary alloy film, the uniaxial anisotropy increased with increasing Cr content. The perpendicular magnetic anisotropy of $Co_{81.7}Cr_{16.7}Ta_{1.6}$ film was larger than that of $Co_{81}Cr_{19}$ film, both of which were deposited at the same substrate temperature of $100^{\circ}C$. The change in the perpendicular magnetic anisotropy with annealing was studied to understand the Ta addition effect. The amount of decrease in perpendicular magnetic anisotropy of the CoCrTa film by the annealing was larger than that of Co-Cr film. And the perpendicular magnetic anisotripies of Co-Cr film and CoCrTa film after annealing were almost the same. The cause of this was interpretated as the enhanced segregation of solute atoms in the Ta added thin film in the as-deposited state. The enhanced segregation of solute atoms increases the perpendicular magnetic anisotropy of the film, and causes the increase of perpendicular coercivity of the film.
The objective of this paper is to investigate corrosion behaviors of CoCrTa/CrNi thin film and post heat-treatment effect. An electron beam evaporator was used for films deposition. After evaporation, post heat-treatment was carried out under $5.0{\times}10^3$ Torr vacuum condition. Annealing temperature and time were 400 $^{\circ}C$ and 30 min, respectively. To understand the effect of annealing on corrosion behavior of CoCrTa/CrNi, potentiodynamic polarization technique and accelerated corrosion chamber test were undertaken. Corrosion potential is higher for the annealed samples (CoCrTa 400$\AA$/CrNi 1000$\AA$) than for as-deposited one. This is attributed to an enrichment of Cr in the surface layer of the thinfilm resulting in a more corrosion resistant material.
Journal of the Korean institute of surface engineering
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v.34
no.6
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pp.531-536
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2001
Co-22 %Cr alloy films are promising for high-density perpendicular magnetic recording media with their perpendicular anisotropy and large coercivity of 3000 Oe. We observed that a self organized nano structure (SONS) of fine ferromagnetic Co-enriched phase and paramagnetic Cr-enriched phase appears inside the grain of Co-Cr magnetic alloy thin films at the elevated substrate temperature after do-sputtering. The periodic fine Co-enriched phase and Cr-enriched phase is the plate shape of 80 (equation omitted)-wide and 1000 (equation omitted)-long. Cr-enriched phases are located at the center of grains. We prepared 5000 (equation omitted) -thick Co-22 %Cr films on polyimide substrate with varying substrate temperature of $ 30^{\circ}C$, $ 150^{\circ}C$ ,200 $^{\circ}C$, $300^{\circ}C$, and $400^{\circ}C$, respectively. A transmission electron microscope equipped with energy dispersive X-ray analyzer is employed to observe the microstructure of each samples after Co-enri-ched phase are etched selectively. The self organized nano structure of Co-enriched and Cr-enriched lamellar is observed above the substrate temperture of $150^{\circ}C$. No compositional change is observed with substrate temperature. The compositional phase separation in self organized structure becomes clear as the substrate temperature increases. Our results implies that the self organized nano structure in Co-22 %Cr film is ideal for ultra high density recording media by recording selectively on Co-enri-ohed phase.
We have investigated the electronic structures and magnetism of a full Heusler alloy $Co_2CrGa(001)$ surface by using the all-electron full-potential linearized augmented plane wave (FLAPW) method within the generalized gradient approximation (GGA). We considered two types of different terminations: the Co-terminated (Co-Term) and the CrGa-terminated (CrGa-Term) surfaces. From the calculated layer-projected density of states (LDOS), we found that the surface of the CrGa-Term shows nearly half-metallic character while that of the Co-Term is far from the half-metallic. For the Co-Term, the surface Co atom moves down to the bulk region by $0.05{\AA}A$, while the subsurface Cr and Ga atoms move up to the surface layer by 0.05 and $0.01{\AA}$, respectively. For the CrGa-Term, there is a large inward relaxation of the surface Ga atom $(0.07{\AA})$, but the relaxation of the surface Cr atom is very small $(0.01{\AA})$. The relaxations affect not much to the overall shapes of DOS for both terminations, but make the surface states of the surface Cr and Ga atoms for the CrGa-Term shift to higher energy that enhances the nearly half-metallic character of the CrGa-Term. The magnetic moments of the surface $Cr(2.98{\mu}_B)$ in the CrGa-Term and the surface $Co(1.17{\mu}_B)$ in the Co-Term were much increased compared to those of the inner-layers $(1.79\;and\;0.77{\mu}_B)$, respectively, while that of the subsurface Cr atom in the Co-Term was decreased to $1.19{\mu}_B$.
Sputtering conditions and various underlayer such as Al, Cu, Ni, Cr, Ag, Mg, Fe, Co, Pd, Au, Pt, Mo and Hf were investigated for coercivity enhancement of 20 nm Ti/CoCrPt thin films in order to increase the coercivity of the films thinner than 20 nm. Among them, Ag and Mg were effective to increase the coercivity. Particularly 2 nm Ag was very effective to increase the coercivity and nucleation field as well as to reduce ${\alpha}$ value in CoCrPt thin film such that the coercivity of 2 nm Ag/18 nm Ti/10 nm CoCrPt film was 2200 Oe. However, it seemed that other coercivity enhancement mechanism operated in CoCrPt films because Ti (002) preferred texture was not developed with Ag underlayer contrary to a general expectation. And the coercivity and nucleation field were decreased when glass substrate with rougher surface was used.
Effects of Ta addition on Co-Cr pependicular magnetic recording media were studied to obtain high perpen-dicular coercivity at lower substrate temperature. For the purpose. magnetic properties and microstructures of Co-Cr-(Ta) films were studied by varying the Cr contents from 17 to 21 at.% and Ta contents for 0 to 3.2 at.%. Effectiveness of Ta addition in increasing perpendicular coercivity was significant for lower Cr content films. The increasement of perpendicular coercivity was more pronounced for the films deposited on $100^{\circ}C$ heated substrate in the case of ${(Co_{83}Cr_{17})}_{98.4}Ta_{1.6}$ composition. The cause of the increase of perpendicular coercivity was considered due to not the grain refinement effects and the improvement of c-axis alignments but increase of Ta and Cr segregation.
In this study, the magnetic properties of CoCrPt films (far longditudinal recording) on a novel VMn underlayer were measured and compared with similar films on conventional Cr underlayers. It was found that the VMn film had (200) preferred orientation and the lattice constant was about 0.2967 nm, which is slightly larger than that of the Cr film, 0.2888 m. The grain size of the VMn film was 9.8 nm at 30 m thickness, about 39% smaller than that of a similarly deposited Cr. The CoCrPt/VMn films showed higher coercivity in comparison with the CoCrPt/Cr films. The coercivity increase is attributed to the increased Co (11.0) texture, improved lattice matching between Co (11.0) and VMn (200), and lower stacking fault density. V or Mn must have diffused into the CoCrPt magnetic layer uniformly rather than preferentially along grain boundaries. This reduced Ms at higher substrate temperature.
Proceedings of the Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers Conference
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1999.05a
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pp.578-581
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1999
The Co-Cr-Ta films are one of the most suitable candidates for perpendicular magnetic recording media. The facing targets sputtering(FTS) system has a advantage of preparing films over a wide range of working gas pressure on plasma-free substrates. In this study, we investigated the effect underlayers on the growths layers of Co-Cr-Ta recording layers. The Co-Cr-Ta/Ti(CoCr) double layers were deposited with sputter gas pressure$(P_N, 0.3-1mTorr)$ by using FTS apparatus at temperature of$40^{\circ}C~-300^{\circ}C$, respectively. Crystallographic and magnetic characteristics were evaluated by x-ray diffractometry(XRD) and vibrating sample magnetometer(VSM), respectively.
Proceedings of the Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers Conference
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2000.11a
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pp.492-495
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2000
In order to develop an ultra-thin CoCr perpendicular magnetic recording layer, we prepared CoCrTa/Ti double layer for perpendicular magnetic recording media by new facing targets sputtering system, Crystallgraphics and magnetic characteristics of CoCrTa on underlayer substrate temperature have been investigated. Crystallgraphic and magnetic characteristic of thin films were evaluated by X-ray diffractometry(XRD), vibrating sample magnetometer(VSM) and atomic force microscopy(AFM). The coercivity and anisotropy field was increased by increasing under layer substrate temperature, c-axis orientation of CoCrTa magnetic recording layer was improved 8$^{\circ}$ to 5.6$^{\circ}$when under layer substrate temperature was 250[$^{\circ}C$]. Also, through annealing effect for CoCrTa/Ti double layer, it was certain that crystallgraphics and magnetic characteristics was improved.
The CO substitution reactions in the complex, $Cp^*(C_5H_7)$CrCO with $PR_3(PR_3=PMePh_2,\;P(OCH_3)_3,\;PMe_2Ph)$ were investigated spectrophotometrically at various temperatures. For the reaction rates, it was suggested that the CO substitution reaction took place by first-order (dissociative) pathway. Activation parameters in decaline are ${\Delta}H^{\neq}= 21.99{\pm}2.4$ kcal/mol, ${\Delta}S^{\neq}= 8.9{\pm}7.1$ cal/mol·k. Unusually low value of ${\Delta}S^{\neq}$, suggested an ${\eta}^5-S{\to}\;{\eta}^5$-U conversion of the pentadienyl ligand. At various temperature, the rates of reaction for the Cp(pdl)CrCO complexes increase in the order $Cp^*(C_5H_7)$-CrCO < Cp$(C_5H_7)$CrCO < Cp(2,4-$C_5H_{11}$)CrCO, which can be attributed to the usual steric acceration or electronic influence for the ligand substitution of metal complexes. This suggestion was confirmed by the extended-Huckel molecular orbital (EHMO) calculations, which revealed that the energy of $[Cp^*(U-C_5H_7)Cr]^{\neq}$ transition state is about 4.93 kcal/mol lower than that of [Cp(S-$C_5H_7)Cr]^{\neq}$ transition state, and the arrangement of the overlap populations between Cr and the carbon of CO is $Cp^*(C_5H_7)$CrCO > Cp($C_5H_7$)CrCO > Cp(2,4-$C_7H_{11}$)CrCO.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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