Journal of the Microelectronics and Packaging Society
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v.22
no.3
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pp.31-38
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2015
In order to achieve a high speed and high quality silicon wafer bonding, the room-temperature direct bonding using atmospheric pressure plasma and sprayed water vapor was developed. Effects of different plasma fabrication parameters, such as flow rate of $N_2$ gas, flow rate of CDA (clear dry air), gap between the plasma head and wafer surface, and plasma applied voltage, on plasma activation were investigated using the measurements of the contact angle. Influences of the annealing temperature and the annealing time on bonding strength were also investigated. The bonding strength of the bonded wafers was measured using a crack opening method. The optimized condition for the highest bonding strength was an annealing temperature of $400^{\circ}C$ and an annealing time of 2 hours. For the plasma activation conditions, the highest bonding strength was achieved at the plasma scan speed of 30 mm/sec and the number of plasma treatment of 4 times. After optimization of the plasma activation conditions and annealing conditions, the direct bonding of the silicon wafers was performed. The infrared transmission image and the cross sectional image of bonded interface indicated that there is no void and defects on the bonded wafers. The bonded wafer exhibited a bonding strength of average $2.3J/m^2$.
Choi, Hyung-Y.;Guerrero, Michael S.;Aquino, Michael;Kwon, Chu-Hee;Shon, Young-Seok
Bulletin of the Korean Chemical Society
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v.31
no.2
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pp.291-297
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2010
This article introduces a facile nanoparticle self-assembly/annealing method for the preparation of nanoisland films. First, nanoparticle-polymer multilayer films are prepared with layer-by-layer assembly. Nanoparticle multilayer films are then annealed at $~500^{\circ}C$ in air to evaporate organic matters from the films. During the annealing process, the nanoparticles on the solid surface undergo nucleation and coalescence, resulting in the formation of nanostructured gold island arrays. By controlling the overall thickness (number of layers) of nanoparticle multilayer films, nanoisland films with various island density and different average sizes are obtained. The surface property of gold nanoisland films is further controlled by the self-assembly of alkanethiols, which results in an increased surface hydrophobicity of the films. The structure and characteristics of these nanoisland film arrays are found to be quite comparable to those of nanoisland films prepared by vacuum evaporation method. However, this self-assembly/annealing protocol is simple and requires only common laboratory supplies and equipment for the entire preparation process.
Journal of the Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers
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v.18
no.8
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pp.714-719
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2005
NiCr thin film was deposited by DC magnetron sputtering on $A;_2O_3$/Si substrate with NiCr (80:20) alloy target. NiCr thin films were annealed at $300^{\circ}C,\;400^{\circ}C,\;500^{\circ}C,\;600^{\circ}C,\;and\;700^{\circ}C$ for 6 hr in $H_2$ after annealing at $500^{\circ}C$ for 6hr in air atmosphere, respectively. To analyze NiCr thin film properties, the changes of its micro structure were Investigated through field emission scanning electron microscope (FESEM). X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) was used to analyze a surface of NiCr thin film. Resistance of NiCr thin film was measured by 4-point probe technique. The generated heats were measured by infrared thermometer through the application of DC voltage (5 V/l2 V). NiCr thin film treated by gradational double annealing process had uniform and small grains. Maximum temperature generated heat by NiCr micro heater was $173^{\circ}C$. We expect that our results will be a useful reference in the realization of NiCr micro heater.
Proceedings of the Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers Conference
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2008.11a
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pp.247-247
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2008
In this work, VOx thin films have been deposited by DC magnetron sputtering method on glass substrate using argon and oxygen gases. We examined the effects of the post annealing temperature on the structural, optical, and electrical variations of VOx films. The films were annealed at temperatures ranging from 300 to $500^{\circ}C$ in steps of $100^{\circ}C$ using RTA equipment in air ambient. The thickness of the film and interface between film and substrate were observed by field emission scanning electron microscopy (FESEM). To analysis the structural properties of VOx with various annealng temperatures, we used XRD method. Also, we investigated the electrical and optical properties of VOx thin films using hall measurement, 4-point probe, and UV-visible methods.
Journal of the Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers
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v.19
no.11
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pp.1020-1024
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2006
Europium$(Eu^{2+}\;or\;Eu^{3+})$-activated calcium aluminium silicate phosphors were synthesized for the first time and the structures and luminescence characteristics of these phosphors were investigated. The phosphors in this study emitted blue, green, and even red light depending on the starting milterials and annealing conditions for synthesis. In addition, the structure was also changed when the different starting materials were used. When $CaCO_3$ was used as a starting material, tetragonal $Ca_2Al_2SiO_7$ was formed. However, pure green light was emitted when the annealing was conducted in reduced atmosphere and red one was emitted by annealing in air. In the case of $CaSiO_3$ as a starting material, triclinic $CaAl_2Si_2O_8$ was formed and only pure blue emission was observed. Moreover, this blue phosphor exhibited higher intensity than that of commercial YAG:Ce phosphor, which showed the possibility of application on the phosphor for new light source such as a UV-LED.
Variations of core loss and coercivity with heat treatment condition have been studied in amorphous ribbon core specimens. All measurements were performed at 10 kHz with a maximum induction of 0.1 T. With increasing annealing time, both core loss and coercivity of core specimens decreased first, reaching minimum values, and increased thereafter. Specimen heat treated in an air showed better soft magnetic properties than those treated in Ar atmosphere. The specimens annealed under magnetic field higher than 6 Oe in radial direction showed reduced core loss and coercivity. The field annealing effects were increased with increasing cooling rate near Curie temperature of the material. The specimen annealed under an applied field in perpendicular direction of the core showed increased coercivity and decreased permeability.
Proceedings of the Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers Conference
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2007.06a
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pp.261-262
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2007
In this study we present the effect of annealing temperatures on the structural, electrical and optical characteristics of Ga-doped ZnO(GZO) films. GZO target have been deposited on corning 7059 glass substrates by DC sputtering. GZO films were annealed at temperatures of 400, 500, $600^{\circ}C$ in air ambient for 20 min. Experimental resulted in as-grown film shows the resistivity of $6{\times}10^{-1}\;{\Omega}{\cdot}cm$ and transmittance under 85%, whereas the electrical and optical properties of film annealed at $500^{\circ}C$ are enhanced up to $1.9{\times}10^{-3}\;{\Omega}{\cdot}cm$ and 90%, respectively.
The crystallization process and the electrical properties of amorphous tin-doped indium oxide (ITO) films have been studied in contrast with those of undoped indium oxide (IO) films. Amorphous ITO and IO films were prepared by magnetron sputtering succeeded by annealing in the air at various temperatures. ITO films showed higher crystallization temperature compared with that of IO films, suggesting an excess free energy caused by the repulsion between the active donors ($Sn^{4+}$). The analysis of the electrical properties alternated with the phased annealing of films provided essential information for understanding the conduction mechanisms of ITO. It was also revealed that the amorphous IO/ITO films showed oxidation around $100^{\circ}C$ in contrast with crystalline IO/ITO films with the oxidation temperature above $200^{\circ}C$.
$TiO_2$ thin films for solar energy utilization were prepared on ITO coated glass by r.f magnetron sputtering with variations of working pressure, oxygen flow rate and annealing temperature. Ion insertion and extraction reaction, and ion storage properties of films were investigated by using a cyclic voltammetry. Transmittance of thin films in as-prepared, colored and bleached states was measured by UV-VIS spectrophotometer. The samples deposited in our sputtering conditions showed poor electrochromic properties. Improvement in ion storage properties of $TiO_2$ thin film was observed after annealing at temperature of $400^{\circ}C$ in air for 2 hours. It was found that $TiO_2$ thin film in electrochromic device could be used as a passive counter-electrode.
Journal of the Korean Society of Fisheries and Ocean Technology
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v.30
no.4
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pp.350-356
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1994
We have prepared superconducting Bi-Pb-Sr-Ca.Cu-O thin films by RF magnetron sputtering technique, on heated MgO(100) substrates. Sputtering was carried out in a mixture of argon and oxygen(10%) and the pressure was maintained at 5 mTorr during deposition. The substrate temperature was maintained $400^{\circ}C$ during deposition. The films sputtered were amorphous and insulating. All the films became superconducting by annealing, The films annealed at $880^{\circ}C$ for 30 minutes in air showed high-Tc phase with zero resistivity of 93K. These results indicate that the growth of the high-Tc phase is promoted by the presence of Pb at annealing temperature.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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