• 제목/요약/키워드: Cited-patent Life Time(CLT)

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생존곡선을 활용한 잔존 인용특허 수명 추정에 관한 연구 (The Development of the Method of Determining Remaining Cited-patent Life Time Using the Survival Curve Analysis)

  • 전승표;박현우;유재영
    • 기술혁신학회지
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    • 제15권4호
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    • pp.745-765
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    • 2012
  • 기술가치평가에서 수익접근법을 사용하고자 할 경우 기술의 경제적 수명을 추정하기 위해 기술수명을 파악하는 것은 필수적이다. 2000년대 중반부터 현재까지 국내 주요기관에서 기술의 경제적 수명을 추정하기 위해 제안된 방법들은 기술수명의 한 종류인 인용특허 수명(CLT)을 기반으로 하고 있다. 본 연구는 기술가치평가를 위한 기술의 경제적 수명 추정에 있어 인용특허 수명을 활용하는데, 그 동안 간과되어 왔던 경과기간과 사업화 투자기간의 반영 방법을 개선할 수 있는 새로운 인용특허 수명 분석 방법을 제안하고자 한다. 본 연구는 이미 유형자산의 경제적 수명 추정에서 활발히 활용되고 있는 생존곡선 분석 방법을 인용특허 수명 지수 산출에도 적용함으로써 보다 객관적인 기술수명을 산출할 수 있는 방법을 제공했다. 또한 경과년수별로 인용특허 수명의 잔존 기대 수명을 산출해, 특정 경과년수에 다다른 기술의 기대 수명들을 산출하고 잔존 인용특허 수명(r-CLT)이라고 명명했다.

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피인용특허수명(CLT)기반의 기술의 경제적 수명기간 산출 개선방법에 관한 연구 (An Improved Method for Estimating Technology Life Cycle Based on Cited Patent Life Time(CLT))

  • 김상국;박현우
    • 기술혁신연구
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    • 제20권2호
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    • pp.49-74
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    • 2012
  • 본 연구에서는 기술의 수명주기에 영향을 미치는 요인에 대해 분석하고, 기존 표준모델에서 활용되고 있는 평가지표를 근거로 개별기술의 수명에 영향을 미칠 평가지표를 분석해 이를 정량화하여, 피인용특허수명(CLT)을 기반으로 개별기술의 속성이 반영된 기술수명주기를 산출하는 개선방법을 제안하였다. 본 연구에서 제안한 방법론은 기존 표준모델의 기술수명주기 산출방법인 한계점을 개선할 수 있는 방법으로 평가대상기술 관계자들에게 도출결과에 대한 설득의 용이성과 기존에 비해 보다 합리적인 기준을 제시함으로서 기술수명주기 도출결과의 타당성 및 활용성을 배가시킬 수 있을 것으로 기대된다.

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