• 제목/요약/키워드: Algorithmic Pattern Generator

검색결과 1건 처리시간 0.02초

명령어 분석기를 이용한 고속 메모리 테스트를 위한 병렬 ALPG (An Effective Parallel ALPG for High Speed Memory Testing Using Instruction Analyzer)

  • 윤현준;양명훈;김용준;박영규;박재석;강성호
    • 대한전자공학회논문지SD
    • /
    • 제45권9호
    • /
    • pp.33-40
    • /
    • 2008
  • 메모리의 속도가 빠르게 향상됨에 따라, 고속 메모리를 테스트하기 위한 테스트 장비가 요구되고 있다. 특히 고속 메모리를 사용자가 원하는 명령어를 그대로 사용하여 효율적으로 테스트할 수 있도록 패턴을 만들어 내는 알고리즘 패턴 생성기(ALPG)가 필요하다. 본 논문에서는 고속 메모리 테스트를 위한 새로운 병렬 ALPG를 제안한다. 제안하는 ALPG는 명령어 분석기를 통해 사용자가 실행하고자 하는 명령어를 그대로 사용하여 고속 메모리 테스트를 위한 패턴을 생성할 수 있다.